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全自動多目的粉体X線回折装置:
XRDynamic 500

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  • 独創的:クラス最高の分解能とS/N比
  • TruBeam™コンセプト:大型のゴニオメーター半径、真空ビームパス
  • 完全自動化:X線光学系とビーム配置の変更
  • 効率性:装置の稼働率が最大50%向上
  • セルフアラインメント調整:最大限の利便性を追求した装置とサンプルステージ

XRDynamic 500は、卓越したXRDデータ品質と最大限の効率性を実現します。粉体XRD、非大気下XRD、PDF解析、SAXSなどの最適なソリューションにより、幅広いアプリケーションをカバーできる多目的プラットフォームです。  直感的な操作性と、完全に自動化された光学系のアライメントルーティンにより、初心者から熟練者まで、誰もがエラーを最小限に抑えながら、最高品質のXRDデータを迅速に収集することができます。XRDynamic 500:Driving XRD

メリット

XRDynamic 500のTruBeam™コンセプトは、大型のゴニオメーター半径、真空ビームパス、完全に自動化されたX線光学系/ビーム配置の変更機能を組み合わせ、卓越したデータ品質を実現します。直感的に使えるソフトウェアと最適化されたワークフローにより、さまざまな装置構成で多様なサンプルを測定できます。標準のBragg-Brentano構成で、クラス最高の角度分解能(1番目のLaB₆標準ピークでFWHM <0.021°)を達成します。測定バックグラウンドを最大50%低減し、空気散乱を最小限に抑えることで、優れたS/N比を実現しています。最適化された非大気下でのXRD測定用の構成、またはSAXS専用機と同等の品質を備えたSAXS測定の構成にすばやく切り替えることができます。

複数のビームパス
複数のビームパス
  • 最大3種類のビーム配置をワンクリックで切り替え可能
  • ユーザーの介入なしに別の測定を連続して実行
  • 時間の節約: 装置の使用率が最大50 %向上

課題

多くの回折装置では、各測定配置ごとにユーザーが部品を交換する必要があります。まったく異なる2つの測定を連続して行うには、装置を開けて手動で設定を変更しなければなりません。

解決法

モーター駆動の光学スタックにより、ボタンをクリックするだけで最大3つのビーム配置を切り替えることができます(使用するX線管の種類に関わらず可能)。独自のX線源チルト軸により、すべての配置のアライメントを正確かつ自動的に実行できます。

利点

最大3種類のビーム配置を自動で切り替えることにより、部品の交換やユーザーの入力なしで、異なる(または同じ)サンプルに対してまったく異なるタイプの測定を連続して行うことができます。複雑な測定バッチを夜間や週末にユーザーの介入なしに実行することで、装置の稼働率を最大50 %向上させることができます。

自動化された光学系
自動化された光学系
  • すべての光学系の自動化
  • 効率が上がり、エラーが減少します
  • すべてのユーザーに高品質のデータを

課題

適切な光学系を選択するには、部品を交換したり、測定ソフトウェアを使用して手作業で測定条件を更新したりする必要があります。これは時間がかかる作業で、エラーの原因にもなります。また、経験の浅いユーザーが高品質なXRDデータを日常的に収集するためには、監督者や広範なトレーニングが必要です。

解決法

ビームパス内のすべての光学部品の動作を完全に自動化することで、ワンクリックで装置構成を変更することができます。実際に部品を交換したり、ユーザーが介入したりする必要はありません。

利点

適切な光学系に自動で切り替え、常に現在の設定を認識することで、時間を節約しユーザーエラーの可能性を減らすことができます。測定のセットアップは、XRDに慣れていないユーザーでも直感的かつ簡単に実行できるようになっています。

自動アライメント
自動アライメント
  • サービスエンジニアを必要としない自動アライメント
  • あらゆる測定構成に対応する自動アライメント
  • 各サンプルの自動アライメント

課題

回折装置、特にX線光学系の調整には専門的な知識が必要であり、サービスエンジニアによるアライメントが必要になる場合もあります。経験の浅いユーザーにとっては、サンプルのアライメントが難しい場合もあります。

解決法

完全に自動化されたアライメントルーティンにより、装置によるセルフアライメントをいつでも実行できます。サンプルの自動アライメントルーティンは、あらゆるサンプルで使用することができます。

利点

サービスエンジニアに頼らず、装置自身にアライメントさせることができます。常に装置(及びサンプル)は完璧にアライメントされているため、最高品質のデータが得られ、稼働時間の最大化と所有コストの削減を実現できます。

直感的な操作
直感的な操作
  • 直感的で最適化された測定ワークフロー
  • 初心者にも熟練者にも使いやすい
  • ユーザートレーニング時間の短縮

課題

従来の回折装置は複数のコンポーネントが複雑に配置されているように見えるため、経験の少ないユーザーにとって扱うのが難しいと思われていました。また、経験豊富なユーザーにとっては、測定条件や装置構成の設定に時間を費やさなければならず、より重要な作業に集中できない場合もあります。

解決法

インテリジェントに自動化されたXRDynamic 500とXRDdriveコントロールソフトウェアは、初心者から熟練者まで幅広いユーザーが満足できる柔軟性と直感的操作性を実現しています。

利点

XRDynamic 500の自動化のメリットを最大限に活かした合理的なワークフローを利用できます。ソフトウェアが測定手順をガイドしてくれるため、熟練者も初心者も、思い通りの作業を行いながら、常にクラス最高のデータ品質を得ることができます。

TruBeam™
TruBeam™
  • 常に完璧なX線ビームを提供する新しいビームコンセプト
  • クラス最高のデータ品質
  • 最高の測定効率

課題

データ品質や測定時間を犠牲にすることなく、常に最適なビームと装置構成で作業するにはどうすればよいでしょうか。

解決法

独自のTruBeam™コンセプトは、Primux 3000 X線源、大型のゴニオメーター半径と真空光学系、ビーム配置と光学系構成の自動切り替え、装置とサンプルの自動アライメントを、ひとつの完璧なパッケージにまとめています。

利点

すべてのユーザーが、常にあらゆるサンプルで卓越した測定性能を経験でき、高い分解能、多様なオプション、測定効率の向上というメリットを得ることができます。

卓越した分解能
卓越した分解能
  • 測定分解能が20 %以上向上
  • 高価な光学系を購入せずに、優れた分解能を実現可能
  • 大型のゴニオメーター半径を標準装備

課題

多くのラボ用回折計のゴニオメーター半径は240~300 mmであるため、高価な光学系を使用せずに到達できる最大分解能には限界があります。それに伴う強度低下を受け入れる必要があります。

解決法

XRDynamic 500は、標準で360 mmまたは400 mmの大型のゴニオメーター半径を採用し、真空光学系と小さな検出器ピクセルサイズを備えて

利点

従来の回折装置と比較して、XRDynamic 500は真空光学系を採用しているため、測定強度を損なうことなく、標準的なBragg-Brentano測定の測定分解能が20 %向上しています。

最高のS/N比
  • 卓越したS/N比
  • 測定時のバックグラウンドを50 %低減
  • 空気散乱の影響を排除

課題

良好なS/N比を実現し、優れたデータ品質を得るには、通常、長時間の測定を行う必要があります。

解決法

光源から検出器までのビームパスを完全に真空にすることで、空気散乱を防ぐ真空光学系を採用しています。

利点

測定時のバックグラウンドが50 %低減し、卓越したS/N比を実現することで、最高品質のデータと測定時間の短縮を実現します。

測定速度
測定速度
  • 高いサンプルスループットと優れたデータ品質
  • 高強度測定モード
  • インテリジェントな自動化によるワークフローの高速化

課題

多くの装置では、データの質を高めるために測定速度を犠牲にしています。

解決法

XRDynamic 500は、TruBeam™により、どのような測定構成であっても、常に卓越したデータ品質とプライマリビーム強度を提供します。さらに、装置構成の変更やアライメントルーティンなど、さまざまなワークフローの自動化も含まれています。

利点

データ品質を犠牲にすることなく測定時間を短縮し、サンプルのスループットを向上させることができます。インテリジェントな自動化により、装置の前に座っている時間を減らし、その他の重要な業務に集中できる時間を増やすことができます。

X線源
X線源
  • XRDやSAXSに適したパワフルなPrimux 3000X線源
  • 数分でX線管を交換可能
  • すべての条件下で最高のプライマリビーム強度

課題

X線管の交換は複雑であるため、常に最適なX線管を使用することは容易ではありません。また、X線源と光学系のアライメントなしに異なるX線光学系を使用する場合は、プライマリビーム強度を犠牲にしなければなりません。

解決法

Primux 3000 X線源のインテリジェントな設計により、必要に応じてX線管を迅速に交換できます。また、X線源と光学系の組み合わせごとにアライメントの自動調整が可能です。

利点

X線源でのサンプルの蛍光などの問題を解決できます。X線管の交換、自動アライメント調整、新しい波長での再測定を15分以内に行うことができます。すべての測定配置の精密なアライメントにより、常に最高のプライマリビーム強度を得ることができます。

X線光学系
  • 高強度多層膜X線光学系
  • 平行ビームと集束ビーム配置
  • S/N比を最大化するモノクロメーター

課題

サンプルやアプリケーションによっては、ビームを整形する光学系(平行ビームまたは集束ビーム)が必要になります。また、Kβピークの抑制やバックグラウンドの低減のためにモノクロメーターが必要になることもあります。

解決法

電動光学系スタックには様々な多層膜モノクロメーター、平行ビーム、集中光学系を搭載でき、ワンクリックで選択できます。最適化された取出し角により、すべての光学部品の正確な自動アライメントを実現しています。特殊なNi/C多層膜オプティクスは、Cu及びCo光源用のKβフィルタリングを可能します。

利点

すべての光学系で可能な限りの高強度を実現し、測定時間を短縮できます。優れたS/N比と卓越した分解能により、最高品質のデータが得られます。

検出器
  • 最新のピクセル検出器技術による0Dまたは1Dモード
  • 小さなピクセルサイズで高分解能を実現
  • エネルギーフィルタリング

課題

高品質なXRDデータを得るには、優れた分解能とS/N比を実現できる検出器が必要です。

解決法

Advacamの最先端の光子計数技術を採用したPixos検出ユニットは、0Dまたは1Dモードでの測定を可能にします。XRDynamic 500には、すべての波長をカバーするSiまたはCdTeセンサー、アクティブなエネルギーフィルタリング、市場最小のピクセルサイズ(55 µm x 55 µm)といった特徴があります。

利点

検出器の小さなピクセルサイズは、XRDynamic 500の拡大されたゴニオメーター半径と組み合わせることで、すべての波長で最大測定分解能を向上させます。また、Pixos検出ユニットには、優れたエネルギー分解能(インテリジェントなエネルギーフィルタリング機能付き)、直線性、効率性が備わっています。

サンプルステージ
  • すべてのアプリケーションに対応する柔軟性
  • ハイスループットを実現するサンプルチェンジャー
  • 優れた位置安定性

課題

さまざまなアプリケーションを処理するには、適切なサンプルステージを用意する必要があります。

解決法

豊富なサンプルステージは、粉体や固体サンプルの反射や透過の測定を可能にし、サンプルチェンジャーのオプションもあります。

利点

豊富なサンプルステージを使用して、さまざまなサンプルタイプを測定できます。コンポーネント認識機能により、すべてのステージがプラグ&プレイモードで動き、すべてのアプリケーションをすばやく習得することができます。

サンプルホルダー
  • 豊富なサンプルホルダー
  • あらゆるサンプルタイプに対応するソリューション
  • 散乱強度が低い敏感な物質用に最適化されたホルダー

課題

真の多目的回折装置は、あらゆる種類のサンプルに対応する必要があります。

解決法

粉体、固体、フィルム、繊維、ゲル、ペースト、液体など、あらゆるタイプのサンプルに対応できるように、各種のサンプルホルダー を用意しています。

利点

反射法や透過法では、サンプルに合わせて最適化されたサンプルホルダーを常に使用することができます。XRDynamic 500は、有機物や無機物、また空気や水分に敏感なサンプルにもソリューションを提供します。

非大気下XRD
  • 非大気下でのXRDが容易に
  • プラグ&プレイのステージ機能
  • すべてのステージに対応する温度制御ユニット(CCU)を内蔵

課題

非大気下でのXRD測定のセットアップは、複雑な作業で時間がかかります。 一般的には、外部の制御ユニットと接続するために、多くのケーブルやホースを装置のハウジングに通す必要があります。

解決法

アントンパール社のすべての非大気型in-situステージに対応したCCU制御ユニットを内蔵している、プラグ&プレイの非大気ステージ機能を利用します。すべての非大気要件に対して、装置ハウジング内の便利な接続を利用できます。

利点

XRDynamic 500では、非大気下での実験を他の測定と同様に簡単に行うことができ、すぐに非大気下での構成に変更することができます。内蔵CCUにより、煩雑さが軽減され、別の非大気アタッチメントのために複数の制御ユニットが必要になることもありません。

SAXS
SAXS
  • スタンドアローン装置レベルのSAXSデータ
  • 光源から検出器まで完全に真空化されたビームパス
  • 最小qmin = 0.05 nm⁻¹

課題

XRD装置での小角X線散乱(SAXS)測定では、通常、限られた品質のデータしか得られません。実際に高品質のSAXS測定を行うには、SAXS専用機が必要です。

解決法

XRDynamic 500とEVACモジュールの組み合わせは、完全に真空化されたビームパスと専用のSAXS光学系を備え、qmin = 0.05 nm⁻¹を実現します。 

利点

XRD装置で小角専用機レベルのSAXS測定が可能になります。1台の装置で、最高品質のXRDデータとSAXSデータを得ることができます。

技術仕様

X線源
線源の種類Primux 3000
X線発生装置最大3 kW
管電圧 / 電流20~60 kV / 2~50 mA
ゴニオメーター
構成垂直シータ/シータジオメトリ
ゴニオメータ半径360または400 mm
最大角度範囲-95°~162.5° 2θ
最小ステップ0.0001°
2θリニアリティ≦0.01°
最高角速度15 °/sec
角度分解能0.021°(1番目のLaB₆ピークのFWHM)
サンプルステージとアタッチメント
大気下サンプルステージ固定サンプルステージ
サンプルスピナーステージ(反射/透過)
XYステージ(オートサンプラーオプション付き)
キャピラリースピナーステージ
EVACモジュール
非大気下アタッチメントHTK 1200N
HTK 16N/2000N
HTK 1500
TTK 600
XRK 900
CHC plus⁺
BTS 150/500
検出器

ソリッドステートハイブリッドピクセル検出器:

  • Pixos 2000検出器(0Dおよび1Dモード)
  • 高エネルギーX線用Pixos 2000 CdTe検出器(0Dおよび1Dモード)
ソフトウェア
  • XRDdrive:システム制御およびデータ収集ソフトウェア
  • XRDanalysis:定性・定量的な相解析、微細構造解析、リートベルト精密化のためのデータ処理・解析ソフトウェア
  • XRDview:データプロットおよび可視化パッケージ
  • XRDynamic 21 CFR Part 11パッケージ:規制環境での作業と米国のFDA 21 CFR Part 11規制への準拠をサポート
一般仕様
外寸(幅×奥行×高さ)1350×1160×1850 mm
重量(オプションのアクセサリーを除く)750 kg
電源三相:3/N/PE AC 400/230 V、50~60 Hz、25 A
単相:208〜240 VAC、50〜60 Hz、36 A
最大消費電力
(オプション機器用の追加コントローラーを除く)
5.5 kW
冷却水供給流量:>3.6 L/min、   圧力:4.5~6 bar、温度:< 25 °C

アントンパール認定サービス

サービスとサポートにおけるアントンパールの品質:
  • 世界各地に350名以上のメーカー認定の技術者がいます。
  • お客様の言語でサポート
  • ライフサイクル全体にわたる資産の保護
  • 3年保証
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HEATING STRIP PLATINUM 102x10x1 mm

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品番号: 71599
製品の詳細
Heating strip made of pure platinum with thickness 1 mm. Strip delivered with welded Pt-10%RhPt thermocouple.

HEATING STRIP PLATINUM 102x10x0.5 mm

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品番号: 71600
製品の詳細
Heating strip made of pure platinum with thickness 0.5 mm. Strip delivered with welded Pt-10%RhPt thermocouple.

REFLECTION SAMPLE HOLDERS FOR XY-6 STAGE (1 SD, 3 pcs)

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品番号: 238306
製品の詳細
Set of 3 front loading sample holders for XRD studies in reflection geometry with the XY stage for 6 samples (20 mm inner diameter, 1 mm sample depth, made of stainless steel).

REFLECTION SAMPLE HOLDERS FOR XY-12 STAGE (2.5 SD, 6 pcs)

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品番号: 238307
製品の詳細
Set of 6 front loading sample holders for XRD studies in reflection geometry with the XY stage for 12 samples (20 mm inner diameter, 2.5 mm sample depth, made of stainless steel).

REFLECTION SAMPLE HOLDERS FOR XY-12 STAGE (1 SD, 6 pcs)

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品番号: 238308
製品の詳細
Set of 6 front loading sample holders for XRD studies in reflection geometry with the XY stage for 12 samples (20 mm inner diameter, 1 mm sample depth, made of stainless steel).

300℃以下使用対応アップグレードパーツ

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品番号: 25375

SAMPLE CARRIER FLAT MADE OF PLATINUM FOR HTK OVEN CHAMBER

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品番号: 266265
製品の詳細
Spare sample carrier without cavity made of Platinum.

SAMPLE CARRIER 0.8mm DEEP MADE OF PLATINUM FOR HTK OVEN CHAMBER

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品番号: 266263
製品の詳細
Spare sample carrier with a cavity of 0.8 mm depth made of Platinum.

高温チャンバー:
HTK 1500 

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品の詳細
  • 25~1,500 °Cに対応した「真の」環境ヒーター
  • お客様の実験に最高の温度精度を提供
  • 反射測定から透過測定への迅速な切り替え
  • 各種ガス雰囲気での測定の実施
  • 多目的回折計XRDynamic 500を完璧に補完

さらに詳しく

SPARE PARTS XRDynamic 500

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品番号: 247108
製品の詳細
Spare parts for XRDynamic 500, including:
- set of O-rings
- set of window foils for primary and secondary optics units
- Vacuum grease

密閉管X線源:
Primux 3000 

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品の詳細
  • 高度なX線分析を可能にする強力なX線源
  • 多種多様な陽極材料を使用可能
  • X線管の交換や焦点タイプの変更が容易

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先進のXRD光学系

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品の詳細
  • 高強度多層膜X線光学系
  • あらゆる波長に適した平行ビームと集束ビームの光学系
  • 一次モノクロメーターによる最大限のKβ除去性能

さらに詳しく

XRD検出ユニット:
Pixos 

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品の詳細
  • 最新のCERNピクセル検出器技術を採用し、高度なノイズリダクションを実現
  • 0Dまたは1Dモードでの測定、選べるセンサ材質
  • 極めて優れた解像度のための最小ピクセルサイズ(55µm×55µm)  
  • エネルギーフィルターで測定バックグラウンドをさらに低減

さらに詳しく

XRDynamic 500用サンプルステージとサンプルホルダー

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品の詳細
  • あらゆるアプリケーションに対応する汎用性の高いサンプルステージ
  • ハイスループット測定のためのサンプルチェンジャーオプション
  • オペランド電池測定用ステージ
  • サンプルの種類に応じた豊富なサンプルホルダー

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高分解能SAXSおよびXRD用真空チャンバー:
EVACモジュール 

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品の詳細
  • 完全に真空化されたビームパスによる卓越したS/N比
  • スタンドアローンSAXS専用機の品質で測定できるSAXS光学系
  • 反射法または透過法の高分解能XRD測定に適しています。
  • 2θ範囲の制約を受けずに測定

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低温チャンバー:
TTK 600 

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オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品番号: 159900

高温ストリップヒーターチャンバー:
HTK 16N | HTK 2000N 

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品の詳細
  • 1,600 °C または 2,300 °C までのその場XRD研究をサポートします
  • 安定した加熱フィラメントの位置決めによるサンプル変位の最小化
  • デュアル熱電対による精密な温度制御と最小の勾配
  • 高品質の材料を使用した耐久性のあるデザインと迅速で簡単なサンプル交換

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低温・高湿チャンバCHC plus+は、汎用のCHC低温・高湿チャンバに高度な湿度(RH)発生器を組み合わせた独自の製品です。X線回折を使用して、湿度または温度に依存する材料の構造変化を分析できます。

低温・高湿チャンバー:
CHC plus⁺ 

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オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品番号: 79710
Reactor Chamber: XRK 900

反応チャンバー:
XRK 900 

さらに詳しく
オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品番号: 84851
ベンチトップ加熱ステージ: BTS 500

ベンチトップ加熱ステージ:
BTS 150 | BTS 500 

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品の詳細
  • ベンチトップXRDアプリケーションに最適化されたコンパクトで特許取得済みのデザイン
  • 温度制御範囲:-10 °C ~ +150 °C (BTS 150)、最大 500 °C (BTS 500)
  • サンプル近くのセンサーによる迅速で正確な温度制御
  • 簡単なサンプル処理、アライメント、およびUSB経由のリモートコントロール

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高温チャンバー: 1200 °Cまでの様々な雰囲気下でのIn-Situ X線回折研究に適した堅牢な設計のHTK 1200N

高温オーブンチャンバー:
HTK 1200N 

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品の詳細
  • さまざまな雰囲気で1,200 °Cまでのその場XRD研究をサポートします
  • 優れた均一性を持つ正確で信頼性の高い温度測定
  • データ品質向上と柔軟なサンプルキャリアのためのサンプルスピニングオプション
  • 耐久性があり、コンパクトなデザインで、ほとんどのゴニオメーターに対応 
     

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XRDソフトウェア:
XRDanalysis 

オンライン限定価格 | 税抜税込 0消費税
納期: %1$s~%2$s営業日 %1$s~%2$s週間 %1$s~%2$sか月
製品の詳細
  • 粉末回折解析用の汎用ソフトウェアパッケージ
  • 検索/照合機能による迅速で正確な相同定
  • 照合結果の相または手動で読み込んだ相によるリートベルト解析
  • バッチ解析を含む最適分析ワークフローにより、解析作業のスピードアップと簡素化を実現

さらに詳しく