自動化多用途粉末 X-Ray 繞射儀：
XRDynamic 500

在許多散射儀中，欲切換各種測量幾何形狀需要使用者更換零件。只有在打開儀器以手動變更配置後，才能按順序執行兩種完全不同類型的測量。

藉由電動光學元件堆棧，一鍵即可在多達 3 種光束幾何結構之間切換（適用於所用的任何類型的 X-Ray管）。獨特的源傾斜軸可精確和自動地對齊每個幾何形狀。

在多達 3 種光束幾何形狀之間自動切換，可以在不同（或相同）樣品上按順序運行完全不同類型的測量，而無需更換零件或任何使用者輸入。藉由在夜間和週末運行複雜的測量批次來增加儀器的正常運行時間高達 50 %，而無需任何使用者介入。

選擇正確的光學元件，通常意味著需要更換組件並在測量軟體中手動更新測量配置。這很耗時，可能會導致許多錯誤，並且需要對經驗不足的使用者進行監督或大量訓練，以便其定期收集高品質的 XRD 資料。

光束路徑中所有光學組件的完全自動化，使變更儀器配置只需一鍵。無需物理更換零件或使用者介入。

透過自動切換到正確的光學元件並始終識別當前配置，節省時間並減少使用者出錯的機會。即使是剛接觸 XRD 的使用者，測量設定也非常直觀和直接。

繞射儀的對齊 (尤其是 X-Ray 光學元件的對齊) 需要專業知識，甚至專人到府服務。對於沒有經驗的使用者來說，樣品對齊也很困難。

全自動儀器對齊程序可隨時執行儀器自對齊。自動樣品對齊程序可用於每個樣品。

無需到府服務並讓儀器自行對齊。確保儀器 (和樣品) 始終完美對齊以獲得最佳品質的資料，從而最大限度地延長正常運行時間並降低擁有成本。

傳統的繞射系統通常看起來是由多個組件組成的複雜陣列，這對新手使用者來說可能會令人望而生畏。有經驗的使用者可能需要花費大量時間來設定測量計劃和儀器配置，進而忽視了更重要的任務。

XRDynamic 500 和 XRDdrive 控制軟體可無縫結合直接的儀器操作和直觀的工作流程，藉助智慧自動化控制所需細節量。

享用簡化的工作流程，最大限度地發揮 XRDynamic 500 自動化的優勢。指導使用者完成測量的軟體，使專家和新手都能按自己想要的方式工作，同時始終相信一流的資料品質。

您如何確保始終使用最佳光束和儀器配置，而不會在資料品質或測量時間上做出犧牲？

獨特的 TruBeam™ 概念，把 Primux 3000 X-Ray 源、大測角儀半徑和真空光學元件、光束幾何形狀和光學元件配置的自動切換以及自動儀器和樣品對齊統統整合到一個完整的套件中。

每位使用者都能為每個樣品實現出色的測量效能，並從更高解析度、更多選項和更高效率中受益。

許多繞射儀提供 240 - 300 mm 的測量半徑，這會限制可實現的最大解析度，但無需使用昂貴的光學元件。您必須對隨之而來的強度損失做出妥協。

XRDynamic  500 提供更大的測角儀半徑 360  mm 或 400  mm 作為標準，具有真空光學元件和偵測器的小像素尺寸。

與傳統繞射儀相比，XRDynamic 500 由於採用真空光束路徑，為標準 Bragg-Brentano 測量提高測量解析度 20 %，而不影響測量強度。

為了實現良好的訊噪比，並因此獲得出色的資料品質，通常必須以較長的計數時間進行測量。

受益於真空光學元件以阻止寄生空氣散射，並可選擇從源到偵測器的完全真空光束路徑。

將測量背景減少 50 % 並受益於無敵的訊噪比，以獲得最佳品質的資料和更短的測量時間。

對於許多儀器，資料品質是以犧牲測量速度為代價的。

藉由 TruBeam™，無論何種測量配置，XRDynamic 500 都能始終提供出色的資料品質和主光束強度。此外，還包括各種工作流程的自動化，如變更儀器配置和對齊程序。

在不犧牲資料品質的情況下減少測量時間，以提高樣品處理量。智慧自動化意味著坐在儀器前的時間更少，而有更多時間專注於重要的事情。

始終使用最佳 X-Ray 陽極管並不容易，因為更換 X-Ray 管通常很複雜。此外，在使用不同的 X-Ray 光學元件時，由於光源與光學元件的對齊欠佳，必須在主光束強度上做出犧牲。

Primux 3000 X-Ray 源的智慧設計，允許在需要時快速更換 X-Ray 管。每個源和光學組合的自動對齊是可行的。

在源的位置處理樣品螢光等問題。在 < 15 分鐘內更換 X-Ray 管，自動對齊，並用新波長重新測量。由於每個測量幾何形狀的精確對齊，始終享用最大的主光束強度。

對於某些樣品或應用，需要光束整形光學元件（平行或聚焦光束）。此外，可能需要單色器來抑制 Kβ 峰值並減少測量背景。

各種多層單色器、平行光束和聚焦光學元件，可以安裝在電動光學元件堆棧中，只需一鍵即可選擇。每個光學元件的精確、自動對齊，是透過最佳化的出射角度實現的。特別的 Ni/C 多層光學元件為 Cu 和 Co 源提供固有的 Kβ 過濾。

受益於所有光學元件的最高強度，以減少測量時間。卓越的訊噪比和出色的解析度確保了最高品質的資料。

高品質的 XRD 資料需要能夠提供出色解析度和訊噪比的偵測器。

Pixos 偵測單元搭載 Advacam 的尖端光子計數技術，可在 0D 或 1D 模式下進行測量。XRDynamic 500 可選擇 Si 或 CdTe 感測器以覆蓋所有波長、射線源能量過濾和市場上最小的像素尺寸 (55 µm x 55 µm)。

結合 XRDynamic 500 更大的測角儀半徑，偵測器的小像素尺寸提高了每個波長的最大測量解析度。Pixos 偵測單元還提供出色的能量解析度（具有智慧能量過濾）、線性度和效率。

處理不同的應用要求取決於是否有合適的樣品台可用。

多功能樣品台可實現反射下測量和使用自動進樣器選項傳輸粉末或固體樣品。

不同的樣品類型可以使用各種樣品台進行測量。藉由組件識別，每個樣品台都可以在即插即用模式下工作，以快速掌握所有應用。

真正的通用散繞射儀需要處理所有類型的樣品要求。

一系列樣品架 代表每種類型的樣品 都有一個可用的樣品架 - 粉末、固體、薄膜、纖維、凝膠、漿糊或液體。

受益於始終使用在反射或透射方面針對樣品進行最佳化的樣品架。無論是有機還是無機，甚至是對空氣或濕氣敏感的樣品，XRDynamic 500 都能提供解決方案。

設定非環境 XRD 實驗可能既複雜又耗時。通常需要將許多電纜和軟管送入儀器外殼以連接外部控制元件。

享用即插即用的非環境樣品台功能，該功能採用單個內建 CCU 控制元件，可與所有安東帕非環境樣品台配合使用。受益於儀器外殼中便利的連接，以滿足所有非環境要求。

XRDynamic 500 使非環境實驗與執行任何其他測量一樣簡單，因此您可以立即重新配置為非環境配置。內建 CCU 減少了雜亂，並避免了對不同非環境附件的多個控制元件的需要。

衍射儀上的小角度 X-Ray 散射 (SAXS) 測量通常只能提供品質有限的資料。對於真正高品質的 SAXS 測量，需要使用 專用儀器 。

XRDynamic 500 與 EVAC 模組 的組合，提供了一個完全真空的光束路徑和專用的 SAXS 光學元件，以實現 0.05 nm⁻¹ 的 q_min。 

受益於繞射儀上真正的 SAXS 測量。只需一台儀器即可提供最高品質的 XRD 和 SAXS 資料。