粒徑分析儀

粒徑分析儀

只需按一下按鈕即可進行粒子分析

雖然粒子體系可能非常複雜,粒子測量卻不用這麼複雜。從三種不同的技術中選擇,分析從奈米到毫米範圍內的粒子特性。

  • Litesizer DLS 系列利用光散射技術,可以測定粒徑,還可以測定 zeta 電位、透射率、分子量及液體分散中奈米粒子及微粒的折射率。
  • PSA 系列使用雷射繞射 (LD) 技術,測量微米及毫米範圍內的液體分散體以及乾粉中的粒徑。
  • 由於 Litesizer DIA 500 基於動態圖像分析,因此可以提供粒子形狀以及粒徑的資訊。此外,透過我們強大的不同色散裝置組合,可以獲得全面的測量靈活性。
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三種技術讓您無往不利

透過不同的技術,Litesizer DLS 系列、PSA 系列和 Litesizer DIA 500 可測量較低奈米到毫米範圍的粒徑。可根據您的需求選擇正確的技術。

使用 PSA 儀器可在濕式或乾式分散模式下分析尺寸達毫米級的粒子。您可以使用 Litesizer DLS 裝置進行分析液體分散體,但僅能分析到奈米範圍。有了 Litesizer DIA 500,您還可以使用液體、重力落下或壓縮空氣分散裝置來確定粒徑和形狀資訊。

Litesizer 系列:兩部儀器,多達五種分析功能

除了測定粒度,Litesizer™ 粒度分析儀還具有其他分析選項,如測定 zeta 電位、分子量、透光率及折射率。

PSA 系列:適用於液體和乾燥樣品的一種儀器

PSA 儀器是市面上唯一可在一台儀器內全面整合濕式及乾式分散模式的粒徑分析儀。只需輕點滑鼠,即可切換兩種測量模式,不需更換硬體、重新驗證或重新校準光路,節省您的時間並防止錯誤操作。

Litesizer DIA 500:一台儀器,三個分散裝置

使用 Litesizer DIA 500,僅需幾秒鐘便可測量粒徑並獲得數百萬顆粒子的形狀資訊。僅需一個步驟,即可在三種分散裝置(濕式、乾式和自由落體式)之間快速切換,實現幾乎任何樣品的出色分散體。依靠自動化功能來最大程度地減少工作量,並依靠多種安全功能來保護您免受危險樣品擴散和儀器損壞。

Kalliope:直觀的軟體讓操作人員的參與負擔降至最低

使用 Kalliope 最佳化您的測量,只需按三下即可開始測量。使用此軟體控制產品組合中的所有粒徑分析儀。Kalliope 是一款直觀的軟體,可在一個數位空間中顯示所有輸入參數、測量結果和分析。使用 Kalliope,您可以將重點放在粒子的情況,而非設法弄清楚如何使用儀器。使用 PSA 儀器,可與進樣器配合使用,您甚至可以自動進行連續測量。Kalliope 符合 21 CFR Part 11 標準,可完全追溯結果。

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