粒度分析仪
点击按键进行粒度分析
尽管颗粒体系可能非常复杂，但颗粒分析不一定复杂。从三种不同的技术中选择，来表征从纳米到毫米范围内的颗粒。
- Litesizer DLS 系列利用了光散射技术来确定分散液中纳米颗粒和微米颗粒的粒径分布、zeta 电位、透光率、分子量以及折光率。
- Litesizer DIF 系列使用激光衍射（LD）技术来测量悬浮液和固体粉末中微米和毫米范围内的颗粒尺寸。
- 因为Litesizer DIA 系列基于动态图像分析，因此它可以提供颗粒形状信息以及粒度信息。此外，通过我们强大的各种分散单元搭配，您还拥有全面的测量灵活性。
Anton Paar 产品
三种技术涵盖所有需求
通过不同的技术，Litesizer DLS 系列、Litesizer DIF 系列和 Litesizer DIA 系列可以涵盖从纳米级至毫米级的粒度。根据您的需求选择正确的粒度分析仪。
使用 Litesizer DIF 系列通过湿式或干式分散来分析最大可及毫米级尺寸的颗粒。您可以借助 Litesizer DLS 设备分析液体分散液中的样品颗粒，低至纳米级范围。借助 Litesizer DIA 系列，您还可以使用液体、重力下落或压缩空气分散单元测定粒度和形状信息。
Litesizer DLS 系列：三款仪器，多达六种测量模式
我们的 Litesizer 不仅能够通过单角度或多角度粒度测定 (MAPS) 来测定粒度。您还可以测定颗粒浓度、zeta 电位、分子质量、透射率和折射率。荧光和偏振滤光片可用于所有三个测量角度或特定的单个角度 — 允许使用同类粒度分析仪无法实现的分析类型。
Litesizer DIF 系列：从开创者到领先者
基于近 60 年的激光衍射专业知识，Litesizer DIF 系列提供粒度从 10 nm 到 3.5 mm 的先进测量方式。这款激光衍射粒度分析仪拥有一流的光学元件，及强大的 10 mW 和 25 mW 激光器，以及更为广泛的衍射角检测范围，即 0.01° 至 170°。
Litesizer DIA系列：一键式动态图像分析
借助 Litesizer DIA 系列，只需几秒钟即可测量粒度并获取数百万个颗粒的形状信息。只需一步，即可在湿法、干法和自由落体三个分散单元中快速切换 - 从而对几乎任何样品实现出色的分散。依靠自动化功能来最大程度减少工作量，并依靠安全功能来保护您免受危险的样品扩散和仪器损坏。
Kalliope：将操作员的工作难度将至最低的颗粒分析软件
使用 Kalliope 优化您的测量，只需三次点击即可开始测量。借助该软件控制产品组合中的所有粒度分析仪。Kalliope 是一款直观的软件，可以在同一个数字空间中显示所有输入参数、测量结果和分析。使用 Kalliope，专注样机及测试而非如何使用软件。Kalliope 符合 21 CFR Part 11 规定，结果完全可追溯。
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