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涂层厚度测量

涂层厚度测量

节省涂层厚度测量中所需的时间和成本

安东帕的球磨测厚仪能够快速、简单、方便的测定薄膜涂层的厚度。简单的球坑法是简单快速精确地确定涂层厚度的有效方法,适用于单层和多层膜的涂层,且完全符合相关国际标准。

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5种原因

球坑磨损测试法

安东帕球磨测厚仪使用的球坑法能够简单准确地测得涂层厚度。通过用已知尺寸的球在涂层上磨出小球坑来实现该目的,使用光学显微镜观察时可看到呈锥形薄膜横截面。

快速测量薄膜和涂层厚度

球磨测厚仪只需 1 到 2 分钟即可测量出涂层的厚度。对于任何要求快速精确测量涂层厚度的应用,这都是最佳的解决方案。

适用于各种各样的材料

安东帕的球磨测厚仪系统可用于平面、球形或圆柱形样品。这些样品的不同厚度计算方法基于 ISO EN 1071-2 标准。可用于测量 PVD、CVD、薄涂层或厚涂层以及透明涂层等涂层厚度。

可选择“紧凑型”或“工业型”配置

对于不能安装在标准样品夹具上的特殊样品,可将全套机械臂和电机组件拆下来,并直接使用提供的磁力臂夹紧到样品的侧面。使用紧凑型或工业型球磨测厚仪 - 只需选择最适合您需求的产品版本即可。

具有自动厚度计算功能的光学测量系统

安东帕提供全套涂层厚度测量软件。该软件可实现快速数据分析,并可根据行业的实际需要将报告打印出来。