测量 | 技术 | 分散类型 | 测量范围 | |
|---|---|---|---|---|
| 比表面积、孔径 | 气体吸附（物理吸附、化学吸附） | 干燥 | 孔径范围 从 0.35 nm 至 500 nm 可测量的最小比表面积 0.0005 m²/g（使用氪气），0.01 m²/g（使用氮气） | |
| （体积）密度，粉体流动性 | 振实密度 | 干燥 | 1 cm³ 至 1000 cm³ | |
| 反应面积 | 气体吸附（化学吸附） | 干燥 | ||
| 样品预处理 | 真空、流动脱气 | 干燥 | ||
| 储气量 | 高压、气体吸附 | 干燥 | ||
| 粒径 | 动态光散射 | 液体 | 粒径范围 0.3 nm 至 10 µm | |
| 粒径、Zeta 电位 | 动态光散射、电泳光散射 (ELS)、静态光散射 (SLS) | 液体 | 粒径范围 0.3 nm 至 10 µm | |
| 粉体流动性 | 多种粉体流变测量方法 | 干态/液体 | 粒径范围 5 nm 至 5 mm | |
| 粉体流动性、密度 | 剪切测试 | 干态/液体 | ||
Micro Rotary Riffler 显示产品详情发送请求 | 样品预处理 | 代表性抽样 | 干燥 | 体积范围 20 cc |
| 比表面积、孔径 | 气体吸附 | 干燥 | 孔径范围从 0.35 nm 至 500 nm 或2 nm 至 500 nm（使用氮气或氩气） 0.35 nm 至 2 nm（使用二氧化碳分析碳材料） 可测量的最小比表面积 0.01 m²/g | |
PentaFoam 5200e 显示产品详情发送请求 | （开）孔率 | 气体膨胀法 | 干燥 | 4 cm³ 至 135 cm³ |
PentaPyc 5200e 显示产品详情发送请求 | （真实）密度 | 气体膨胀法 | 4 cm³ 至 135 cm³ | |
| 孔径 | 孔隙率测定 | 干燥 | 体积范围 0.05 cc 孔径范围 1100 µm 至 0.0064 µm | |
| 粒径 | 激光衍射 | 干态/液体 | 粒径范围 0.1 μm （干） / 0.04 μm（湿）至 500 μm | |
| 粒径 | 激光衍射 | 干态/液体 | 粒径范围 0.1 μm （干） / 0.04 μm（湿）至 2500 μm | |
| 粒径 | 激光衍射 | 干态/液体 | 粒径范围 0.3 μm （干） / 0.2 μm（湿）至 500 μm | |
| 比表面积、孔径 | 气体吸附 | 干燥 | 孔径范围从 0.35 nm 至 500 nm 0.35 nm 至 2 nm（使用二氧化碳分析碳材料） 可测量的最小比表面积 0.01 m²/g（N2）；0.0005 m²/g（Kr） | |
| 粒径、颗粒形状和内部结构 | SAXS、WAXS、GISAXS | 干态/液体 | 粒径范围/孔径范围 ltthan 1 nm 至 105 nm（q 值范围（Cu K-alpha）：0.03 nm⁻¹ 至 41 nm⁻¹） | |
| 粒径、颗粒形状和内部结构 | SAXS、WAXS、GISAXS | 干态/液体 | 粒径范围/孔径范围 ltthan 1 nm 至 160 nm（q 值范围（Cu K-alpha）：0.02 nm⁻¹ 至 41 nm⁻¹） | |
| （真实）密度 | 气体膨胀法 | 4 cm³ 至 135 cm³ | ||
| （真实）密度 | 气体膨胀法 | 4 cm³ 至 135 cm³ | ||
| （开）孔率 | 气体膨胀法 | 干燥 | 4 cm³ 至 135 cm³ | |
| （真实）密度 | 气体膨胀法 | 0.25 cm³ 至 4.5 cm³ | ||
| 蒸汽吸附 | 蒸汽吸附 | 干燥 | ||
| 样品预处理 | 真空脱气 | 干燥 | ||
| 颗粒大小、相纯度、晶体结构 | XRD、SAXS、WAXS | 晶体尺寸 5 nm 至 500 nm 相分数 >0.1% |
从点滴做起的专家
正如安东帕广泛的颗粒表征产品组合，许多仪器都有一个共同点：它们是同类产品中的首款，并且仍然是该领域的旗舰仪器。例如，早在 1967 年就已发明的 PSA 是首款使用激光衍射技术的粒径分析仪。安东帕制造了首款由 Otto Kratky 于 1957 年开发的商用小角度 X 射线散射 (SAXS) 摄像头。如今，安东帕 SAXS 系统仍然是此项技术的基准。Quantachrome Instruments从 1968 年就占据技术高峰。从那以后，公司技术专业团队开发与用户紧密相联的创新成果，不断推出适用于多孔材料和粉末测量的最佳解决方案。
利用安东帕的颗粒特性分析专业知识进行颗粒研究和材料研发。
除了各种各样的专用仪器，安东帕还提供广泛的应用咨询服务和应用信息。通过应用报告、安东帕维基百科和在线研讨会，您可以深入了解有关颗粒特性分析的话题，例如：
- 动态光散射（DLS）：粒径测量的基本概念
- 粒径测定
- 如何选择颗粒分析仪器
- 用于颗粒尺寸测量的激光衍射法
- 粉体流变测量
- 采用小角度 X 射线散射的纳米结构分析 (SAXS)
- 表面积测定
- BET 理论
- 如何使用 (ELS) 测量 zeta 电位
- 孔径测量技术
- X-射线衍射 (XRD)
- 等等……
利用这些资源和我们长期积累的颗粒特性分析专业知识探索新的应用领域，并在生产、质量控制和产品开发方面取得最佳成果。当然，您也可以直接与我们联系，咨询仪器和应用相关的任何问题。