颗粒表征分析

颗粒表征分析

粒度分析的新领域

您对颗粒越了解,就越能预测材料的性能。为进行这些研究,您需要测量的参数包括粒径、孔径、颗粒形状、内部结构、zeta 电位、表面积、反应面积、密度、粉体流动、相纯度、晶体结构等。安东帕提供的仪器产品能够完成上述所有测量和其他测量——可以说是单一全球供应商能够提供的最广泛的颗粒特性分析产品组合。充分利用众多产品选择以及在该领域长达十年的专业优势——只需联系安东帕。 

应用、参数、技术:找到最适合您的选择!

在适合不同用途的特殊应用以及可测量的所有参数概览之间切换,后者也展现了颗粒表征分析中使用的技术。

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制粒和干燥:压片的挑战

药片生产不仅需要药物活性成分 (API) ,还需要赋形剂来改善粉体加工过程和最终剂型质量。制锭是一个多步过程,能否成功取决于所用仪器的参数和粉末处理。特别是制粒和干燥需要合适的赋形剂组合。本应用报告研究了研磨筛分乳糖和甲基纤维素后赋形剂的吸湿能力,以评估它们在湿法制粒过程中的特性。同样的赋形剂还在不同温度下进行测试,以再现流化床干燥器的干燥效果。测试发现在湿法制粒过程中吸收的水分量和干燥过程中的连续温度效应对流动和压缩特性有影响。

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催化剂表征分析

对催化剂反应前后进行表征,提供催化过程有效性和效率的重要信息,并且对优化催化剂提供指导性信息。最重要的参数是孔径、孔体积、活性比表面积、粒径、表面酸度、流化行为和凝聚性能。

下载此应用报告,分析表征参数(使用安东帕仪器实验得到参数),为催化剂开发和质量控制工作提供帮助。

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食品特性

食品粉体配方、制造和包装工艺需要保持各批次的一致性,以确保消费者的安全和对产品的信赖。通过使用安东帕的仪器进行实验可以测定食品粉体的密度、颗粒尺寸、内聚强度、压缩系数和渗透性,获得深入见解,从而提高其质量和一致性。本应用报告着重于奶粉和通用面粉,因为它们是非常普遍的产品,并且是其他很多食品和营养补充剂的重要成分。

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金属粉体流变特性分析

金属粉体用于各种粉末冶金作业,如添加剂制造。要始终保证较高的产品质量,粉体的特性至关重要。使用粉体流变测量、动态光散射、BET 和密度测量等典型粉体分析方法。

下载应用报告,以便了解如何使用这些互补方法来测定流动特性、孔隙度、压缩系数、填集密度、粒径分布等。通过使用一组支持这些测量方法的仪器对金属粉体进行流变特性分析,可以保证生产流程顺畅,烧结制品稳定,并了解过去生产的多余金属粉体是否仍然可用。

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研究食品的特性

食品中的颗粒尺寸不仅影响生产过程的方方面面,如运输、储存或保质期,而且对感官特性,如味觉和口感具有至关重要的影响。

PSA 颗粒粒度分析仪能够测量液体和干燥分散体,并具有纳米到毫米的宽测量范围,因此非常适合食品工业的生产和质量控制应用。

下载应用报告,了解应用激光衍射技术对食品进行特性表征的优势。

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从细胞培养基中分离出来的外来体特性分析

外来体可以作为药物输送系统早已获得确认。本应用报告演示了 Litesizer™ 500 如何高效表征外来体颗粒尺寸,以及此标准如何用于监测体外外来体的稳定性。还可执行 Zeta 电位测量,从而提供有关外来体生物功能的潜在有用信息。

下载应用报告,阅读外来体特性分析。

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更快、更灵敏的 zeta 电位测量

迄今为止,尖端 zeta 电位测量技术是所谓的相位分析光散射 (PALS),其基于电泳光散射 (ELS)。本应用报告展示了称为 cmPALS 的新专利技术,该技术可大幅缩短测量时间,降低应用电场,因此可充满自信地分析敏感样品。

下载应用报告,了解有关具有更高灵敏度和稳定性的 ELS 测量的信息。

<link corp-en services-support document-finder application-reports faster-more-sensitive-zeta-potential-measurements-with-cmpals-and-the-litesizer-500>了解更多

点击参数了解安东帕在特定的颗粒特性分析领域提供哪些技术。也可以利用表中的筛选器来着重搜索某项特定技术,并获取不同测量范围的相关信息。

点击仪器,就能看到该仪器的详细特性和规格。

孔径
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粒径
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表面积
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样品预处理
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密度
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反应面积
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相纯度
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蒸汽吸附
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通孔孔隙率
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颗粒形状
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zeta 电位
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粉体流动性
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储气量
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晶体结构
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测量
技术
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测量

技术

分散类型

测量范围
比表面积、孔径气体吸附(物理吸附、化学吸附)干燥孔径范围
从 0.35 nm 至 500 nm
可测量的最小比表面积
0.0005 m²/g(使用氪气),0.01 m²/g(使用氮气)
(体积)密度,粉体流动性振实密度干燥1 cm³ 至 1000 cm³
反应面积气体吸附(化学吸附)干燥
样品预处理真空、流动脱气干燥
储气量高压、气体吸附干燥
粒径动态光散射液体粒径范围
0.3 nm 至 10 µm
粒径、Zeta 电位动态光散射、电泳光散射 (ELS)、静态光散射 (SLS)液体粒径范围
0.3 nm 至 10 µm
粉体流动性多种粉体流变测量方法干态/液体粒径范围
5 nm 至 5 mm
粉体流动性、密度剪切测试干态/液体
样品预处理代表性抽样干燥体积范围
20 cc
比表面积、孔径气体吸附干燥孔径范围从
0.35 nm 至 500 nm 或2 nm 至 500 nm(使用氮或氩气)
0.35 nm 至 2 nm(使用二氧化碳分析碳材料)
可测量的最小比表面积
0.01 m²/g
(开)孔率气体膨胀法干燥4 cm³ 至 135 cm³
(真实)密度气体膨胀法4 cm³ 至 135 cm³
孔径孔隙率测定干燥体积范围
0.05 cc
孔径范围
1100 µm 至 0.0064 µm
粒径激光衍射干态/液体粒径范围
0.1 μm (干) / 0.04 μm(湿)至 500 μm
粒径激光衍射干态/液体粒径范围
0.1 μm (干) / 0.04 μm(湿)至 2500 μm
粒径激光衍射干态/液体粒径范围
0.3 μm (干) / 0.2 μm(湿)至 500 μm
比表面积、孔径气体吸附干燥孔径范围从
0.35 nm 至 500 nm
0.35 nm 至 2 nm(使用二氧化碳分析碳材料)
可测量的最小比表面积
0.01 m²/g(N2);0.0005 m²/g(Kr)
粒径、颗粒形状和内部结构SAXS、WAXS、GISAXS干态/液体粒径范围/孔径范围
ltthan 1 nm 至 105 nm(q 值范围(Cu K-alpha):0.03 nm⁻¹ 至 41 nm⁻¹)
粒径、颗粒形状和内部结构SAXS、WAXS、GISAXS干态/液体粒径范围/孔径范围
ltthan 1 nm 至 160 nm(q 值范围(Cu K-alpha):0.02 nm⁻¹ 至 41 nm⁻¹)
(真实)密度气体膨胀法4 cm³ 至 135 cm³
(真实)密度气体膨胀法4 cm³ 至 135 cm³
(开)孔率气体膨胀法干燥4 cm³ 至 135 cm³
(真实)密度气体膨胀法0.25 cm³ 至 4.5 cm³
蒸汽吸附蒸汽吸附干燥
样品预处理真空脱气干燥
颗粒大小、相纯度、晶体结构XRD、SAXS、WAXS晶体尺寸 5 nm 至 500 nm 
相分数 >0.1%

 

安东帕颗粒特性分析解决方案

颗粒粒度分析仪

颗粒可能非常复杂,但颗粒的分析过程不一定复杂。Litesizer 和 PSA 系列可一键实现粒度测量,另外还可以提供其他功能:

  • Litesizer 系列:动态光散射可在纳米至微米范围内进行颗粒大小分析,包括 zeta 电位、分子量、透光率和折光率测量
  • PSA 系列:激光衍射可用于细微至毫米范围的液体和干燥分散体的粒度分析
  • 专用附件可利用自动样品转移等技术对有机溶液中的少量样品进行测量。
  • 聚焦颗粒:Kalliope 软件可为这两款仪器提供服务,将操作员工作难度降至最低

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真正的粉体流变测量

两种真正的粉体流变测量样品池(粉体流化态测量池粉体剪切池)与 MCR Evolution 流变仪相结合,可帮助您真正地表征和了解粉体的特性:

  • 以具有出色精度的著名 MCRe 流变仪进行粉体分析
  • 样品制备模式和全自动测量实现高再现性
  • 用于质量控制和科学研究目的的多种测量模式
  • 唯一可进行温度和湿度控制的粉体剪切池

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吸附分析仪

在吸附分析过程中,结合智能仪器设计和先进的计算数据分析模型:

  • 全方位产品线,包含蒸汽吸附、物理吸附、化学吸附和高压吸附
  • 全自动仪器系统,具有多站分析和内置样品预处理选项
  • 非常适合分析催化剂、药物、电池材料、吸附剂等其他多孔材料的孔径、表面积以及气/固体相互作用
  • 世界知名的数据分析模型和快速测量报告,适用于传统材料和新型复杂材料

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压汞仪

用于确定大孔材料孔隙率的最常用测试方法:

  • 专为提供最安全的操作体验而设计,处理汞时同样安全独特的设计,专门为测试使用汞的安全考虑
  • 简化的液态汞引入和自动油净化等特性,使得PoreMaster操作简单,容易上手。
  • 通过螺杆驱动控制与智能化自动增压程序,从而提高高压数据的测试精度。
  • 整个测试过程(液态汞填充、低压测量以及高压测量)通常可在 30 分钟内完成

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固体密度分析仪

从一套组合即可得到所有固体密度值——并且具备最高准确度:

  • 一套仪器组合,涵盖真实/骨架密度、堆密度和几何密度的测量

  • 通过一台仪器以最广泛的测量范围提供最准确的测量结果
  • 无需使用液态汞即可测量几何密度
  • 气体膨胀法以完全无损的方式提供真实的密度结果

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SAXS 系统

SAXSpace 和 SAXSpoint 5.0 小角度 X 射线散射系统为纳米粒子研究提供了出色的分辨率和最佳数据质量:

  • 卓越的 X 射线源和光学元件,提供最高光谱纯度和通量
  • 无散射光束准直以及先进的混合光子计数 (HPC) 检测器,提供高信噪比和极佳的总体数据质量
  • 广泛的样品台可在受控温度和环境下进行颗粒特性分析
  • 操作可靠,正常运行时间长,样品通量高,维护成本低

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XRD 系统

XRDynamic 500 是一款自动化多用途粉末 X 射线衍射仪,可为所有样品类型提供出色的数据质量:

  • 开箱即用的业界一流的分辨率/信噪比
  • TruBeam™ 理念具有更大的测角半径和真空光路
  • 所有 X 射线光学器件、光束几何形状更改以及仪器和样品对齐的完全自动化
  • 用于反射、透射和 SAXS 测量的灵活样品台

 

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3 年保修

  • 自 2020 年 1 月 1 日起,所有新安东帕仪器*都带有 3 年保修。
  • 这样,客户可以避免不可预见的成本,并可以一直信赖他们的仪器。
  • 除了保修服务,我们还提供仪器维护及各种附加服务。

* 有些仪器因所使用的技术而需要按照维护时间表进行维护。遵守维护时间表是获得 3 年保修的前提条件。

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从点滴做起的专家

正如安东帕广泛的颗粒表征产品组合,许多仪器都有一个共同点:它们是同类产品中的首款,并且仍然是该领域的旗舰仪器。例如,早在 1967 年就已发明的 PSA 是首款使用激光衍射技术的粒径分析仪。安东帕制造了首款由 Otto Kratky 于 1957 年开发的商用小角度 X 射线散射 (SAXS) 摄像头。如今,安东帕 SAXS 系统仍然是此项技术的基准。Quantachrome Instruments从 1968 年就占据技术高峰。从那以后,公司技术专业团队开发与用户紧密相联的创新成果,不断推出适用于多孔材料和粉末测量的最佳解决方案。

利用安东帕的颗粒特性分析专业知识进行颗粒研究和材料研发。

除了各种各样的专用仪器,安东帕还提供广泛的应用咨询服务和应用信息。通过应用报告、安东帕维基百科和在线研讨会,您可以深入了解有关颗粒特性分析的话题,例如: 

利用这些资源和我们长期积累的颗粒特性分析专业知识探索新的应用领域,并在生产、质量控制和产品开发方面取得最佳成果。当然,您也可以直接与我们联系,咨询仪器和应用相关的任何问题。

联系我们

在安东帕技术中心获得实践操作体验。

您是喜欢去实地观察仪器的操作人员吗?看看我们的技术中心是否拥有您期望得到的仪器,或您所在地区是否计划开设颗粒特性分析研讨会。

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