입자 특성

입자 특성

입자 분석의 새로운 지평

입자를 더 잘 알수록, 물질의 거동을 더 잘 예측할 수 있습니다. 이러한 연구를 위해 측정이 필요한 파라미터에는 입자 크기, 기공 크기, 입자 형태, 내부 구조, 제타 전위, 표면적, 반응 영역, 밀도, 분말 흐름 등이 포함됩니다. Anton Paar는 이러한 모든 파라미터와 그 외의 파라미터를 측정할 수 있는 기기를 제공합니다. 이는 전 세계의 단일 제공업체가 제공할 수 있는 가장 광범위한 입자 특성 확인 포트폴리오입니다. 단 한 번의 연락으로 이 광범위한 포트폴리오뿐 아니라 10년간 축적된 이 분야의 전문지식을 활용할 수 있습니다.

파라미터를 클릭하여 입자 특성 확인 분야에서 Anton Paar가 제공하는 모든 것을 확인하십시오. 표의 필터를 사용하여 특정 기술로 검색 범위를 좁히고 다양한 측정 범위에 대한 정보를 얻을 수 있습니다.

장비를 클릭하면 자세한 기능과 사양이 표시됩니다.

기공 크기
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입자 크기
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표면적
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시료 전처리
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밀도
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반응 영역
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증기 흡수
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셀 기공도
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입자 형태
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제타 전위
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분말 흐름 특성
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가스 저장 용량
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측정
기술
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측정

기술

분산 유형

측정 범위
표면적, 기공 크기가스 흡착(물리 흡착, 화학 흡착)건식기공 크기 범위
0.35nm~500nm
최소 측정 가능 표면적
크립톤 사용 시 0.0005m²/g부터, N₂사용 시 0.01m²/g부터
(겉보기) 밀도, 분말 흐름 특성탭 밀도건식1cm³~1000cm3
반응 영역가스 흡착(화학 흡착)건식
시료 전처리진공, 흐름 탈기건식
가스 저장 용량고압, 가스 흡착건식
입자 크기동적 광 산란습식입자 크기 범위
0.3nm~10µm
입자 크기, 제타 전위동적 광 산란, ELS(전기 영동 광 산란), SLS(정적 광 산란)습식입자 크기 범위
0.3nm~10µm
분말 흐름 특성다중 분말 흐름 측정 방법 유변학건식/습식입자 크기 범위
5nm~5mm
분말 흐름 특성, 밀도전단 테스트건식/습식
(잔) 밀도가스 비중 측정4cm³~135cm³
(진) 밀도가스 비중 측정0.25cm³~4.5cm³
(잔) 밀도가스 비중 측정4cm³~135cm³
Pentapyc 5200e
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(진) 밀도가스 비중 측정4cm³~135cm³
Micro Rotary Riffler
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시료 전처리대표 시료 채취건식용량 범위
20cc
표면적, 기공 크기가스 흡착건식기공 크기 범위
0.35nm~500nm/2nm~500nm(N 또는 Ar 사용 시)
0.35nm~2nm(탄소함유 시료에 CO₂ 사용 시)
최소 측정 가능 표면적
0.01m²/g
기공 크기기공률 측정건식용량 범위
0.05cc
기공 크기 범위
1100µm~0.0064µm
입자 크기레이저 회절건식/습식입자 크기 범위
0.1μm(건식)/0.04μm(습식)~500μm
입자 크기레이저 회절건식/습식입자 크기 범위
0.1μm(건식)/0.04μm(습식)~2500μm
입자 크기레이저 회절건식/습식입자 크기 범위
0.3μm(건식)/0.2μm(습식)~500μm
표면적, 기공 크기가스 흡착건식기공 크기 범위
0.35nm~500nm
0.35nm~2nm(탄소함유 시료에 CO₂ 사용 시)
최소 측정 가능 표면적
0.01m²/g
입자 크기, 입자 모양 및 내부 구조SAXS, WAXS, GISAXS건식/습식입자 크기 범위/기공 크기 범위
ltthan1nm~105nm(q 범위(Cu K-알파): 0.03nm⁻¹~41nm⁻¹)
입자 크기, 입자 모양 및 내부 구조SAXS, WAXS, GISAXS건식/습식입자 크기 범위/기공 크기 범위
ltthan1nm~160nm(q 범위(Cu K-알파): 0.02nm⁻¹~41nm⁻¹)
(오픈) 셀 함량가스 비중 측정건식4cm³~135cm³
Pentafoam 5200e
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(오픈) 셀 함량가스 비중 측정건식4cm³~135cm³
증기 흡수증기 흡착건식
시료 전처리진공 탈기건식

 

Anton Paar의 입자 특성 확인 솔루션

입도 분석기

입자는 복잡할 수 있지만, 입자를 측정하는 일은 절대 복잡하지 않습니다! Litesizer 및 PSA 시리즈는 터치 버튼을 이용하여 입도를 측정하고 그 외의 많은 정보를 제공합니다.

  • Litesizer 시리즈: 더 낮은 나노미터부터 마이크로미터 범위까지의 입도분석을 위한 동적 광 산란은 제타 전위, 분자량, 투과율 및 굴절률 측정을 가능하게 합니다.
  • PSA 시리즈: 밀리미터 범위까지의 습식 및 건식 입자 크기 분석을 위한 레이저 회절
  • 자동 시료 주입이 가능한 전용 액세서리를 통해 유기 용매 속의 소량의 시료도 측정 가능
  • 입자에 집중: Kalliope 소프트웨어는 두 장비에 모두 사용이 가능하며 작업자 개입을 최소화함

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진정한 분말 유변학

진정한 분말 유변학을 위한 2개의 셀, 분말 플로우 셀분말 전단 셀이 MCR Evolution 레오미터와 결합되어 진정한 의미에서 분말을 특성 확인하고 이해하도록 도와줍니다.

  • MCRe 레오미터의 놀라운 정밀도를 이용한 분말 특성 분석
  • 시료 전처리 모드 및 완전 자동화된 측정으로 인해 높은 재현성
  • 품질 관리 및 과학적 목적을 위한 다양한 측정 모드
  • 온도 및 습도 옵션을 장착할 수 있는 유일한 전단 셀

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흡착 분석기

흡착 분석에서는 지능적인 장비 설계와 고급 연산 데이터 해석 모델을 모두 결합하는 것이 중요:

  • 증기 흡착, 물리 흡착, 화학 흡착 및 고압 흡착을 위한 다양한 측정 장비
  • 다중 스테이션 분석 및 시료 전처리 옵션을 포함하는 완전 자동화 시스템
  • 기공 크기, 표면적, 촉매의 기체/고체 상호 작용, 제약, 배터리 물질, 흡착제 및 모든 기타 다공성 물질 분석에 적합
  • 고전적인 소재나 복잡한 신소재에 대한 세계적인 명성의 데이터 해석 모델 및 빠른 측정 보고서

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수은 압입 기공률 분석기

다공성 물질의 기공 특성을 측정하는 데 가장 널리 사용되는 방법:

  • 수은으로 작업할 때에도 가장 안전한 작업자 환경을 제공하도록 설계됨
  • 단순화된 액체 수은 주입 및 자동 오일 충진과 같은 기능을 제공하며 가장 사용이 편리한 수은 압입 기공률 분석기인 PoreMaster
  • 나사 구동식의 지능적인 압력 증가 속도 자동 제어 루팅을 통해 완성되는 최고의 고압 데이터 분해능
  • 액체 수은 주입을 통한 저압 분석은 물론, 고압 분석 또한 일반적으로 30분 이내에 완료됨

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고체 밀도 분석기

최고의 정확도로 한 출처에서 필요한 모든 고체 밀도 값 획득:

  • 진밀도, 탭밀도 및 기하학적밀도 측정이 가능한 장비에 대한 포트폴리오

  • 단일 장비로 가장 광범위한측정 범위에서최고의 정확도 제공
  • 액체 수은을 사용하지 않고 기하학적 밀도 측정 가능
  • 가스 비중 측정은 완전히 비파괴적인 방법으로 진밀도결과 제공

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    SAXS 시스템

    SAXSpace 및 SAXSpoint 5.0 X-선 소각산란 시스템이 나노 입자 연구에 대한 탁월한 분해능과 최상의 데이터 품질 제공:

    • 최고 순도의 스펙트럼 및 플럭스를 제공하기 위한 고광도 X-선 광원 및 광학
    • 높은 Signal-to-Noise·비율 및 뛰어난 데이터 품질을 위한 무산란 빔 타입 최첨단 하이브리드 광자 계수(HPC) 검출기
    • 온도 및 대기 조절 하에 입자 특성 분석을 위한 다양한 측정 스테이지
    • 높은 가동률, 많은 시료 처리량 및 낮은 유지 관리 비용

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    XRD 시스템

    XRDynamic 500은 모든 시료 유형에서 뛰어난 데이터 품질을 제공하는 자동화된 다목적 분말 X선 회절계입니다.

    • 동급 최고의 분해능/신호 대 잡음비 즉시 이용 가능
    • 넓은 고니오미터 반경, 고진공하의 빔패스를 특징으로 하는 TruBeam™ 컨셉
    • 모든 X선 광학, 빔 형상 변경, 기기 및 시료 정렬의 완전 자동화
    • 반사, 투과, SAXS 측정을 위한 유연한 시료 단계

     

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    3년 보증

    • 2020년 1월 1일부터 Anton Paar의 새로운 모든 장비*에 3년 수리 보증이 포함됩니다.
    • 고객은 예기치 못한 비용을 방지하고 항상 장비를 믿고 사용할 수 있습니다.
    • 보증과 더불어 사용할 수 있는 다양한 추가 서비스 및 유지 보수 옵션이 제공됩니다.

    * 사용하는 일부 장비에는 유지 보수가 꼭 필요합니다. 매년 유지 보수를 하는 것이 3년 보증의 필수 조건입니다.

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    처음부터 전문가 수준의 분석 가능

    다양한 입자 특성화 포트폴리오로 구성된 Anton Paar의 장비들은 다음과 같은 한 가지 공통점을 갖고 있습니다. 동종 제품 중 최초로 개발되었으며 지금도 해당 분야의 대표적인 장비로 사용되고 있다는 점입니다. 예를 들어, PSA는 1967년 최초로 레이저 회절 기술을 사용한 입도 분석기였습니다. 1957년에 Otto Kratky가 개발한 최초의 상용 소각 X선 산란(SAXS) 카메라를 Anton Paar에서 제조했습니다. 현재, Anton Paar SAXS 시스템은 이 기술에 관한 한 여전히 표준입니다. Anton Paar 브랜드인 Quantachrome Instruments는 1968년에 최고의 자리에 오르기 시작했습니다. 그 이후, 지금까지 과학자로 구성된 전담 팀이 사용자와 긴밀하게 협력하여 혁신 기술을 개발했으며, 그 결과 다공성 물질 및 파우더 측정을 위한 최상의 솔루션이 탄생했습니다.

    입자 연구와 소재 개발을 위한 입자 특성화에 Anton Paar 전문지식을 사용하십시오.

    Anton Paar는 다양한 특정 기기와 함께 광범위한 응용 분야 컨설팅과 응용 분야 정보를 제공합니다. 응용 분야 보고서, Anton Paar Wiki, 웨비나는 다음과 같은 입자 특성화 주제에 대한 전문적인 지식을 제공합니다. 

    이러한 리소스와 Anton Paar의 오랜 입자 특성화 전문 지식을 사용하여 새로운 응용 분야를 살펴보고 생산, 품질 관리, 제품 개발에서 최적의 결과를 달성할 수 있습니다. 물론 장비 및 응용 분야에 대해 궁금한 사항이 있는 경우 Anton Paar에 직접 문의할 수 있습니다.

    문의

    Anton Paar 기술 센터에서 직접 체험해 보십시오.

    Anton Paar의 장비를 실제로 체험해 보고 싶으십니까? Anton Paar의 기술 센터 중 한 곳에서 원하는 장비를 사용할 수 있는지 또는 해당 지역에서 입자 특성화 세미나가 계획되어 있는지 알아보십시오.

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