粒子特性評価

New horizons in particle analysis

粒子についてよく知れば、素材の挙動をより的確に予測できるようになります。この研究で測定したいパラメーターとして、粒径、孔径、粒子の形状、内部構造、ゼータ電位、表面積、反応面積、密度、粉体流、その他があります。アントンパール社は、以上を含め様々なパラメーターの測定装置を提供します。広範な粒子特性に応じた各種装置を、わが社単独で、世界中に販売しています。

このように多様な装置群と、長年にわたりこの分野で蓄積された知見が、ここだけで全て手に入ります。

技術、パラメーター、装置: ニーズに合った装置を見つけよう

パラメーターをクリックすると、粒子特性評価の分野ごとに製品が表示されます。次いで表のしぼり込み機能を使って、特定の技術をキーとしてさらに検索を進め、測定対象別の情報を得てください。

個々の装置をクリックすると、詳しい特徴や仕様を確認できます。

孔径

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粒径

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表面積

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サンプル前処理

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密度

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反応面積

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蒸気取り込み

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セルの多孔性

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粒子の形状

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ゼータ電位

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パウダーフロー特性

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ガスの貯蔵容量

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	測定	技術	拡散型	測定範囲
AutoFlow BET+ 製品の詳細を表示依頼	表面積	ガス吸着 (BET), フローBET分析		測定可能な最小の表面積 0.1 m²/g
autosorb 6iSA 製品の詳細を表示依頼	表面積、孔径	ガス吸着		表面積、孔径 2～500 nm (N又はAr) 0.35～2 nm (CO₂ on C) 測定可能な最小の表面積 0.1 m²/g
autosorb iQ シリーズ製品の詳細を表示依頼	表面積、孔径	ガス吸着 (物理吸着, 化学吸着)	乾式	孔径範囲 0.35～500 nm 測定可能な最小の表面積 0.0005 m²/g から (クリプトン)、0.01 m²/g から (N²)
Autotap及びDual Autotap 製品の詳細を表示依頼	密度	嵩比重	乾式	容量範囲 1 cc
ChemBET Pulsar 製品の詳細を表示依頼	反応面積	ガス吸着 (化学吸着)	乾式
FloVac 脱気装置製品の詳細を表示依頼	サンプルの前処理	真空式/フロー式脱ガス	乾式
iSorb HP 製品の詳細を表示依頼	ガスの貯蔵容量	高圧, ガス吸着	乾式
Litesizer™ 100 製品の詳細を表示依頼	粒径	動的光散乱	液体	粒径範囲 0.3 nm～10 µm
Litesizer™ 500 製品の詳細を表示依頼	粒径, ゼータ電位	動的光散乱, 電気泳動光散乱 (ELS), 静的光散乱 (SLS)	液体	粒径範囲 0.3 nm～10 µm
MasterPrep Degasser 製品の詳細を表示依頼	サンプルの前処理	真空式、フロー式脱ガス	乾式
MCR粉体レオメーター製品の詳細を表示依頼	パウダーフロー特性	複合粉体流測定法レオロジー	乾式 / 液体	粒径範囲 5 nm～5 mm
Micro UltraPyc 1200e 製品の詳細を表示依頼	密度	ガスピクノメトリー		容量範囲 0.025 cc
Micro Rotary Riffler 製品の詳細を表示依頼	サンプルの前処理	代表サンプル抽出	乾式	容量範囲 20 cc
NOVAtouch シリーズ製品の詳細を表示依頼	表面積、孔径	ガス吸着	乾式	孔径範囲 0.35～500 nm / 2～500 nm (N又はAr) 0.35～2 nm (CO₂ on C) 測定可能な最小の表面積 0.01 m² / g
PentaFoam 5200e 製品の詳細を表示依頼	セルの多孔性	ガスピクノメトリー	乾式	容量範囲 1 cc
PentaPyc 5200e 製品の詳細を表示依頼	密度	ガスピクノメトリー	乾式	容量範囲 1 cc
PoreMasterシリーズ製品の詳細を表示依頼	孔径	有孔性	乾式	容量範囲 0.05 cc 孔径範囲 1100～0.0064 µm
PSA 1090 製品の詳細を表示依頼	粒径	レーザー回折	乾式 / 液体	粒径範囲 0.1 μm (乾式) 0.04 μm (湿式) ～500 μm
PSA 1190 製品の詳細を表示依頼	粒径	レーザー回折	乾式 / 液体	粒径範囲 0.1 μm (乾式) 0.04 μm (湿式) ～2500 μm
PSA 990 製品の詳細を表示依頼	粒径	レーザー回折	乾式 / 液体	粒径範囲 0.3 μm (乾式) 0.2 μm (湿式) ～500 μm
QUADRASORB evo 製品の詳細を表示依頼	表面積、孔径	ガス吸着	乾式	孔径範囲 0.35～500 nm 0.35～2 nm (CO₂ on C) 測定可能な最小の表面積 0.01m²/g; 0.0005 m²/g
SAXSpace 製品の詳細を表示依頼	粒径、粒子の形状、内部構造	SAXS、WAXS、GISAXS	乾式 / 液体	粒径範囲 / 孔径範囲 < 1～105 nm (q range (Cu Kalpha): 0,03～41 nm⁻¹)
SAXSpoint 2.0 製品の詳細を表示依頼	粒径、粒子の形状、内部構造	SAXS、WAXS、GISAXS	乾式 / 液体	粒径範囲 / 孔径範囲 < 1nm - 160 nm (q range (Cu Kalpha): 0,02 nm⁻¹ to 41 nm⁻¹)
UltraFoam 1200e 製品の詳細を表示依頼	セルの多孔性	ガスピクノメトリー	乾式	容量範囲 1 cc
UltraPyc 1200e 製品の詳細を表示依頼	密度	ガスピクノメトリー	乾式	容量範囲 1 cc
VSTAR 製品の詳細を表示依頼	蒸気取り込み	蒸気吸着	乾式
XeriPrep Degasser 製品の詳細を表示依頼	サンプルの前処理	真空式脱ガス	乾式

アントンパール社が提供する粒子特性評価ソリューション

粒子径分布測定装置

粒子は複雑な場合もありますが、粒子の評価が必ずしも複雑だというわけではありません。LitesizerとPSAシリーズは、ボタンを押すだけで粒子径分布を測定できるだけでなく、以下のような特長があります。

Litesizerシリーズ: 動的光散乱を用いた、ナノメートルからミクロンまでの範囲のゼータ電位、分子量、透過率、屈折率を含む粒子径解析。
PSAシリーズ: ミリメートル領域までの湿式分散または乾式分散の粒子径分布測定を行えるレーザー回折。
少量サンプルの測定、有機溶媒での測定、オートサンプラの使用などを可能にする専用アクセサリ。
オペレータは粒子解析に集中できます: Kalliopeソフトウェアが両方の装置で使用できるため、オペレータの負担は最小限で済みます。

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粉体レオロジー

従来の粘弾性メソッドと数十年の経験を粒状媒体の分野でフル活用できる高度な真の粉体レオロジー。

汎用性の高い強力な粉体レオメータにアップグレードされたMCRレオメータによる極めて高い精度。
完全自動測定モードによる高い再現性。
品質管理用途にも研究開発用途にも対応可能な多数の測定モード。
交換可能な測定システムと柔軟性の高いソフトウェアにより、ホッパー設計から分離試験と最先端の流動層粘弾性測定まで、様々な特性評価が可能。

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ガス吸着測定装置

ガス吸着測定装置では、インテリジェントな装置設計と高度なシミュレーション型データ解析モデルを組み合わせることが重要です。

広範囲にわたる装置で、蒸気吸着、物理吸着、化学吸着、高圧吸着に対応。
多検体測定とサンプル前処理オプション機能を備えた全自動システム。
触媒、医薬品、電池材料、吸着剤、その他すべての多孔性材料の細孔径、表面積、気体/固体の相互作用の分析に最適。
高度なデータ解析モデルを使いつつ簡単なレポート出力で、従来の材料と複雑な先端材料の双方に対応。

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水銀圧入ポロシメータ

マクロ多孔性材料の空孔性の測定に最も広く使われている方法です。

水銀を扱う場合でもオペレータが最も安全に作業できる設計。
簡素化された水銀圧入方式や自動オイルパージなどの機能により、PoreMasterが、最も使いやすい水銀圧入ポロシメータを実現。
ウォームジャッキ方式の自動昇圧速度制御による圧力発生機構によって、究極の高圧データ分解能を実現。
水銀の充填、低圧測定、高圧測定を、通常30分以内で完了。

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固体密度計

１台で必要なすべての固体密度値を取得します。利用可能な最高の精度です。

真（骨格）密度、タッピングかさ密度、幾何学的密度の測定に対応可能な装置群。
クラス最高: 最も広い測定範囲で最高の精度を実現。
安全性と費用対効果の高さ: 幾何学的密度の測定に液体水銀が不要。
非破壊ガスピクノメトリー: 不活性でクリーンガスを使用。

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SAXSシステム:

SAXSpaceとSAXSpoint 2.0は、ナノ粒子研究に最適な優れた小角分解能と最高のデータ品質を提供する小角X線散乱システムです。

優れたX線源と光学系により、最高のスペクトル純度とフラックスを実現。
寄生散乱を極限まで抑えたコリメーションと最先端のハイブリッド光子カウント(HPC)検出器により、高いS/N比と優れたデータ品質を実現。
様々なサンプルステージにより、温度と雰囲気が制御された状態での粒子構造評価を実現。
長い稼働時間、高いサンプルスループット、低い維持費。

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はじめから最高の装置を

アントンパール社は粒子特性に応じた各種装置を取り揃えていますが、どの装置にも共通していることがひとつあります: いずれも、その種類では初の装置であり、今なお、その分野で主要な装置であり続けているのです。例えば、考案されたのは1967年にさかのぼるPSAは、レーザー回折技術を用いる初の粒径アナライザーでした。初の商用小角X線散乱 (SAXS) カメラは、Otto Kratkyが1957に開発し、アントンパール社が製造したものです。現在でもアントンパール社のSAXSシステムは、この技術の水準点であり続けています。アントンパール社のブランドであるカンタクローム・インスツルメンツは、1968年にその歩みを始めました。それ以来、献身的な科学者たちのチームが、利用者と密に連携しながら新機軸の開発を進め、多孔性素材や粉体を対象とする、考えうる最高の測定装置を作り出したのです。