粒子特性評価

粒子特性評価

New horizons in particle analysis

粒子についての理解が深まれば、物質の挙動をより的確に予測できるようになります。測定パラメータには、粒子径、細孔径、粒子の形状、内部構造、ゼータ電位、表面積、反応面積、密度、粉体流、相純度、結晶構造などさまざまなものがあります。アントンパール社では、これら全てに対応する、幅広い粒子特性評価装置を提供しています。多様な製品シリーズに加え、この分野において長年にわたり蓄積された当社のあらゆる知見をご活用いただけます。 

パラメータをクリックすると、粒子特性評価の分野ごとに製品が表示されます。表中のフィルターにより特定の技術に絞って検索し、測定対象別の情報を得ることができます。

装置名をクリックすると、特長や仕様の詳細が表示されます。

細孔径
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粒子径
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比表面積
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サンプル前処理
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密度
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反応面積
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相純度
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水蒸気吸収量
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セルの多孔性
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粒子形状
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ゼータ電位
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粉体の流動特性
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ガス貯蔵容量
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結晶構造
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測定
手法
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測定

手法

分散の種類

測定範囲
比表面積、細孔径ガス吸着 (物理吸着、化学吸着)乾式細孔径範囲
0.35~500 nm
測定可能な最小比表面積
0.0005 m²/g~ (Kr)、0.01m²/g~ (N₂)
(かさ) 密度、粉体の流動特性タップ密度乾式1~1000 cm³
反応面積ガス吸着 (化学吸着)乾式
サンプル前処理真空、流体脱気乾式
ガス貯蔵量高圧、ガス吸着乾式
粒子径動的光散乱法湿式粒子径範囲
0.3 nm~10 µm
粒子径、ゼータ電位動的光散乱法、電気泳動光散乱法 (ELS)、静的光散乱法 (SLS)湿式粒子径範囲
0.3 nm~10 µm
粉体の流動特性複数の粉体流の測定方法 レオロジー乾式 / 湿式粒子径範囲
5 nm~5 mm
粉体の流動特性、密度せん断テスト乾式 / 湿式
マイクロロータリー縮分器
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サンプル前処理代表サンプリング乾式サンプル量範囲
20 cc
比表面積、細孔径ガス吸着乾式細孔径範囲
0.35~500 nm / 2~500 nm (N2 または Ar)
0.35~2 nm (CO₂ on C)
測定可能な最小比表面積
0.01 m²/g
Pentafoam 5200e
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(開放) 気泡の含有量ガスピクノメトリー乾式4~135 cm³
Pentapyc 5200e
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(真) 密度ガスピクノメトリー4~135 cm³
細孔径ポロシメトリー乾式サンプル量範囲
0.05 cc
細孔径範囲
1100~0.0064 µm
粒子径レーザ回折・散乱法乾式 / 湿式粒子径範囲
0.1 μm (乾式) / 0.04 μm (湿式) ~500 μm
粒子径レーザ回折・散乱法乾式 / 湿式粒子径範囲
0.1μm (乾式) / 0.04 μm (湿式) ~2500 μm
粒子径レーザ回折・散乱法乾式 / 湿式粒子径範囲
0.3 μm (乾式) / 0.2 μm (湿式) ~500 μm
比表面積、細孔径ガス吸着乾式細孔径範囲
0.35~500 nm
0.35~2 nm (CO₂ on C)
測定可能な最小比表面積
0.01 m²/g (N2)、0.0005 m²/g (Kr)
粒子径、粒子形状、内部構造SAXS、WAXS、GISAXS乾式 / 湿式粒子径範囲 / 細孔径範囲
1~105 nm (q 範囲 (Cu K-α):0.03~41 nm⁻¹)
粒子径、粒子形状、内部構造SAXS、WAXS、GISAXS乾式 / 湿式粒子径範囲/細孔径範囲
1~160 nm (q範囲 (Cu K-α):0.02~41 nm⁻¹)
(真) 密度ガスピクノメトリー4~135 cm³
(真) 密度ガスピクノメトリー4~135 cm³
(開放) 気泡の含有量ガスピクノメトリー乾式4~135 cm³
(真) 密度ガスピクノメトリー0.25~4.5 cm³
水蒸気吸収量蒸気吸着乾式
サンプル前処理真空脱気乾式
粒子径、相純度、結晶構造XRD、SAXS、WAXS結晶サイズ 5~500 nm  
相分離率 > 0.1 %

 

アントンパール社が提供する粒子特性評価ソリューション

粒子径分布測定装置

粒子は複雑な場合もありますが、粒子の評価が必ずしも複雑なわけではありません。Litesizer シリーズと PSA シリーズなら、ボタンをクリックするだけで粒子径分布を測定できます。さらに次のような特長も備えています。

  • Litesizer シリーズ:動的光散乱法を用いた、ナノメートルからマイクロメートルまでの範囲のゼータ電位、分子量、透過率、屈折率を含む粒子径解析
  • PSA シリーズ:レーザ回折・散乱法を用いた、湿式又は乾式分散によるミリメートル領域までの粒子径分布測定
  • 少量サンプル、有機溶媒での測定、オートサンプラーの使用などを可能にする専用アクセサリー
  • 粒子解析に集中できる:どちらの装置も Kalliope ソフトウェアが使用できるため、測定担当者の負担を最小限に抑えることができます

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真の粉体レオロジー評価

粉体流動セル粉体せん断セルの 2 つのセルと MCR Evolution レオメータの組み合わせによって真の粉体レオロジー測定を行うことで、粉体の特性を十分に評価し、知見を深めることができます。

  • 定評ある MCRe レオメータによる極めて高精度の粉体分析
  • サンプル前処理モードと完全自動測定による高い再現性
  • 品質管理用途にも研究開発用途にも対応可能な多数の測定モード
  • 温度オプションと湿度オプションを備えた唯一のせん断セル

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ガス吸着測定装置

ガス吸着測定装置では、インテリジェントな装置設計と高度なシミュレーション型データ解析モデルを組み合わせることが重要です。

  • 蒸気吸着、物理吸着、化学吸着、高圧吸着など広範囲なアプリケーションに対応
  • 多検体測定とサンプル前処理オプション機能を備えた全自動システム
  • 触媒、医薬品、電池材料、吸着剤、その他の全ての多孔性材料の細孔径、表面積、気体 / 固体の相互作用の分析に最適
  • 高度なデータ解析モデルと簡単なレポート出力によって、従来の材料と複雑な先端材料の双方に対応

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水銀圧入ポロシメータ

マクロ多孔性材料の多孔性の測定に最も広く使われている方法です。

  • 水銀を扱う場合でもオペレータが最も安全に作業できる設計
  • 簡素化された水銀圧入方式や自動オイルパージなどの機能により、PoreMaster が、最も使いやすい水銀圧入ポロシメータを実現
  • ウォームジャッキ方式の自動昇圧速度制御による圧力発生機構によって、究極の高圧データ分解能を実現
  • 水銀の充填、低圧測定、高圧測定を、通常 30 分以内で完了

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固体密度計

最高の精度で必要な全ての固体密度値を 1 台の装置で計測します。

  • 真 (骨格) 密度、タッピングかさ密度、幾何学的密度の測定に対応可能な装置群

  • 1 台の装置で最も広い測定範囲に対応し最高の精度を実現
  • 液体水銀を使用せずに幾何学的密度を測定可能
  • ガスピクノメトリーにより完全に非破壊的な方法で真密度の結果を取得

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SAXS システム

SAXSpace と SAXSpoint 5.0 は、ナノ粒子研究に最適な優れた小角分解能と最高のデータ品質を提供する小角 X 線散乱システムです。

  • 優れた X 線源と光学系により、最高のスペクトル純度とフラックスを実現
  • 寄生散乱を極限まで抑えたコリメーションと最先端のハイブリッド光子カウント (HPC) 検出器により、高い S/N 比と優れたデータ品質を実現
  • 様々なサンプルステージにより、温度と雰囲気が制御された状態での粒子構造評価を実現
  • 長い稼働時間、高いサンプルスループット、低い維持費

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XRD システム

XRDynamic 500 は、あらゆる種類のサンプルに対して卓越したデータ品質を実現する、自動多目的粉末 X 線回折装置です。

  • すぐに体感できるクラス最高の分解能と S/N 比
  • TruBeam™ コンセプトで実現する大型のゴニオメーター半径と真空ビームパス
  • すべての X 線光学系、ビームジオメトリーの変更、装置とサンプルのアライメント調整を完全自動化
  • 反射、透過、SAXS の測定に対応したフレキシブルなサンプルステージ

 

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3年保証

  • 2020年1月1日から、アントンパール社の全ての新しい装置*には、3年間の修理サービスが含まれます。
  • お客様は、予期せぬコストを回避し、常に安心して装置をご利用いただけます。
  • 保証に加えて、幅広い追加サービスとメンテナンスオプションもご用意しています。

*使用されているテクノロジーにより、決められた期間ごとにメンテナンスを必要とする装置があります。該当する装置について3年保証をご利用いただくには、定期的にメンテナンスを行う必要があります。

さらに詳しく

はじめから最高性能の装置を

アントンパール社では粒子の特性に応じた各種装置を取り揃えていますが、どの装置にも共通していることがひとつあります。いずれも、その種類では初の装置であり、今なお、その分野で主要な装置であり続けているということです。例えば、1967年に開発された PSA は、レーザ回折・散乱法を使用した最初の粒子径分布測定装置です。また、初の商用小角 X 線散乱 (SAXS) カメラは、Otto Kratky が 1957 年に開発し、アントンパール社が製造したものです。現在でも、アントンパール社の SAXS システムは、この技術に関する基準となっています。当社ブランドの 1 つであるカンタクローム・インスツルメンツがトップブランドへの歩みを開始したのは 1968 年のことです。それ以来、専任の科学者チームが、ユーザーと密接に連絡を取り合いながら技術革新を進め、多孔性物質や粉体を対象とする、最適な測定装置を実現してきました。

粒子特性評価におけるアントンパール社の専門知識を、粒子研究や材料開発にご活用ください。

アントンパール社では、各種の測定装置に加えて、技術の応用に関するコンサルティングや情報提供も行っています。アプリケーションレポート、Anton Paar Wiki、ウェビナーで、以下に挙げるような、粒子特性評価に関する掘り下げた知識を提供しています。 

新しいアプリケーション分野を探求し、製造、品質管理、製品開発において最大限の成果を達成するために、これらのリソースと長年の経験に基づく当社の専門知識をご活用ください。装置やアプリケーションについて、直接お問い合わせいただくこともできます。

お問い合わせ

アントンパール技術センターでの体験講習にご参加ください。

当社の測定装置を実際に体験してみませんか?技術センターで体験可能な装置と、お近くの地域での粒子特性評価セミナーの開催予定についてご確認ください。

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