• • 粒子特性評価

    粒子解析の新たな探査機

    粒子についてよく知れば、素材の挙動をより的確に予測できるようになります。測定パラメーターには、粒径、孔径、粒子の形状、内部構造、ゼータ電位、表面積、反応面積、密度、粉体流など様々なものがあります。アントンパール社は、これら全てのパラメーターのほか、さらに幅広い粒子特性評価に対応する装置を提供しています。多様な製品シリーズに加え、この分野において長年にわたり蓄積された当社のあらゆる知見をご活用いただけます。

• アプリケーション、パラメーター、テクノロジー：ニーズに合った装置を見つけよう

  様々な目的に応じたアプリケーション毎の技術資料、測定可能な全てのパラメーターの概要や粒子特性評価に使用されるテクノロジーなどを切り替えて確認いただけます。

  切り替えて粒子分析アプリケーションを表示する 切り替えて測定パラメーターと装置を表示する

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  造粒と乾燥: 錠剤化におけるチャレンジ

  錠剤には、医薬品有効成分(API)だけでなく、粉末処理や最終投与形態の品質を向上させる添加剤も含まれます。錠剤化は多くの手順からなるプロセスで、その成功は、使用する機器のパラメーターや粉末の扱いに左右されます。特に、造粒と乾燥においては、適切な添加剤の組み合わせが必要になります。このアプリケーションレポートでは、粉砕及び篩過した添加剤ラクトース及びメチルセルロースの吸湿力を調べ、湿式造粒時の添加剤の挙動を推測しています。また、同じ添加剤を異なる温度でテストし、流動層乾燥器の乾燥効果を再現しました。湿式造粒時に吸収された水分量と乾燥時の連続的な温度作用が、流動及び圧縮特性に影響を及ぼすことがわかりました。

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  触媒の特性評価

  反応前と使用後の触媒の特性評価を行うと、触媒プロセスの有効性と効率に関する重要情報が得られます。これを指針として、新たな触媒を設計することができます。この場合に最も重要なパラメーターは、細孔径、細孔容積、有効比表面積、粒径、比表面酸性度、流動挙動、及び密着特性です。

  このアプリケーションレポートでは、アントンパール社の装置を使用した実験によって得られるこれら全てのパラメーターの情報が、触媒の開発と品質管理にどのように役立つか説明しています。

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  食品の特性評価

  食品粉末の配合、製造、パッケージプロセスには、消費者の安全性とロイヤルティを確保するためにバッチ間の一貫性が必要です｡密度、粒子サイズ、凝集力、圧縮性、透過性などを測定するアントンパール社の装置を使用した測定から得られる情報は、食品粉末の品質と一貫性にとって重要です。このアプリケーションレポートでは粉ミルクと中力粉に注目します。これは、これらの粉体自体があらゆる製品に使用されており、多くの食品や栄養補助食品の重要な原料にもなっているからです。

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  金属粉体の特性評価

  金属粉体は、積層造形など様々な粉末冶金処理に使用されています。常に高い製品品質を保証する上で極めて重要なのが粉体の特性です。粉体粘弾性測定、動的光散乱、BET、密度測定などの標準的な粉体分析方法が使用されます。

  アプリケーションレポートをダウンロードすると、フロー特性、空孔性、圧縮性、充填密度、サイズ分布などを測定する方法をご確認いただけます。これらの方法を実行可能な一連の装置を使用して金属粉体の特性を評価することにより、製造工程で滑らかな流動性、焼結製品の安定性の確保、過去の製造工程で余った金属粉体がまだ使用可能か判断することができます。

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  食品の特性評価

  食品の粒径は、輸送、保管、保存寿命など、製造工程のほとんどの要素には影響しませんが、味や口あたりなどの食感には決定的な影響を及ぼします。

  PSA(粒径分布測定装置)は、湿式と乾式分散のどちらも測定できます。ミリメートル台からナノメートル台まで測定範囲が広いため、食品業界における製造工程と品質管理の要望に最適な機種です。

  アプリケーションレポートをダウンロードすると、レーザー回折・散乱法による食品特性評価のメリットをご確認いただけます。

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  細胞培養媒体から分離したエクソソームの特性評価

  薬物送達システムとしてのエクソソームの可能性は、長い間認識されてきました。このアプリケーションレポートでは、Litesizer™ 500を使用してエクソソームの粒径特性を効率的に評価し、この基準を使用して生体外でのエクソソームの安定性を調べる方法を紹介しています。ゼータ電位測定も行い、エクソソームの生物学的機能に関して有用と思われる情報も得られました。

  アプリケーションレポートをダウンロードすると、エクソソームの特性評価の詳細をご覧いただけます。

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  より高速で高感度なゼータ電位測定

  これまでゼータ電位測定における最高水準の技術であったのは、いわゆる位相解析光散乱法(PALS)であり、電気泳動光散乱法(ELS)に基づいています。このアプリケーションレポートでは、新たに特許を取得したcmPALSと呼ばれているテクノロジーについて説明しています。cmPALSでは、測定時間を大幅に短く、印加する電界を大幅に弱くできるため、取り扱いに注意が必要なサンプルでも高い信頼性で分析できます。

  アプリケーションレポートをダウンロードすると、感度と安定性が向上したELS測定の詳細をご覧いただけます。

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  With Flying Colors: 乾式ジェット分散技術による顔料の粒径分析

  アプリケーションレポート

  

  アルゴン吸着を使用したゼオライトの構造解析の改善

  アプリケーションレポート

  

  アントンパール社の粉体セルで粉体の粘結性を測定

  アプリケーションレポート

  

  バッテリーの陰極材料と陽極材料の比表面積の測定

  アプリケーションレポート

  

  ペンタセン薄膜のGIXD調査

  アプリケーションレポート

  

  二酸化炭素吸着を使用した273.15 K(0 °C)における多孔質炭素の細孔径分析

  アプリケーションレポート

  

  二酸化珪素: フュームドシリカの粉体流の測定

  アプリケーションレポート

  

  取り扱い注意: 高導電率の蛋白質サンプル上でゼータ電位を測定

  アプリケーションレポート

  

  品質管理手法の併用アプローチ: 産業用粉体塗装処理の例

  アプリケーションレポート

  

  微細な単層リポソームの形成過程の観察

  アプリケーションレポート

  

  米粒の特性分析

  アプリケーションレポート

  

  金属有機構造体の細孔径と細孔容積の測定

  アプリケーションレポート

• パラメーターをクリックすると、粒子特性評価の分野ごとに製品が表示されます。表のしぼり込み機能でテクノロジーを選択すると、測定対象別の情報が表示されます。

  装置名をクリックすると、特長や仕様の詳細が表示されます。

  

  細孔径

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  粒径

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  比表面積

  全てのデバイスを表示

  サンプルの前処理

  全てのデバイスを表示

  密度

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  反応面積

  全てのデバイスを表示

  蒸気取り込み

  全てのデバイスを表示

  セルの多孔性

  全てのデバイスを表示

  粒子の形状

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  ゼータ電位

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  パウダーフロー特性

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  ガスの貯蔵容量

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  測定タイプ

  • 密度
  • ガスの貯蔵容量
  • 内部構造
  • セルの多孔性
  • 粒子の形状
  • 粒径
  • 細孔径
  • パウダーフロー特性
  • 反応面積
  • サンプルの前処理
  • 比表面積
  • 蒸気取り込み
  • ゼータ電位

  閉じる

  テクノロジー

  • かさ密度
  • 動的流動BET解析
  • 動的光散乱(DLS)
  • 電気泳動光散乱(ELS)
  • フロー脱気
  • ガスピクノメトリー
  • ガス吸着
  • 重量法による水蒸気吸着
  • レーザー回折・散乱法(LD)
  • ポロシメトリー
  • レオロジー
  • SAXS、WAXS、GISAXS
  • スピンリッフリング
  • 静的光散乱(SLS)
  • 真空脱気
  • 蒸気吸着

  閉じる

  選択項目:全てのフィルターXをリセット

  結果が見つかりませんでした!

  	測定タイプ	テクノロジー	分散のタイプ	測定範囲
  AUTOFLOW BET+ 製品の詳細を表示 お問い合わせ	比表面積範囲	ガス吸着(BET)、流動法BET解析		測定可能な最小比表面積 0.1 m²/g
  Autosorb 6iSA 製品の詳細を表示 お問い合わせ	比表面積範囲/細孔径範囲	ガス吸着		比表面積、細孔径 2～500 nm (NまたはAr) 0.35～2 nm (CO₂ on C) 測定可能な最小比表面積 0.1 m²/g
  Autosorb iQ シリーズ 製品の詳細を表示 お問い合わせ	比表面積、細孔径	ガス吸着(物理吸着、化学吸着)	乾式	細孔径範囲 0.35～500 nm 測定可能な最小比表面積 0.0005 m²/g～(クリプトン)、0.01 m²/g～(N₂)
  AutoTap及びDual AutoTap 製品の詳細を表示 お問い合わせ	(かさ)密度、パウダーフロー特性	タップ密度	乾式	1～1000 cm³
  ChemBET Pulsar 製品の詳細を表示 お問い合わせ	反応面積	ガス吸着(化学吸着)	乾式
  FloVac脱気装置 製品の詳細を表示 お問い合わせ	サンプルの前処理	真空、流体脱気	乾式
  iSorb HP 製品の詳細を表示 お問い合わせ	ガスの貯蔵量	高圧、ガス吸着	乾式
  Litesizer 100 製品の詳細を表示 お問い合わせ	粒径	動的光散乱	液体	粒径範囲 0.3～10 nm
  Litesizer 500 製品の詳細を表示 お問い合わせ	粒径、ゼータ電位	動的光散乱、電気泳動光散乱(ELS)、静的光散乱(SLS)	液体	粒径範囲 0.3～10 nm
  MasterPrep Degasser 製品の詳細を表示 お問い合わせ	サンプルの前処理	真空、流体脱気	乾式
  MCR粉体流動セル 製品の詳細を表示 お問い合わせ	パウダーフロー特性	複数の粉体流の測定方法、レオロジー	乾式/湿式	粒径範囲 5 nm～5 mm
  MCR粉体せん断セル 製品の詳細を表示 お問い合わせ	パウダーフロー特性、密度	せん断テスト	乾式/湿式
  Ultrapyc 5000 製品の詳細を表示 お問い合わせ	(真)密度	ガスピクノメトリー		4～135 cm³
  Ultrapyc 5000 Micro 製品の詳細を表示 お問い合わせ	(真)密度	ガスピクノメトリー		0.25～4.5 cm³
  Ultrapyc 3000 製品の詳細を表示 お問い合わせ	(真)密度	ガスピクノメトリー		4～135 cm³
  Pentapyc 5200e 製品の詳細を表示 お問い合わせ	(真)密度	ガスピクノメトリー		4～135 cm³
  マイクロロータリー縮分器 製品の詳細を表示 お問い合わせ	サンプルの前処理	代表サンプリング	乾式	サンプル量範囲 20 cc
  NOVAtouchシリーズ 製品の詳細を表示 お問い合わせ	比表面積、細孔径	ガス吸着	乾式	細孔径範囲 0.35～500 nm / 2～500 nm (NまたはAr) 0.35～2 nm (CO₂ on C) 測定可能な最小比表面積 0.01 m²/g
  PoreMasterシリーズ 製品の詳細を表示 お問い合わせ	細孔径	ポロシメトリー	乾式	サンプル量範囲 0.05 cc 孔径範囲 1100～0.0064 µm
  PSA 1090 製品の詳細を表示 お問い合わせ	粒径	レーザー回折・散乱法	乾式/湿式	粒径範囲 0.1 μm(乾式)/0.04(湿式)～500 μm
  PSA 1190 製品の詳細を表示 お問い合わせ	粒径	レーザー回折・散乱法	乾式/湿式	粒径範囲 0.1 μm(乾式)/0.04(湿式)～2500 μm
  PSA 990 製品の詳細を表示 お問い合わせ	粒径	レーザー回折・散乱法	乾式/湿式	粒径範囲 0.3 μm(乾式)/0.2(湿式)～500 μm
  QUADRASORB evo 製品の詳細を表示 お問い合わせ	比表面積、細孔径	ガス吸着	乾式	細孔径範囲 0.35～500 nm 0.35～2 nm (CO₂ on C) 測定可能な最小比表面積 0.01 m²/g、0.0005 m²/g
  SAXSpace 製品の詳細を表示 お問い合わせ	粒径、粒子の形状、内部構造	SAXS、WAXS、GISAXS	乾式/湿式	粒径範囲/孔径範囲 1～105 nm(q範囲(Cu K-alpha): 0.03 ～41 nm⁻¹)
  SAXSpoint 2.0 製品の詳細を表示 お問い合わせ	粒径、粒子の形状、内部構造	SAXS、WAXS、GISAXS	乾式/湿式	粒径範囲/孔径範囲 1～160 nm(q範囲(Cu K-alpha): 0.02 ～41 nm⁻¹)
  Ultrapyc 5000 Foam 製品の詳細を表示 お問い合わせ	(開放)気泡の含有量	ガスピクノメトリー	乾式	4～135 cm³
  Pentafoam 5200e 製品の詳細を表示 お問い合わせ	(開放)気泡の含有量	ガスピクノメトリー	乾式	4～135 cm³
  VSTAR 製品の詳細を表示 お問い合わせ	蒸気取り込み	蒸気吸着	乾式
  XeriPrep Degasser 製品の詳細を表示 お問い合わせ	サンプルの前処理	真空脱気	乾式

   

   

  アントンパール社が提供する粒子特性評価ソリューション

  

  粒径分布測定装置

  粒子は複雑な場合もありますが、粒子の評価が必ずしも複雑なわけではありません。LitesizerとPSAシリーズなら、ボタンを押すだけで粒径分布を測定できます。さらに次のような特長も備えています。

  • Litesizerシリーズ: 動的光散乱を用いた、ナノメートルからマイクロメートルまでの範囲のゼータ電位、分子量、透過率、屈折率を含む粒径解析。
  • PSAシリーズ: 湿式又は乾式分散によるミリメートル領域までの粒径分布測定に対応するレーザー回折装置。
  • 少量サンプル、有機溶媒での測定、オートサンプラーの使用などを可能にする専用アクセサリ。
  • 粒子解析にフォーカス: どちらの装置もKalliopeソフトウェアが使用できるため、測定担当者の負担を最小限に抑えることができます。

  さらに詳しく

  

  真の粉体レオロジー評価

  粉体流動セルと粉体せん断セルの2つのセルとMCRレオメータの組み合わせによって真の粉体レオロジー測定を行うことで、粉体の特性を十分に評価し、理解することができます。

  • 定評あるMCRレオメータによる極めて高精度の粉体分析。
  • サンプル前処理モードと完全自動測定による高い再現性。
  • 品質管理用途にも研究開発用途にも対応可能な多数の測定モード。
  • 温度オプションと湿度オプションを備えた唯一のせん断セル。

  さらに詳しく

  

  ガス吸着測定装置

  ガス吸着測定装置では、インテリジェントな装置設計と高度なシミュレーション型データ解析モデルを組み合わせることが重要です。

  • 蒸気吸着、物理吸着、化学吸着、高圧吸着など広範囲なアプリケーションに対応。
  • 多検体測定とサンプル前処理オプション機能を備えた全自動システム。
  • 触媒、医薬品、電池材料、吸着剤、その他の全ての多孔性材料の孔径、表面積、気体/固体の相互作用の分析に最適。
  • 高度なデータ解析モデルと簡単なレポート出力によって、従来の材料と複雑な先端材料の双方に対応。

  さらに詳しく

  

  水銀圧入ポロシメータ

  マクロ多孔性材料の空孔性の測定に最も広く使われている方法です。

  • 水銀を扱う場合でもオペレータが最も安全に作業できる設計。
  • 簡素化された水銀圧入方式や自動オイルパージなどの機能により、PoreMasterが、最も使いやすい水銀圧入ポロシメータを実現。
  • ウォームジャッキ方式の自動昇圧速度制御による圧力発生機構によって、究極の高圧データ分解能を実現。
  • 水銀の充填、低圧測定、高圧測定を、通常30分以内で完了。

  さらに詳しく

  

  固体密度計

  最高の精度で必要な全ての固体密度値を1台の装置で計測します。

  • 真（骨格）密度、タッピングかさ密度、幾何学的密度の測定に対応可能な装置群。

  • 1台の装置で最も広い測定範囲に対応し最高の精度を実現。
  • 液体水銀を使用せずに幾何学的密度を測定可能。
  • ガスピクノメトリーにより完全に非破壊的な方法で真密度の結果を取得。

  さらに詳しく

  

  SAXSシステム:

  SAXSpaceとSAXSpoint 2.0は、ナノ粒子研究に最適な優れた小角分解能と最高のデータ品質を提供する小角X線散乱システムです。

  • 優れたX線源と光学系により、最高のスペクトル純度とフラックスを実現。
  • 寄生散乱を極限まで抑えたコリメーションと最先端のハイブリッド光子カウント(HPC)検出器により、高いS/N比と優れたデータ品質を実現。
  • 様々なサンプルステージにより、温度と雰囲気が制御された状態での粒子構造評価を実現。
  • 長い稼働時間、高いサンプルスループット、低い維持費。

  さらに詳しく

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• はじめから最高性能の装置を

  アントンパール社は粒子の特性に応じた各種装置を取り揃えていますが、どの装置にも共通していることがひとつあります。いずれも、その種類では初の装置であり、今なお、その分野で主要な装置であり続けていることです。例えば、1967年に開発されたPSAは、レーザー回折・散乱法テクノロジーを使用した最初の粒径分布測定装置です。また、初の商用小角X線散乱(SAXS)カメラは、Otto Kratkyが1957年に開発し、アントンパール社が製造したものです。アントンパール社のSAXSシステムは現在もなお、このテクノロジーに関する基準となる装置です。当社ブランドの1つであるカンタクローム・インスツルメンツがトップブランドへの歩みを開始したのは1968年のことです。それ以来、献身的な科学者たちのチームが、利用者と密に連携しながら新機軸の開発を進め、多孔性素材や粉体を対象とする、考えうる最高の測定装置を作り出してきました。

アントンパール社は、各種の測定装置に加えて、技術の応用に関するコンサルティングや情報提供も行っています。アプリケーションレポート、Anton Paar Wiki、Anton Paar Blog、Webinarで、以下に挙げるような、粒子特性評価に関する掘り下げた知識を提供しています。 

• 動的光散乱(DLS): 粒径測定の基本概念
• 粒径の測定
• 粒径の分布
• レーザー回折(LD)の基本事項
• 粉体レオロジー
• 小角X線散乱(SAXS)によるナノ構造分析
• 比表面積の測定
• 粉体の固体密度
• (ELS)でゼータ電位を測定する方法
• その他

新しいアプリケーション分野を探求し、製造、品質管理、製品開発において最大限の成果を達成するために、これらのリソースと長年の経験に基づく当社の専門知識をご活用ください。装置やアプリケーションについて、直接お問い合わせいただくこともできます。

お問い合わせ

弊社の測定装置の活用方法を実際に体験してみませんか? 技術センターで体験可能な装置と、お近くの地域での粒子特性評価セミナーの開催予定についてご確認ください。

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