粒子特性評価

粒子解析の新たな探査機

粒子についてよく知れば、素材の挙動をより的確に予測できるようになります。この研究で測定したいパラメーターとして、粒径、孔径、粒子の形状、内部構造、ゼータ電位、表面積、反応面積、密度、粉体流、その他があります。アントンパール社は、以上のパラメータの評価かつ様々なな粒子特性に応じた各種測定装置を世界中に販売しています。お客様はこのように多様な装置群と、長年にわたりこの分野で蓄積された知見を全て手に入れていただくことができます。

アプリケーション、パラメーター、テクノロジー：ニーズに合った装置を見つけよう

様々な目的に応じたアプリケーション毎の技術資料、測定可能な全てのパラメーターの概要や粒子特性評価に使用されるテクノロジーなどを切り替えて確認いただけます。

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造粒と乾燥: 錠剤化におけるチャレンジ

錠剤には、医薬品有効成分(API)だけでなく、粉末処理や最終投与形態の品質を向上させる添加剤も含まれます。錠剤化は多くの手順からなるプロセスで、その成功は、使用する機器のパラメーターや粉末の扱いに左右されます。特に、造粒と乾燥においては、適切な添加剤の組み合わせが必要になります。このアプリケーションレポートでは、粉砕及び篩過した添加剤ラクトース及びメチルセルロースの吸湿力を調べ、湿式造粒時の添加剤の挙動を推測しています。また、同じ添加剤を異なる温度でテストし、流動層乾燥器の乾燥効果を再現しました。湿式造粒時に吸収された水分量と乾燥時の連続的な温度作用が、流動及び圧縮特性に影響を及ぼすことがわかりました。

触媒の特性評価

反応前と使用後の触媒の特性評価を行うと、触媒プロセスの有効性と効率に関する重要情報が得られます。これを指針として、新たな触媒を設計することができます。この場合に最も重要なパラメーターは、細孔径、細孔容積、有効比表面積、粒径、比表面酸性度、流動挙動、及び密着特性です。

このアプリケーションレポートでは、アントンパール社の装置を使用した実験によって得られるこれら全てのパラメーターの情報が、触媒の開発と品質管理にどのように役立つか説明しています。

食品の特性評価

食品粉末の配合、製造、パッケージプロセスには、消費者の安全性とロイヤルティを確保するためにバッチ間の一貫性が必要です｡密度、粒子サイズ、凝集力、圧縮性、透過性などを測定するアントンパール社の装置を使用した測定から得られる情報は、食品粉末の品質と一貫性にとって重要です。このアプリケーションレポートでは粉ミルクと中力粉に注目します。これは、これらの粉体自体があらゆる製品に使用されており、多くの食品や栄養補助食品の重要な原料にもなっているからです。

金属粉体の特性評価

金属粉体は、積層造形など様々な粉末冶金処理に使用されています。常に高い製品品質を保証する上で極めて重要なのが粉体の特性です。粉体粘弾性測定、動的光散乱、BET、密度測定などの標準的な粉体分析方法が使用されます。

アプリケーションレポートをダウンロードすると、フロー特性、空孔性、圧縮性、充填密度、サイズ分布などを測定する方法をご確認いただけます。これらの方法を実行可能な一連の装置を使用して金属粉体の特性を評価することにより、製造工程で滑らかな流動性、焼結製品の安定性の確保、過去の製造工程で余った金属粉体がまだ使用可能か判断することができます。

食品の特性評価

食品の粒径は、輸送、保管、保存寿命など、製造工程のほとんどの要素には影響しませんが、味や口あたりなどの食感には決定的な影響を及ぼします。

PSA(粒子径分布測定装置)は、湿式と乾式分散のどちらも測定できます。ミリメートル台からナノメートル台まで測定範囲が広いため、食品業界における製造工程と品質管理の要望に最適な機種です。

アプリケーションレポートをダウンロードすると、レーザー回折・散乱法による食品特性評価のメリットをご確認いただけます。

細胞培養媒体から分離したエクソソームの特性評価

薬物送達システムとしてのエクソソームの可能性は、長い間認識されてきました。このアプリケーションレポートでは、Litesizer™ 500を使用してエクソソームの粒径特性を効率的に評価し、この基準を使用して生体外でのエクソソームの安定性を調べる方法を紹介しています。ゼータ電位測定も行い、エクソソームの生物学的機能に関して有用と思われる情報も得られました。

アプリケーションレポートをダウンロードすると、エクソソームの特性評価の詳細をご覧いただけます。

より高速で高感度なゼータ電位測定

これまでゼータ電位測定における最高水準の技術であったのは、いわゆる位相解析光散乱法(PALS)であり、電気泳動光散乱法(ELS)に基づいています。このアプリケーションレポートでは、新たに特許を取得したcmPALSと呼ばれているテクノロジーについて説明しています。cmPALSでは、測定時間を大幅に短く、印加する電界を大幅に弱くできるため、取り扱いに注意が必要なサンプルでも高い信頼性で分析できます。

アプリケーションレポートをダウンロードすると、感度と安定性が向上したELS測定の詳細をご覧いただけます。

パラメーターをクリックすると、粒子特性評価の分野ごとに製品が表示されます。次いで表のしぼり込み機能を使って、特定の技術をキーとしてさらに検索を進め、測定対象別の情報を得てください。

個々の装置をクリックすると、詳しい特徴や仕様を確認できます。

孔径

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粒径

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表面積

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サンプルの前処理

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Density

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反応面積

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蒸気取り込み

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セルの多孔性

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粒子の形状

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ゼータ電位

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パウダーフロー特性

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ガスの貯蔵容量

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	Measurement	テクノロジー	分散のタイプ	測定範囲
AUTOFLOW BET+ 製品の詳細を表示する依頼	表面積範囲	ガス吸着(BET)、動的流動BET解析		測定可能な最小表面積 0.1 m²/g
Autosorb 6iSA 製品の詳細を表示する依頼	表面積範囲/孔径範囲	ガス吸着		表面積、孔径 2～500 nm(N₂又はAr) 0.35～2 nm(CO₂ on C) 測定可能な最小表面積 0.1 m²/g
Autosorb iQ シリーズ製品の詳細を表示する依頼	表面積、細孔径	ガス吸着(物理吸着、化学吸着)	乾式	細孔径範囲 0.35～500 nm 測定可能な最小表面積 0.0005 m²/g～(クリプトン)、0.01 m²/g～(N₂)
Autotap及びDual Autotap 製品の詳細を表示する依頼	Density	かさ密度	乾式	サンプル量範囲 1 cc
ChemBET Pulsar 製品の詳細を表示する依頼	反応面積	ガス吸着(化学吸着)	乾式
FloVac脱気装置製品の詳細を表示する依頼	サンプルの前処理	真空、流体脱気	乾式
iSorb HP 製品の詳細を表示する依頼	ガスの貯蔵容量	高圧、ガス吸着	乾式
Litesizer 100 製品の詳細を表示する依頼	粒径	動的光散乱	液体	粒径範囲 0.3 nm～10 µm
Litesizer 500 製品の詳細を表示する依頼	粒径、ゼータ電位	動的光散乱、電気泳動光散乱(ELS)、静的光散乱(SLS)	液体	粒径範囲 0.3 nm～10 µm
MasterPrep Degasser 製品の詳細を表示する依頼	サンプルの前処理	真空、流体脱気	乾式
MCR粉体流動セル製品の詳細を表示する依頼	パウダーフロー特性	複数の粉体流の測定方法、レオロジー	乾式/湿式	粒径範囲 5 nm～5 mm
MCR粉体せん断セル製品の詳細を表示する依頼	パウダーフロー特性、密度	せん断テスト	乾式/湿式
Micro UltraPyc 1200e 製品の詳細を表示する依頼	Density	ガスピクノメトリー		サンプル量範囲 0.025 cc
マイクロロータリー縮分器製品の詳細を表示する依頼	サンプルの前処理	代表サンプリング	乾式	サンプル量範囲 20 cc
NOVAtouchシリーズ製品の詳細を表示する依頼	表面積、細孔径	ガス吸着	乾式	細孔径範囲 0.35～500 nm/2～500 nm(N又はAr) 0.35～2 nm(CO₂ on C) 測定可能な最小表面積 0.01 m²/g
PentaFoam 5200e 製品の詳細を表示する依頼	セルの多孔性	ガスピクノメトリー	乾式	サンプル量範囲 1 cc
PentaPyc 5200e 製品の詳細を表示する依頼	Density	ガスピクノメトリー	乾式	サンプル量範囲 1 cc
PoreMasterシリーズ製品の詳細を表示する依頼	孔径	有孔性	乾式	サンプル量範囲 0.05 cc 細孔径範囲 1100～0.0064 µm
PSA 1090 製品の詳細を表示する依頼	粒径	レーザー回折・散乱法	乾式/湿式	粒径範囲 0.1 μm(乾式)/0.04 μm(湿式)～500 μm
PSA 1190 製品の詳細を表示する依頼	粒径	レーザー回折・散乱法	乾式/湿式	粒径範囲 0.1 μm(乾式)/0.04 μm(湿式)～2500 μm
PSA 990 製品の詳細を表示する依頼	粒径	レーザー回折・散乱法	乾式/湿式	粒径範囲 0.3 μm(乾式)/0.2 μm(湿式)～500 μm
Quadrasorb evo 製品の詳細を表示する依頼	表面積、細孔径	ガス吸着	乾式	細孔径範囲 0.35～500 nm 0.35～2 nm(CO₂ on C) 測定可能な最小表面積 0.01 m²/g、0.0005 m²/g
SAXSpace 製品の詳細を表示する依頼	粒径、粒子の形状、内部構造	SAXS、WAXS、GISAXS	乾式/湿式	粒径範囲/細孔径範囲 1～105 nm(q範囲(Cu K-alpha): 0.03 nm⁻¹～41 nm⁻¹)
SAXSpoint 2.0 製品の詳細を表示する依頼	粒径、粒子の形状、内部構造	SAXS、WAXS、GISAXS	乾式/湿式	粒径範囲/細孔径範囲 1～160 nm(q範囲(Cu K-alpha): 0.02 nm⁻¹～41 nm⁻¹)
UltraFoam 1200e 製品の詳細を表示する依頼	セルの多孔性	ガスピクノメトリー	乾式	サンプル量範囲 1 cc
UltraPyc 1200e 製品の詳細を表示する依頼	Density	ガスピクノメトリー	乾式	サンプル量範囲 1 cc
VSTAR 製品の詳細を表示する依頼	蒸気取り込み	蒸気吸着	乾式
XeriPrep Degasser 製品の詳細を表示する依頼	サンプルの前処理	真空脱気	乾式

アントンパール社が提供する粒子特性評価ソリューション

粒子径分布測定装置

粒子は複雑な場合もありますが、粒子の評価が必ずしも複雑だというわけではありません。LitesizerとPSAシリーズは、ボタンを押すだけで粒子径分布を測定できるだけでなく、以下のような特長を持ちます。

Litesizerシリーズ: 動的光散乱を用いた、ナノメートルからマイクロメートルまでの範囲のゼータ電位、分子量、透過率、屈折率を含む粒子径解析。
PSAシリーズ: 湿式又は乾式分散によるミリメートル領域までの粒子径分布測定を行えるレーザー回折装置。
少量サンプル、有機溶媒での測定、オートサンプラーの使用などを可能にする専用アクセサリ。
測定担当者は粒子解析に集中できます: Kalliopeソフトウェアが両方の装置で使用できるため、測定担当者の負担は最小限で済みます。

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真の粉体レオロジー

粉体流動セルと粉体せん断セルの2つのセルとMCRレオメータの組合せにより、真の粉体レオロジー測定を行うことができます。粉体の特性を十分に評価し、理解していただくことができます。

定評あるMCRレオメータによる極めて高精度の粉体分析。
サンプル前処理モードと完全自動測定による高い再現性。
品質管理用途にも研究開発用途にも対応可能な多数の測定モード。
温度オプションと湿度オプションを備えた唯一のせん断セル。

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ガス吸着測定装置

ガス吸着測定装置では、インテリジェントな装置設計と高度なシミュレーション型データ解析モデルを組み合わせることが重要です。

蒸気吸着、物理吸着、化学吸着、高圧吸着など広範囲なアプリケーションに対応。
多検体測定とサンプル前処理オプション機能を備えた全自動システム。
触媒、医薬品、電池材料、吸着剤、その他の全ての多孔性材料の細孔径、表面積、気体/固体の相互作用の分析に最適。
高度なデータ解析モデルを使いつつ簡単なレポート出力で、従来の材料と複雑な先端材料の双方に対応。

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水銀圧入ポロシメータ

マクロ多孔性材料の空孔性の測定に最も広く使われている方法です。

水銀を扱う場合でもオペレータが最も安全に作業できる設計。
簡素化された水銀圧入方式や自動オイルパージなどの機能により、PoreMasterが、最も使いやすい水銀圧入ポロシメータを実現。
ウォームジャッキ方式の自動昇圧速度制御による圧力発生機構によって、究極の高圧データ分解能を実現。
水銀の充填、低圧測定、高圧測定を、通常30分以内で完了。

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固体密度計

最高の精度で必要な全ての固体密度値を1台の装置で計測します。

真（骨格）密度、タッピングかさ密度、幾何学的密度の測定に対応可能な装置群。
クラス最高: 最も広い測定範囲で最高の精度を実現。
安全性と費用対効果の高さ: 幾何学的密度の測定に液体水銀が不要。
非破壊ガスピクノメトリー: 不活性でクリーンガスを使用。

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SAXSシステム:

SAXSpaceとSAXSpoint 2.0は、ナノ粒子研究に最適な優れた小角分解能と最高のデータ品質を提供する小角X線散乱システムです。

優れたX線源と光学系により、最高のスペクトル純度とフラックスを実現。
寄生散乱を極限まで抑えたコリメーションと最先端のハイブリッド光子カウント(HPC)検出器により、高いS/N比と優れたデータ品質を実現。
様々なサンプルステージにより、温度と雰囲気が制御された状態での粒子構造評価を実現。
長い稼働時間、高いサンプルスループット、低い維持費。

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はじめから最高の装置を

アントンパール社は粒子特性に応じた各種装置を取り揃えていますが、どの装置にも共通していることがひとつあります: いずれも、その種類では初の装置であり、今なお、その分野で主要な装置であり続けているのです。例えば、考案されたのは1967年にさかのぼるPSAは、レーザー回折技術を用いる初の粒径アナライザーでした。初の商用小角X線散乱 (SAXS) カメラは、Otto Kratkyが1957に開発し、アントンパール社が製造したものです。現在でもアントンパール社のSAXSシステムは、この技術の水準点であり続けています。アントンパール社のブランドであるカンタクローム・インスツルメンツは、1968年にその歩みを始めました。それ以来、献身的な科学者たちのチームが、利用者と密に連携しながら新機軸の開発を進め、多孔性素材や粉体を対象とする、考えうる最高の測定装置を作り出したのです。