Quanto melhor conhecer suas partículas, melhor poderá prever o comportamento de seus materiais. Os parâmetros que recomendamos medir para estas investigações incluem o tamanho de partícula, tamanho de poro, forma de partícula, estrutura interna, potencial zeta, área superficial, área reativa, densidade, fluxo de pó, pureza de fase, estrutura do cristal e muito mais. A Anton Paar lhe oferece instrumentação para todos eles e muito mais – é o mais amplo portfólio de caracterização de partículas disponibilizado por um único fornecedor no mundo todo. Faça uso dessa ampla possibilidade de escolha e também se beneficie da experiência de uma década em campo - tudo em apenas um ponto de contato.
Clique em um parâmetro para ver o que a Anton Paar oferece em um campo específico de caracterização de partículas. É possível, então, usar os filtros na tabela para focar ainda mais sua pesquisa em uma tecnologia específica e obter informações sobre as diferentes faixas de medição.
Ao clicar em um equipamento, é possível ver seus recursos e especificações com detalhes.
Medição | Tecnologia | Tipo de dispersão | Faixa de medição | |
|---|---|---|---|---|
| Área superficial/tamanho de poros | Sorção de gás (fisissorção, quimissorção) | Seco | Faixa de Tamanho do Poro 0,35 nm a 500 nm Área Mínima de Superfície Mensurável de 0,0005 m²/g com crípton, de 0,01 m²/g com N₂ | |
| Densidade (Aparente), Propriedades de Fluxo de Pó | Densidade Compactada | Seco | 1 cm³ a 1000 cm³ | |
| Área reativa | Sorção de gás (quimissorção) | Seco | ||
| Preparação da Amostra | Vácuo, desgaseificação de fluxo | Seco | ||
| Capacidade de armazenamento de gases | Alta pressão, sorção de gás | Seco | ||
| Tamanho de partícula | Dispersão de luz dinâmica | Líquido | Faixa de Tamanho das Partículas 0,3 nm a 10 µm | |
| Tamanho de partículas, potencial zeta | Dispersão de luz dinâmica, espalhamento de luz eletroforético (ELS), dispersão de luz estática (SLS) | Líquido | Faixa de Tamanho das Partículas 0,3 nm a 10 µm | |
| Propriedades do fluxo de pós | Reologia de múltiplos métodos de medição de fluxo de pó | Seco/líquido | Faixa de Tamanho das Partículas 5 nm a 10 mm | |
| Propriedades do fluxo de pós, densidade | Teste de cisalhamento | Seco/líquido | ||
Micro Rotary Riffler Mostrar Detalhes do Produto Fazer uma solicitação | Preparação da Amostra | Amostragem representativa | Seco | Faixa de Volume 20 cc |
| Área superficial/tamanho de poros | Sorção de gás | Seco | Faixa de Tamanho 0,35 nm a 500 nm / 2 nm a 500 nm (com N2 ou Ar) 0,35 nm a 2 nm (com CO₂ em C) Área Mínima de Superfície Mensurável 0,01 m²/g | |
Pentafoam 5200e Mostrar Detalhes do Produto Fazer uma solicitação | Teor de célula (Aberta) | Picnometria de gás | Seco | 4 cm³ a 135 cm³ |
Pentapyc 5200e Mostrar Detalhes do Produto Fazer uma solicitação | Densidade (Real) | Picnometria de gás | 4 cm³ a 135 cm³ | |
| Tamanho de poro | Porosimetria | Seco | Faixa de Volume 0,05 cc Faixa de Tamanho do Poro 1100 µm a 0,0064 µm | |
| Tamanho de partícula | Difração do laser | Seco/líquido | Faixa de Tamanho da Partícula 0,1 μm (seco) / 0,04 μm (úmido) a 500 μm | |
| Tamanho de partícula | Difração do laser | Seco/líquido | Faixa de Tamanho da Partícula 0,1 μm (seco) / 0,04 μm (úmido) a 2500 μm | |
| Tamanho de partícula | Difração do laser | Seco/líquido | Faixa de Tamanho da Partícula 0,3 μm (seco) / 0,2 μm (úmido) a 500 μm | |
| Área superficial/tamanho de poros | Sorção de gás | Seco | Faixa de Tamanho do Poro 0,35 nm a 500 nm 0,35 nm a 2 nm (com CO₂ em C) Área Mínima de Superfície Mensurável 0,01 m²/g (N2); 0,0005 m²/g (Kr) | |
| Tamanho de partículas, formato de partículas e estrutura interna | SAXS, WAXS, GISAXS | Seco/líquido | Faixa de Tamanho da Partícula / Faixa de Tamanho do Poro que 1 nm até 105 nm (faixa q (Cu K-alfa): 0,03 nm⁻¹ a 41 nm⁻¹) | |
| Tamanho de partículas, formato de partículas e estrutura interna | SAXS, WAXS, GISAXS | Seco/líquido | Faixa de Tamanho da Partícula / Faixa de Tamanho do Poro que 1 nm até 160 nm (faixa q (Cu K-alfa): 0,02 nm⁻¹ a 41 nm⁻¹) | |
| Densidade (Real) | Picnometria de gás | 4 cm³ a 135 cm³ | ||
| Densidade (Real) | Picnometria de gás | 4 cm³ a 135 cm³ | ||
| Teor de célula (Aberta) | Picnometria de gás | Seco | 4 cm³ a 135 cm³ | |
| Densidade (Real) | Picnometria de gás | 0,25 cm³ a 4,5 cm³ | ||
| Absorção de vapor | Sorção de vapor | Seco | ||
| Preparação da Amostra | Desgaseificação a vácuo | Seco | ||
| Tamanho da Partícula, Pureza de Fase, Estrutura Cristalina | XRD, SAXS, WAXS | Tamanho de cristalito 5 nm a 500 nm Frações de fase >0,1% |
Analisadores do tamanho de partículas
As partículas podem ser complexas, mas a sua medição não precisa ser. As séries Litesizer e PSA permitem a realização de medições do tamanho de partícula com o simples toque de um botão e muito mais:
- Série Litesizer: Dispersão de luz dinâmica para análise do tamanho de partículas, desde a faixa nanométrica até a faixa de micrômetros, inclusive medições do potencial zeta, massa molecular, transmitância e índice de refração
- Série PSA: Difração a laser para a análise de tamanho de dispersões de substâncias líquidas e secas até a faixa de milímetros
- Acessórios dedicados que permitem medições com um pequeno volume de amostra em soluções orgânicas, com o uso de transferência automática de amostras, etc.
- Foco em suas partículas: O software Kalliope atende aos dois equipamentos e reduz o envolvimento do operador ao mínimo
Reologia de pós compactos
As duas células para reologia de pós compactos, a célula de fluxo de pós e a célula de cisalhamento de pós, combinadas com os reômetros MCR, ajudam você a caracterizar e entender os seus pós:
- Altíssima precisão dos renomados reômetros MCRe para análise de pós
- Alta reprodutibilidade graças aos modelos de preparação de amostras e medições totalmente automatizadas
- Múltiplos modos de medição para controle de qualidade e fins científicos
- A única célula de cisalhamento que pode ser equipada com opcionais de temperatura e umidade
Analisadores de adsorção
Na análise de adsorção, é essencial combinar tanto um design inteligente do equipamento quanto modelos avançados de redução de dados computacionais:
- Ampla variedade de equipamentos para sorção de vapor, fisissorção, quimissorção e sorção de alta pressão
- Sistemas totalmente automatizados com análise por múltiplas estações e opções de preparação de amostras integradas
- Perfeito para analisar o tamanho do poro, a área superficial e as interações gás/sólido de catalisadores, produtos farmacêuticos, materiais de bateria, adsorventes e todos os outros materiais porosos
- Modelos de redução de dados e relatórios de medição rápida reconhecidos mundialmente, para materiais tradicionais e novos e complexos
Porosímetros de intrusão de mercúrio
O método mais amplamente utilizado para determinar a porosidade de materiais macroporosos:
- Concebido para fornecer a mais segura experiência para o operador, mesmo ao trabalhar com mercúrio
- Recursos como a introdução simplificada de mercúrio líquido e purga automatizada de óleo tornam o PoreMaster o porosímetro de intrusão de mercúrio mais fácil de usar
- O melhor que há em resolução de dados de alta pressão é alcançado através do controle fornecido pelo acionamento por parafuso e pela inteligência da rotina de geração de pressão com velocidade automática
- O enchimento de mercúrio líquido, bem como as medições de baixa e alta pressão, são normalmente concluídos em 30 minutos
Analisadores da densidade de sólidos
Obtenha todos os valores de densidade de sólidos que precisa em um só lugar e com a mais alta precisão disponível:
Um portfólio de equipamentos que abrange medições de densidade real ou esquelética, densidade aparente compactada e densidade geométrica
- Resultados de máxima precisão ao longo da mais ampla faixa de medição em apenas um instrumento
- A densidade geométrica pode ser medida sem uso de mercúrio líquido.
- A picnometria de gás fornece os resultados de densidade real de forma completamente não destrutiva
Sistemas SAXS
Os sistemas de dispersão de raios-X de baixo ângulo SAXSpace e SAXSpoint 5.0 fornecem excelente resolução e a melhor qualidade de dados possível para a pesquisa de nanopartículas:
- Fontes de raios-X de alta luminosidade e componentes óticos para a mais alta pureza e fluxo espectral
- Colimação de feixes sem dispersão e os mais avançados detectores híbridos para a contagem de fótons (HPC), para uma alta relação sinal-ruído e excelente qualidade dos dados
- Ampla variedade de estações de amostra para caracterização de partículas sob temperatura e atmosfera controladas
- Operação confiável com elevados tempos de funcionamento, elevada produtividade da amostra e baixos custos de manutenção
Sistemas XRD
O XRDynamic 500 é um difratômetro automático de raios X em pó multiúso que proporciona uma excelente qualidade de dados para todos os tipos de amostras:
- A melhor resolução/razão sinal-ruído da categoria direto da caixa
- Conceito TruBeam™, incluindo raio maior do goniômetro e percurso do feixe evacuado
- Automação completa de toda a óptica de raios X, mudança da geometria do feixe e alinhamento de instrumentos e amostras
- Etapas de amostragem flexíveis para medições em reflexão, transmissão e também para SAXS
3 anos de garantia
- Em vigor a partir de 1 de janeiro de 2020, todos os instrumentos novos da Anton Paar* inclui reparos por 3 anos.
- Os clientes evitam custos imprevistos e sempre podem confiar no seu instrumento.
- Juntamente com a garantia, oferecemos um amplo conjunto de serviços adicionais e opções de manutenção.
* Devido à tecnologia usada, alguns instrumentos exigem manutenção de acordo com um cronograma. Respeitar o cronograma de manutenção é um pré-requisito para a garantia de 3 anos.
Especialistas desde o início
Por mais amplo que seja o portfólio de caracterização de partículas da Anton Paar, muitos instrumentos têm uma coisa em comum: eles foram os primeiros de seu tipo e ainda são os principais instrumentos em seu campo. Por exemplo, PSA, inventado em 1967, foi o primeiro analisador de tamanho de partículas que usa tecnologia de difração a laser. A primeira câmera comercial de dispersão de raios X em pequeno ângulo (SAXS), desenvolvida por Otto Kratky em 1957, foi fabricada pela Anton Paar. Hoje, os Sistemas SAXS da Anton Paar ainda são a referência neste campo de tecnologia. A Quantachrome Instruments, uma marca da Anton Paar, começou sua jornada até o topo em 1968. Desde então, equipes dedicadas de cientistas desenvolveram inovações em estreita colaboração com os usuários, o que resultou nas melhores soluções possíveis para se efetuar medições de materiais porosos e pós.
Use os conhecimentos da Anton Paar na caracterização de partículas para sua pesquisa de partículas e desenvolvimento de materiais.
Juntamente com uma ampla variedade de equipamentos específicos, a Anton Paar oferece extensa consultoria e informações sobre aplicações. Relatórios de aplicações, o Anton Paar Wiki, e seminários online, oferecem profundos conhecimentos sobre os tópicos de caracterização de partículas, tais como:
- Dynamic light scattering (DLS): O conceito básico para a medição do tamanho de partículas
- Determinação do tamanho de partículas
- Como escolher um instrumento para análise de partículas
- Difração a laser para medição de tamanho de partículas
- Reologia de pós
- Análise de nanoestruturas com dispersão de raios-X a baixo ângulo (SAXS)
- Determinação de área superficial
- Teoria de BET
- Como medir o potencial zeta com o uso de (ELS)
- Técnicas de medição de tamanho de poros
- Difração de raios X (XRD)
- e muito mais ...
Use esses recursos e nosso vasto conhecimento sobre a caracterização de partículas para explorar novos campos de aplicação e alcançar os melhores resultados em produção, controle de qualidade e desenvolvimento de produtos. Naturalmente, também é possível entrar em contato diretamente para sanar qualquer dúvida sobre equipamentos e aplicações.
Obtenha experiência prática nos Anton Paar Technical Centers.
Você é uma pessoa prática que prefere ver nossos equipamentos pessoalmente? Veja se um de nossos Technical Centers possui o equipamento desejado disponível ou se está planejado um seminário de caracterização de partículas em sua região.