Részecskeelemzés

Részecskeelemzés

Új horizontok a részecskeelemzésben

Minél jobban ismeri a részecskéit, annál hatékonyabban tudja előre jelezni anyagai viselkedését. Az adott vizsgálatok kapcsán többek között a következő paraméterek mérésére nyílik lehetősége: részecskeméret, pórusméret, részecskealak, belső szerkezet, zéta-potenciál, felszíni terület, reaktív terület, sűrűség, poráram , fázistisztaság, kristályszerkezet és számos egyéb paraméter. Az Anton Paar mindegyik paraméterhez biztosítja a szükséges műszerezettséget és még mást is – ez az egész világon egyetlen szolgáltatónál elérhető legszélesebb körű részecskeelemzési portfólió. Élvezze a széles választékot, és használja ki az adott területen felhalmozott több évtizedes tapasztalatunkat – mindent csupán egy kapcsolattartónál. 

Kattintson a paraméterre, és tekintse meg, mit kínál az Anton Paar az adott részecskeelemzési területen. Ha a konkrét területre szeretne hatékonyabban rákeresni, és kíváncsi a különböző méréstartományokra, használhatja a táblázatban található szűrőket.

Ha rákattint egy műszerre, megtekintheti részletes funkcióit és specifikációit.

Pórusméret
Az összes készülék megjelenítése
Részecskeméret
Az összes készülék megjelenítése
Felszíni terület
Az összes készülék megjelenítése
Minta-előkészítés
Az összes készülék megjelenítése
Sűrűség
Az összes készülék megjelenítése
Reaktív terület
Az összes készülék megjelenítése
Fázis tisztasága
Az összes készülék megjelenítése
Párafelvétel
Az összes készülék megjelenítése
Cellaporozitás
Az összes készülék megjelenítése
Részecskealak
Az összes készülék megjelenítése
Zéta potenciál
Az összes készülék megjelenítése
A por áramlási tulajdonságai
Az összes készülék megjelenítése
Gáztárolási kapacitás
Az összes készülék megjelenítése
Kristályszerkezet
Az összes készülék megjelenítése
Mérés
Technológia
Az Ön választása:

Nincs a keresésnek megfelelő elem!


mérés végrehajtása

Technológia

Diszperzió típusa

Mérési tartomány
Felszíni terület, pórusméretGázszorpció (fiziszorpció, kemiszorpció)SzárazPórusméret-tartomány
0,35–500 nm
Minimálisan mérhető felszín területe
minimum: 0,0005 m²/g kripton, minimum: 0,01 m²/g N₂ esetén
(Tömörített) sűrűség, a por áramlási tulajdonságaiTömörített sűrűségSzáraz1 cm³ –1000 cm³
Reaktív területGázszorpció (kemiszorpció)Száraz
Minta-előkészítésVákuum, áramlásos gázmentesítésSzáraz
Gáztárolási kapacitásNagy nyomás, gázszorpcióSzáraz
RészecskeméretDinamikus fényszórásFolyadékRészecskeméret-tartomány
0,3 nm – 10 µm
Részecskeméret, zéta-potenciálDinamikus fényszórás, Elektroforézises fényszórás (ELS), statikus fényszórás (SLS)FolyadékRészecskeméret-tartomány
0,3 nm – 10 µm
A por áramlási tulajdonságaiTöbbféle poráram alapú mérési módszer, reológiaSzáraz / folyadékRészecskeméret-tartomány
5 nm – 5 mm
A por áramlási tulajdonságai, sűrűségNyírásvizsgálatSzáraz / folyadék
Micro Rotary Riffler
Termékadatok megjelenítése Igénylés
Minta-előkészítésReprezentatív mintavételSzárazTérfogattartomány
20 köbcenti
Felszíni terület, pórusméretGázszorpcióSzárazPórusméret-tartomány
0,35–500 nm / 2–500 nm (N2 vagy Ar esetén)
0,35–2 nm (CO₂ C-mintán)
Minimálisan mérhető felszín területe
0,01 m²/g
Pentafoam 5200e
Termékadatok megjelenítése Igénylés
(Nyitott) cellatartalomGázpiknometriaSzáraz4–135 cm³
Pentapyc 5200e
Termékadatok megjelenítése Igénylés
(Valódi) sűrűségGázpiknometria4–135 cm³
PórusméretPorozimetriaSzárazTérfogattartomány
0,05 cc
Pórusméret-tartomány
1100–0,0064 µm
RészecskeméretLézerdiffrakcióSzáraz / folyadékRészecskeméret-tartomány
0,1 μm (száraz) / 0,04 μm (nedves) – 500 μm
RészecskeméretLézerdiffrakcióSzáraz / folyadékRészecskeméret-tartomány
0,1 μm (száraz) / 0,04 μm (nedves) – 500 μm
RészecskeméretLézerdiffrakcióSzáraz / folyadékRészecskeméret-tartomány
0,3 μm (száraz) / 0,2 μm (nedves) – 500 μm
Felszíni terület, pórusméretGázszorpcióSzárazPórusméret-tartomány
0,35–500 nm
0,35 nm – 2 nm (CO₂ C-mintán)
Minimális mérhető felszíni terület
0,01 m²/g (N2); 0,0005 m²/g
Részecskeméret, részecskealak és belső szerkezetSAXS, WAXS, GISAXSSzáraz / folyadékRészecskeméret-tartomány / pórusméret-tartomány
ltthan1–105 nm (q tartomány (Cu K-alpha): 0,03 nm⁻¹ to 41 nm⁻¹)
Részecskeméret, részecskealak és belső szerkezetSAXS, WAXS, GISAXSSzáraz / folyadékRészecskeméret-tartomány / pórusméret-tartomány
ltthan1–160 nm (q tartomány (Cu K-alpha): 0,02 nm⁻¹ to 41 nm⁻¹)
(Valódi) sűrűségGázpiknometria4–135 cm³
(Valódi) sűrűségGázpiknometria4–135 cm³
(Nyitott) cellatartalomGázpiknometriaSzáraz4–135 cm³
(Valódi) sűrűségGázpiknometria0,25–4,5 cm³
PárafelvételPáraszorpcióSzáraz
Minta-előkészítésVákuumos gázmentesítésSzáraz
Részecskeméret, fázistisztaság, kristályszerkezetXRD, SAXS, WAXSKristallitméret 5 nm és 500 nm között 
Fázisfrakciók >0,1%

 

Az Anton Paar részecske-elemzési megoldásai

Részecskeméret-elemzők

A részecskék lehetnek ugyan összetettek, de a mérésüknek nem kell annak lennie! A Litesizer és a PSA sorozat egyetlen gombnyomással lehetővé teszi a részecskeméret méréseit és sok minden mást is:

  • Litesizer sorozat: Dinamikus fényszórással való részecskeméret-elemzés az alsó nanométeres tartománytól egészen a mikrométeres tartományig, beleértve a zéta-potenciál, a molekulatömeg, az átbocsátóképesség és a törésmutató mérését is
  • PSA sorozat: Lézerdiffrakció folyékony és száraz diszperziók méretelemzéséhez egészen a milliméteres tartományig
  • A speciális tartozékok lehetővé teszik a kis mintatérfogat használatával, szerves oldatokban, automatikus mintaadagolás segítségével, valamint egyéb módon történő méréseket.
  • Fóluszáljon a részecskékre: A Kalliope szoftver biztosítja mindkét sorozat mérőműszereinek kiszolgálását, és minimálisra csökkenti a kezelői beavatkozás szükségességét

Tudjon meg többet

Valódi porreológia

A valódi porreológia két cellája, a poráramcella és a pornyíró cella az MCR reométerekkel karöltve segít a porok tényleges osztályozásában és tulajdonságaik megértésében:

  • A népszerű MCRe reométerek bámulatos precizitása a poranalízis területén
  • Nagyfokú reprodukálhatóság a minta-előkészítési módszereknek és a teljesen automatizált méréseknek köszönhetően
  • Több mérési módszer a minőség-ellenőrzési és tudományos célok érdekében
  • Az egyetlen, hőmérséklet- és páratartalom-opciókkal felszerelhető nyírócella

Tudjon meg többet

Adszorpcióelemzők

Az adszorpcióelemzés során elengedhetetlen a műszer intelligens kialakításának és a fejlett számításiigény-csökkentési modelleknek az ötvözése:

  • A gőzelnyelés, a fiziszorpció, a kemiszorpció és a nagynyomású szorpció mérésére szolgáló műszerek széles köre
  • Teljesen automatizált rendszerek több mérőállomáson történő elemzéssel és minta-előkészítési opciókkal
  • Tökéletes a pórusméret, a felszíni terület, valamint katalizátorok, gyógyszerek, akkumulátoranyagok, adszorbensek és minden egyéb porózus anyag gáz/szilárd kölcsönhatásainak elemzésére
  • Világszerte elismert adatcsökkentési modellek és gyors mérési jelentések hagyományos és komplex új anyagokhoz

Tudjon meg többet

Higanyintrúziós poroziméterek

A makroporózus anyagok porozitásának meghatározására a legszélesebb körben alkalmazott módszer:

  • A lehető legbiztonságosabb kezelhetőségre tervezték, még higany használata esetén is
  • Az olyan funkciók, mint például az egyszerűsített folyékony higanybevitel és az automatikus olajleeresztés, a PoreMastert a legkönnyebben használható higanyintrúziós poroziméterré teszik
  • A nagy nyomású adatok rendkívül nagy felbontása a csavarhajtással biztosított szabályozással és az automatikus sebességű nyomásgenerálási rutin intelligenciájának köszönhetően valósul meg
  • A folyékony higany betöltése, az alacsony nyomású mérések, valamint a nagynyomású mérések is általában 30 perc alatt lezajlanak

Tudjon meg többet

Sűrűségmérő szilárd mintákhoz

Szilárd minták sűrűségértékei egy forrásból – a legnagyobb elérhető pontossággal:

  • Olyan műszerválaszték, amely egyaránt használható a valós és a vázsűrűség, tömörített térfogatsűrűség, valamint geometriai sűrűség mérésére

  • A legpontosabb eredmények a legszélesebb mérési tartományban, egyetlen műszerrel
  • A geometriai sűrűség méréséhez nincs szükség folyékony higanyra
  • A gázpiknometria teljesen roncsolásmentes módon valós sűrűségeredményeket szolgáltat

Tudjon meg többet

SAXS rendszerek

Az SAXSpace és az SAXSpoint 5.0 kis beesési szögű röntgenszórásos rendszer kiváló felbontást és a lehető legkiválóbb minőségű adatokat biztosítja a nanorészecske-kutatás számára:

  • Briliáns röntgenforrás és optika a legnagyobb spektrális tisztaság és fluxus érdekében
  • Szórásmentes nyalábkollimáció és csúcstechnológiás hibrid fotonszámláló (HPC) detektorok a nagy jel-zaj arány és a kitűnő adatminőség érdekében
  • A mintaasztalok széles választéka a szabályozott hőmérséklet és atmoszféra mellett történő részecskeelemzéshez
  • Megbízható működés magas üzemidővel, nagy mintaelemzési teljesítmény és alacsony karbantartási költségek

Tudjon meg többet

XRD rendszerek

Az XRDynamic 500 egy automatizált, többcélú por röntgendiffraktométer, amely minden mintatípus esetében kiemelkedő adatminőséget biztosít:

  • Csúcskategóriás felbontás / jel-zaj arány, azonnal használható
  • TruBeam™ koncepció: nagyobb goniométersugárral, evakuált sugárúttal
  • Az összes röntgenoptika teljes automatizálása, a sugárgeometria módosítása, valamint a műszer és a minta beállítása
  • Rugalmas mintaállványok reflexiós, transzmissziós és SAXS mérésekhez is

 

Tudjon meg többet

3 év garancia

  • 2020. január 1-től minden új Anton Paar műszerhez* 3 éves javítási szolgáltatás tartozik.
  • Az ügyfelek elkerülhetik a váratlan költségeket, és műszerük folyamatosan rendelkezésre állhat.
  • A kínált garancia mellett számos további szerviz-és karbantartási lehetőség is rendelkezésre áll.

A műszerek a bennük rejlő technológia miatt az ütemezésnek megfelelő karbantartást igényelnek. A karbantartás ütemezésének követése a 3 év garancia fenntartásának feltétele.

Tudjon meg többet

Szakértők a kezdettől

Bármilyen széles is az Anton Paar részecske-karakterizálási portfóliója, sok műszerben van egy közös vonás: ezek voltak az elsők a maguk nemében, és még mindig a területük zászlóshajói. Az 1967-ben feltalált PSA például az első lézerdiffrakciós technológiát használó részecskeméret-elemző. Az első kereskedelmi, kis beesési szögű röntgenszóródásos (SAXS) kamerát – amelyet Otto Kratky fejlesztett ki 1957-ben – az Anton Paar gyártotta. Az Anton Paar SAXS rendszerei még mindig viszonyítási alapot képviselnek e technológia területén. A Quantachrome Instruments, az Anton Paar egyik védjegye 1968-ban kezdett a csúcsra törni. Ezt követően a kifejezetten ezzel a területtel foglalkozó tudósok a felhasználókkal szoros összhangban fejlesztették ki az innovációkat, amelynek eredményeként a porózus anyagok és porok mérésére használt legjobb megoldásokat értük el.

Hasznosítsa az Anton Paar szakértelmét a részecskeelemzés területén a részecskekutatás és az anyagfejlesztés kapcsán.

A sokrétű, egyedi műszerezettségen kívül az Anton Paar kiterjedt alkalmazási tanácsokat ad és az alkalmazással kapcsolatban is szolgáltat információt. Az alkalmazásjelentések, az Anton Paar Wikiés a webináriumok mélyreható ismereteket nyújtanak a részecskeelemzés témakörében, például: 

Használja ki ezeket az erőforrásokat és a részecskeelemzés terén szerzett, nagy múltra visszatekintő tapasztalatunkat, fedezzen fel új alkalmazási területeket, és érjen el optimális eredményeket a gyártás, a minőség-ellenőrzés és a termékfejlesztés területén. Természetesen közvetlenül is elérhet minket a műszerekkel és az alkalmazásokkal kapcsolatos kérdéseivel.

Kapcsolatfelvétel

Szerezzen gyakorlati tapasztalatokat az Anton Paar Technikai Központokban.

Ön olyan gyakorlati szakember, aki szeretné működés közben megtekinteni műszereinket? Tekintse meg, hogy Technikai Központjaink egyike rendelkezik-e az Ön által keresett műszerrel, vagy hogy terveznek-e részecskeelemzési szemináriumot az Ön régiójában.

Megtudhatja most rögtön!