Mientras más conozca las partículas, mejor podrá predecir el comportamiento de los materiales. Los parámetros que puedes medir para estas investigaciones incluyen tamaño de partículas, tamaño de poro, forma de las partículas, estructura interna, potencial zeta, área de superficie, área reactiva, densidad, fluencia del polvo, pureza de fase, estructura de los cristales, y mucho más. Anton Paar le ofrece instrumentos para todos ellos y mucho más - el mayor catálogo de caracterización de partículas disponible de un único proveedor en todo el mundo. Haga uso de esta amplia selección y también aproveche la experiencia de una década en este campo - todo ello a través de un único punto de contacto.
Haga clic en un parámetro para ver las ofertas de Anton Paar en un campo específico de caracterización de partículas. Puede usar los filtros en la tabla para refinar su búsqueda con una tecnología específica y obtenga información sobre los diferentes rangos de medición.
Cuando haga clic en un instrumento, podrá ver sus características y especificaciones detalladas.
Medición | Tecnología | Tipo de dispersión | Rango de medición | |
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Área de superficie, tamaño de poro | Adsorción de gas (fisisorción, quimisorción) | Seco | Rango de tamaño de poro 0,35 nm a 500 nm Área de superficie mínima mensurable desde 0,0005 m²/g con kriptón, desde 0,01 m²/g con N₂ | |
Densidad (a granel), propiedades de fluencia del polvo | Densidad compactada | Seco | 1 cm³ a 1000 cm³ | |
Área reactiva | Adsorción de gas (quimisorción) | Seco | ||
Preparación de muestras | Desgasificación en circulación y en vacío | Seco | ||
Capacidad de almacenamiento de gas | Adsorción de gas, alta presión | Seco | ||
Tamaño de partículas | Dispersión dinámica de luz | Líquido | Rango de tamaño de partícula 0,3 nm a 10 µm | |
Tamaño de partícula, potencial zeta | Dispersión dinámica de la luz, dispersión de luz electroforética (ELS), dispersión de luz estática (SLS) | Líquido | Rango de tamaño de partícula 0,3 nm a 10 µm | |
Propiedades de fluencia del polvo | Reología y métodos de medición de la fluencia del polvo | Seco/Líquido | Rango de tamaño de partícula 5 nm a 5 mm | |
Propiedades de fluencia del polvo, densidad | Prueba de cizalla | Seco/Líquido | ||
Micro Rotary Riffler Mostrar detalles del producto Realizar una solicitud | Preparación de muestras | Muestreo representativo | Seco | Rango de volumen 20 cc |
Área de superficie, tamaño de poro | Adsorción de gas | Seco | Rango del tamaño de poro 0,35 nm a 500 nm/2 nm a 500 nm (con N2 o Ar) 0,35 nm a 2 nm (con CO₂ en C) Área de superficie mínima mensurable 0,01 m²/g | |
PentaFoam 5200e Mostrar detalles del producto Realizar una solicitud | Porosidad de células (abiertas) | Picnometría de gas | Seco | 4 cm³ a 135 cm³ |
Pentapyc 5200e Mostrar detalles del producto Realizar una solicitud | Densidad (real) | Picnometría de gas | 4 cm³ a 135 cm³ | |
Tamaño de poro | Porosimetría | Seco | Rango de volumen 0,05 cc Rango de tamaño de poro 1100 µm a 0,0064 µm | |
Tamaño de partículas | Difracción láser | Seco/Líquido | Rango de tamaño de partícula 0,1 μm (seco) / 0,04 μm (húmedo) hasta 500 μm | |
Tamaño de partículas | Difracción láser | Seco/Líquido | Rango de tamaño de partícula 0,1 μm (seco)/0,04 μm (húmedo) hasta 2500 μm | |
Tamaño de partículas | Difracción láser | Seco/Líquido | Rango de tamaño de partícula 0,3 μm (seco)/0,2 μm (húmedo) hasta 500 μm | |
Área de superficie, tamaño de poro | Adsorción de gas | Seco | Rango de tamaño de poro 0,35 nm a 500 nm 0,35 nm a 2 nm (con CO₂ en C) Área de superficie mínima mensurable 0,01 m²/g (N2); 0,0005 m²/g (Kr) | |
Tamaño de partícula, forma de partícula y estructura interna | SAXS, WAXS, GISAXS | Seco/Líquido | Rango de tamaño de partícula/Rango de tamaño de poro ltthan1 nm a 105 nm (rango q (Cu K-alpha): | |
Tamaño de partícula, forma de partícula y estructura interna | SAXS, WAXS, GISAXS | Seco/Líquido | Rango de tamaño de partícula/Rango de tamaño de poro ltthan1 nm a 160 nm (rango q (Cu K-alpha): 0,02 nm⁻¹ to 41 nm⁻¹) | |
Densidad (real) | Picnometría de gas | 4 cm³ a 135 cm³ | ||
Densidad (real) | Picnometría de gas | 4 cm³ a 135 cm³ | ||
Porosidad de células (abiertas) | Picnometría de gas | Seco | 4 cm³ a 135 cm³ | |
Densidad (real) | Picnometría de gas | 0,25 cm³ a 4,5 cm³ | ||
Captación de vapor | Adsorción de vapor | Seco | ||
Preparación de muestras | Desgasificación en vacío | Seco | ||
Tamaño de las partículas, pureza de la fase, estructura del cristal | XRD, SAXOS, CERAS | Tamaño de los cristales 5 nm a 500 nm Fracciones de fase >0,1% |

Analizadores del tamaño de partícula
Las partículas pueden ser complejas, pero la medición no tiene por qué serlo. Las series Litesizer y PSA permiten medir el tamaño de las partículas con solo pulsar un botón, y mucho más:
- Serie Litesizer: dispersión dinámica de la luz para el análisis del tamaño de partículas en el rango nanométrico hasta el rango milimétrico, con inclusión de mediciones del potencial zeta, la masa molecular, la transmitancia y el índice de refracción
- Serie PSA: difracción láser para el análisis del tamaño en dispersiones líquidas y secas hasta el rango milimétrico
- Los accesorios específicos permiten medir con pequeños volúmenes de muestra, en soluciones orgánicas, utilizando la transferencia automática de muestra, etc.
- El software Kalliope sirve para ambos instrumentos y reduce al mínimo la implicación del usuario

Verdadera reología del polvo
Las dos celdas para la verdadera reología del polvo, la celda de fluencia del polvo y la celda de cizalla de polvo, en combinación con los reómetros MCR Evolution, le ayudan a caracterizar y comprender realmente sus polvos:
- Asombrosa precisión de los renombrados reómetros MCR para el análisis de polvo
- Alta reproducibilidad debido a los modos de preparación de muestras y mediciones completamente automatizadas.
- Múltiples modos de medición para el control de calidad y fines científicos
- La única célula de cizalla que puede equiparse con opciones de temperatura y humedad.

Analizadores de adsorción
En el análisis de adsorción resulta primordial combinar un diseño inteligente del instrumento y modelos computacionales avanzados de reducción de datos:
- Extensa gama de instrumentos para sorción de vapor, fisisorción, quimisorción y sorción a alta presión
- Sistemas totalmente automáticos con análisis en estaciones múltiples y opciones para la preparación de muestras
- Perfectos para el análisis del tamaño del poro, superficie e interacciones gas/sólido de catalizadores, productos farmacéuticos, materiales para baterías, adsorbentes y cualquier otro material poroso.
- Modelos reconocidos en todo el mundo para la reducción de datos e informes rápidos de medición para materiales tradicionales y nuevos materiales complejos.

Porosímetros de intrusión de mercurio
El método más empleado para determinar la porosidad de materiales macroporosos:
- Diseñados para proporcionar una experiencia segura al operador, incluso trabajando con mercurio.
- Funciones, como la introducción simplificada de mercurio líquido y el purgado automático de aceite, hacen que el PoreMaster sea el porosímetro de intrusión de mercurio más fácil de utilizar.
- Obtención de una resolución máxima de datos de alta presión por medio del control ofrecido por el destornillador y la inteligencia de la rutina de generación de presión con velocidad automática.
- Llenado de mercurio líquido y mediciones a baja y alta presión finalizados normalmente en 30 minutos

Analizadores de densidad sólida
Obtenga todos los valores de densidad sólida que necesita en una única fuente – con la mayor precisión disponible:
Un portafolio de instrumentos que abarca mediciones de densidad real o absoluta, densidad compactada a granel y densidad geométrica
- Precisión máxima de los resultados en el más extenso rango de medición en un solo instrumento
- La densidad geométrica se puede medir sin el uso de mercurio líquido
- La picnometría de gases proporciona resultados de densidad real de una manera completamente no destructiva

Sistemas SWAXS
Los sistemas de dispersión de rayos X de ángulo pequeño SAXSpace y SAXSpoint 5.0 ofrecen una resolución excelente y la mejor calidad de datos posible para la investigación de nanopartículas:
- Fuentes brillantes de rayos X y ópticas para una pureza y flujo espectral máximos.
- Colimación no dispersa de haces y novedosos detectores híbridos de contadores de fotones (HPC) para una alta relación en la señal ruido y una excelente calidad de los datos
- Amplia variedad de etapas de muestras para la caracterización de partículas con temperatura y atmósfera controladas
- Operación fiable altos tiempos de actividad, alto rendimiento de la muestra y bajos costos de mantenimiento

Sistemas XRD
XRDynamic 500 es un difractómetro de rayos X en polvo automatizado y polivalente que ofrece una calidad de datos excepcional para todo tipo de muestras:
- Lista para usar: la mejor resolución de su clase y relación señal-ruido
- Concepto TruBeam™: mayor radio del goniómetro, trayectoria del haz evacuada
- Automatización completa de toda la óptica de rayos X, cambio de geometría del haz y alineación del instrumento y de la muestra
- Etapas de muestra flexibles para mediciones en reflexión, transmisión y también para SAXS

3 años de garantía
- Con entrada en vigor el 1 de enero de 2020, todos los instrumentos nuevos de Anton Paar* incluirán garantía de reparación de 3 años.
- Los clientes pueden evitar costos imprevistos y siempre pueden confiar en su instrumento.
- Junto con la garantía hay una amplia gama de servicios adicionales y opciones de mantenimiento disponibles.
*Debido a la tecnología que utilizan, algunos instrumentos requieren mantenimiento de acuerdo con un programa de mantenimiento. El cumplimiento del programa de mantenimiento es un requisito básico para acceder a la garantía de 3 años.
Expertos desde el inicio
Por muy amplia que sea la cartera de caracterización de partículas de Anton Paar, muchos instrumentos tienen una cosa en común: han sido los primeros de su clase y siguen siendo los instrumentos estrella en su campo. Por ejemplo, el PSA, que se inventó en 1967, fue el primer analizador de tamaño de partículas que utilizaba tecnología de difracción láser. La primera cámara comercial de dispersión de rayos X de ángulo bajo (SAXS), desarrollada por Otto Kratky en 1957, fue fabricada por Anton Paar. En la actualidad, los sistemas SAXS de Anton Paar son todavía la referencia en esta tecnología. Quantachrome Instruments, una marca de Anton Paar, comenzó su camino a la cima en 1968. Desde entonces, dedicados equipos de científicos han desarrollado innovaciones en estrecho contacto con usuarios, las que han resultado en las mejores soluciones posibles para medir materiales porosos y polvos.
Use la experiencia de Anton Paar en caracterización de partículas en su investigación de partículas y desarrollo de materiales.
Conjuntamente con una amplia gama de instrumentos específicos, Anton Paar ofrece una amplia consultoría en aplicaciones, además de información de aplicación. Los informes de aplicación, la Wiki de Anton Paar, y los seminarios web ofrecen profundo conocimiento sobre temas de caracterización de partículas, tales como:
- Dispersión de luz dinámica (DLS): el concepto básico para medir el tamaño de partículas
- Determinación del tamaño de partículas
- Cómo elegir un instrumento para el análisis de partículas:
- Difracción láser para tamaño de partículas
- Reología de polvos
- Análisis de nanoestructura con dispersión de rayos X de ángulo bajo (SAXS)
- Determinación de superficie
- Teoría de BET
- Cómo medir el potencial zeta con (ELS)
- Técnicas de medición del tamaño de poro
- Difracción de rayos X (XRD)
- y mucho más…
Aproveche estos recursos y nuestra larga experiencia en caracterización de partículas para explorar nuevos campos de aplicación y conseguir resultados óptimos en producción, control de calidad y desarrollo de productos. Por supuesto, también puede contactarnos directamente con cualquier pregunta relacionada a instrumentos y aplicaciones.
Experiencia práctica en los Centros Técnicos Anton Paar.
¿Es usted el tipo de persona que prefiere ver nuestros instrumentos en la vida real? Consulte si alguno de nuestros centros técnicos tiene disponible el instrumento que desea consultar o si hay algún seminario de caracterización de partículas planificado en su zona.