建議的結果

粉粒體特性分析

粒徑分析的新境界

您越瞭解粒徑,就越能預測材料的行為。在這些研究中需要測量的參數包含粒徑、孔徑、粒子形狀、內部結構、zeta 電位、表面積、反應面積、密度、粉體流動等等。安東帕為您提供測量所有參數的儀器,是最全面粒子特性分析產品系列的全球單一供應商。只需聯絡單一窗口,就能選擇多種儀器,由累積數十年專業知識的各領域專家幫助您。

應用、參數、技術:找到最適合您的儀器!

在不同用途的應用說明之間切換,概觀所有可測量參數,並顯示用於粉粒體特性分析的技術。

切換以顯示粉粒體特性分析應用


金屬粉末特性分析

金屬粉末應用於許多粉末冶金操作,例如積層製造。為了確保產品的高品質,粉末的性質極為重要。典型的粉末分析方法包括粉末流變測定、動態光散射法、BET 和密度測量。

下載應用報告,以瞭解這些互補方法如何用於測定流動性質、孔隙率、可壓縮性、填充密度、粉粒體分布等等。您可使用一套能夠執行這些方法的儀器來分析金屬粉末特性,確保生產過程中的流暢性以及燒結產品的穩定性,並確定過去生產的過量金屬粉末是否仍然可用。

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研究食物的性質

食品中的顆粒大小不僅影響生產過程的許多方面 (例如運輸、儲存、保存期限),還會大幅影響感官性質,例如味道和口感。

PSA 粒度分析儀能夠測量液體和乾式分散體,其測量範圍廣泛,涵蓋奈米到毫米尺寸,非常適合食品產業的生產和品質控制要求。

下載應用報告,瞭解應用雷射繞射技術分析食物特性的好處。

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由細胞培養液分離出來的胞外泌體之特性分析

胞外泌體作為藥物遞輸系統的潛力已得到長久以來的認可。本應用報告介紹 Litesizer™ 500 如何有效進行胞外泌體粒徑的特性分析,該標準可用於監測體外胞外泌體的穩定性。並進行 Zeta 電位測量,提供關於胞外泌體生物學功能的潛在有用訊息。

下載應用報告,瞭解胞外泌體的特性分析。

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快速靈敏的 zeta 電位測量

到目前為止,zeta 電位測量的最新技術是所謂的相分析光散射 (PALS),是以電泳光散射法 (ELS) 為基礎的技術。本應用報告介紹「cmPALS」的新專利技術,該技術可明顯縮短測量時間並降低外加電場,能可靠分析敏感樣本。

下載應用報告,瞭解更靈敏且更穩定的 ELS 測量。

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點選參數,檢視安東帕的顆粒特性分析應用領域。您可以利用表中的篩選條件尋找特定技術,並取得不同量測範圍的資料。

點選儀器可以展開該儀器詳細功能和規格。

孔徑
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顆粒尺寸
顯示所有裝置
表面積
顯示所有裝置
樣本製備
顯示所有裝置
密度
顯示所有裝置
反應面積
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蒸汽吸收
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單體孔隙度
顯示所有裝置
顆粒形狀
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Zeta 電位
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粉體流動特性
顯示所有裝置
氣體儲存容量
顯示所有裝置
測量
技術
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測量

技術

散布類型

測量範圍
表面積範圍 重力水蒸氣吸附 (BET)、動態流動 BET 分析 可測量之最小表面積
0.1 m²/g
表面積範圍 / 孔徑範圍 重力水蒸氣吸附 表面積,孔徑
2 nm 至 500 nm (N 或 Ar)
0.35 nm 至 2 nm (碳內的二氧化碳)
可量測之最小表面積
0.1 m²/g
表面積, 孔徑 重力水蒸氣吸附 孔徑範圍
0.35 nm 至 500 nm
可量測之最小表面積
氪氣:從 0.0005 m²/g 起,氮氣:從 0.01 m²/g 起
密度 體密度 體積範圍
1 cc
反應面積 氣體吸收 (化學吸附)
樣本製備 真空、流動脫氣
氣體儲存容量 高壓、氣體吸收
顆粒尺寸 動態光散射法 液體 粒徑範圍
0.3 nm 至 10 µm
粒徑、Zeta 電位 動態光散射、電泳光散射法 (ELS)、靜態光散射 (SLS) 液體 粒徑範圍
0.3 nm 至 10 µm
樣本製備 真空、流動脫氣
粉體流動特性 多種粉體流動測量方法流變研究 乾 / 液體 粒徑範圍
5 nm 至 5 mm
粉體流動性質,密度 剪切測試 乾/液體
密度 氣體比重法 體積範圍
0.025 cc
樣本製備 代表性取樣 體積範圍
20 cc
表面積,孔徑 重力水蒸氣吸附 孔徑範圍
0.35 nm 至 500 nm / 2 nm 至 500 nm (N 或 Ar)
0.35 nm 至 2 nm (碳內的二氧化碳)
可量測之最小表面積
0.01 m²/g
單體孔隙度 氣體比重法 體積範圍
1 cc
密度 氣體比重法 體積範圍
1 cc
孔徑 孔隙度 體積範圍
0.05 cc
孔徑範圍
1100 µm 至 0.0064 µm
顆粒尺寸 雷射繞射 乾 / 液體 粒徑範圍
0.1 μm (乾) / 0.04 μm (溼) 至 500 μm
顆粒尺寸 雷射繞射 乾 / 液體 粒徑範圍
0.1 μm (乾) / 0.04 μm (溼) 至 2500 μm
顆粒尺寸 雷射繞射 乾 / 液體 粒徑範圍
0.3 μm (乾) / 0.2 μm (溼) 至 500 μm
表面積, 孔徑 重力水蒸氣吸附 孔徑範圍
0.35 nm 至 500nm
0.35nm 至 2 nm (碳內的二氧化碳)
可量測之最小表面積
0.01 m²/g;0.0005 m²/g
顆粒尺寸、顆粒形狀、內部結構 SAXS, WAXS, GISAXS 乾 / 液體 粒徑範圍 / 孔徑範圍
ltthan1 nm 至 105 nm (q 範圍 (Cu K-alpha):0.03 nm⁻¹ 至 41 nm⁻¹)
顆粒尺寸、顆粒形狀、內部結構 SAXS, WAXS, GISAXS 乾 / 液體 粒徑範圍 / 孔徑範圍
ltthan1 nm 至 160 nm (q 範圍 (Cu K-alpha):0.02 nm⁻¹ 至 41 nm⁻¹)
單體孔隙度 氣體比重法 體積範圍
1 cc
密度 氣體比重法 體積範圍
1 cc
蒸汽吸收 蒸汽吸附
樣本製備 真空脫氣

安東帕的粒徑特性分析解決方案

粒(徑)分析儀

粒子可能非常複雜,但粒子分析不用這麼複雜!Litesizer 和 PSA 系列只需要按一下按鈕,即可進行粉粒體測量和其他測量功能:

  • Litesizer 系列:用於粉粒體分析的動態光散射法,涵蓋較小的奈米到較大的微米範圍,包括 zeta 電位、分子量、透射率和折射率測量
  • PSA 系列:用於液體和乾式分散體尺寸分析的雷射繞射,達到毫米範圍
  • 可搭配專用配件,用於測量少量樣本、有機溶劑、自動進樣等。
  • 專注於粒子:Kalliope 軟體適用於兩種儀器,降低操作人員的參與負擔

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真正的粉體流變測量

兩個真正的粉體流變測量池:粉體流通池粉體剪切池,可結合 MCR 流變儀,協助您進行特性分析,以瞭解粉體:

  • 聞名的 MCR 流變儀粉體分析具有驚人的精確度
  • 樣本製備模式和全自動測量,實現高再現性
  • 多種測量模式,可用於品質控制和科學用途
  • 唯一配備溫度和濕度選項的剪切池

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吸附分析儀

在吸附分析中,結合使用智慧儀器設計和先進的計算資料簡化模型是非常重要的:

  • 適用於蒸汽吸附、物理吸附、化學吸附和高壓吸附的多種儀器
  • 全自動系統,具有多站分析和樣本製備選項
  • 相當適合分析催化劑、藥物、電池材料、吸附劑和其他所有多孔材料的孔徑、表面積和氣固相互作用
  • 享譽國際的資料縮減模型和快速測量報告,適用於傳統和複雜的新材料

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壓汞式孔隙計

最廣泛使用的大孔材料孔隙測定方法:

  • 提供最安全的操作體驗,即使在使用汞時也能保障安全
  • PoreMaster 包含簡化的液態汞引入和自動油淨化等功能,是最容易使用的壓汞式孔隙計
  • 透過螺桿驅動提供的控制和智慧自動壓力產生程序,實現終極的高壓資料解析
  • 液態汞填充和低壓測量以及高壓測量通常在 30 分鐘內完成

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固體密度分析儀

從一個來源獲得所需的所有固體密度值,並達到最高的準確度:

  • 儀器產品系列包含真實或概略密度、振實體密度和幾何密度測量
  • 同級最佳:最寬的測量範圍,取得最高準確度的結果
  • 安全且經濟實惠:測量幾何密度不需要液態汞
  • 非破壞性氣體比重法:使用惰性和透明氣體

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SAXS 系統

SAXSpace 和 SAXSpoint 2.0 小角度 X 光散射系統,針對奈米顆粒研究提供出色的解析度和最佳的資料品質:

  • 卓越的 X 射線源和光學元件,具有最高的光譜純度和光通量
  • 無散射光束準直及最先進的混合光子計數 (HPC) 偵測器,可達到高信噪比及優異的資料品質
  • 在受控溫度和環境條件下針對顆粒特性的各種樣本階段進行作業
  • 長時間的操作、大量樣本處理量和低成本維護

更多詳情

一開始就展現專業

其廣泛如同安東帕顆粒特性分析組合,許多儀器有一個 共同點:從以前到現在,它們一直在其領域中獨占鰲頭。例如, PSA,1967 年發明的粒徑分析儀,首次使用 雷射 繞射技術。首款商用之小角度 X 光散射 (SAXS) 攝影機,由 Otto Kratky 在 1957 年開發成功,安東帕生產製造。時至今日,安東帕 仍是 該技術領域的標竿。 Quantachrome Instruments,安東帕旗下品牌, 1968 年起即是業界第一。從一開始便組成專門科學技術團隊,創新開發過程 保持與使用者密切互動,因此能提出測量多孔性 材料和粉體的最佳解決方案。

藉由安東帕顆粒特性分析專業技術,協助您完成顆粒研究與材料開發。

除了一系列的儀表儀器設備,安東帕還可提供各種應用諮詢和實用資訊。在 Anton Paar WikiAnton Paar Blog 的應用報告及網路研討會中,您可得到深入詳盡的顆粒特性分析知識,例如關於: 

利用這些資源和我們長久累積的顆粒特性專業知識,您可探索新應用領域,取得生產、品質控制、產品開發的最佳成果。關於儀器與應用的任何問題,您都可直接與我們聯繫。

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即將舉行的線上研討會

粉體流變學 8:粉體剪切池測量介紹

粉體流變學系列的第八次網路研討會將介紹粉體剪切池,及其如何分析粉體和粒狀介質。

適用於歐洲和亞洲時區
日期:2019 年 9 月 5 日,歐洲中部時間上午 9 點至上午 9 點 45 分
語言:英語
註冊
適用於美洲時區
日期:2019 年 9 月 5 日,歐洲中部時間下午 5 點至下午 5 點 45 分
語言:英語
註冊

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