• 粉粒體特性分析

      粉粒體分析的新境界

      您越瞭解粉粒體,就越能預測材料的行為。在這些研究中需要測量的參數包含粒徑、孔徑、粒子形狀、內部結構、zeta 電位、表面積、反應面積、密度、粉體流動等等。安東帕為您提供測量所有參數的儀器,是最全面粉粒體特性分析產品系列的全球單一供應商。只需聯絡單一窗口,就能選擇多種儀器,由累積數十年專業知識的各領域專家幫助您。

  • 應用、參數、技術:找到最適合您的儀器!

    在不同用途的應用說明之間切換,概觀所有可測量參數,並顯示用於粉粒體特性分析的技術。

    切換以顯示粉粒體特性分析應用


  • 製粒與乾燥:壓製藥錠的挑戰

    藥錠的製造除了使用活性藥物成分 (API),也會使用賦形劑,來改善粉末的加工和最終劑型的品質。壓製藥錠是一個包含多個步驟的製程,成功與否取決於所用儀器的參數和粉末的處理。製粒與乾燥尤其需要適當的賦形劑組合。本應用報告調查研磨和篩選過後的賦形劑具備的水分吸收能力及甲基纖維素,評估其在濕式製粒過程中的行為。此外也在不同的溫度下對相同的賦形劑進行測試,以重現流化床乾燥機的乾燥效果。結果發現,濕式製粒過程中吸收的水分量及乾燥過程中的連續溫度效應對於流量和壓縮特性都會造成影響。

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    觸媒特性分析

    在催化劑反應之前以及在其消耗形式時進行特性分析,可以提供關於催化過程的有效性和效率等重要資訊,並作為未來催化劑的設計指導。在這方面,最重要的參數是孔徑大小、孔隙體積、活性表面積、粒度、表面酸性、流化行為和內聚性質。

    下載此應用報告,瞭解如何使用安東帕儀器進行實驗以得到這些參數的深入見解,及其如何協助催化劑的開發和品質控制。

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    食品特性分析

    食品粉末配方、製造和包裝過程重視每批間的一致性,以確保消費者的安全和忠誠度。使用安東帕儀器量測食品粉末的密度、粒徑、內聚強度、可壓縮性和滲透性,從實驗中得到的見解可以幫助提高食品粉末的品質和一致性。本應用報告著重於奶粉和通用麵粉,因為它們是普遍可得的產品,也是許多其他食品和營養補充劑的關鍵成分。

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    金屬粉末特性分析

    金屬粉末應用於許多粉末冶金操作,例如積層製造。為了確保產品的高品質,粉末的性質極為重要。典型的粉末分析方法包括粉末流變測定、動態光散射、BET 和密度測量。

    下載應用報告,以瞭解這些互補方法如何用於測定流動性質、孔隙率、可壓縮性、填充密度、粉粒體分布等等。您可使用一套能夠執行這些方法的儀器來分析金屬粉末特性,確保生產過程中的流暢性以及燒結產品的穩定性,並確定過去生產的過量金屬粉末是否仍然可用。

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    研究食物的性質

    食品中的顆粒大小不僅影響生產過程的許多方面 (例如運輸、儲存、保存期限),還會大幅影響感官性質,例如味道和口感。

    PSA 粒徑分析儀能夠測量液體和乾式分散體,其測量範圍廣泛,涵蓋奈米到毫米尺寸,非常適合食品產業的生產和品質控制要求。

    下載應用報告,瞭解應用雷射繞射技術分析食物特性的好處。

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    由細胞培養液分離出來的胞外泌體之特性分析

    胞外泌體作為藥物遞輸系統的潛力已得到長久以來的認可。本應用報告介紹 Litesizer™ 500 如何有效進行胞外泌體粒徑的特性分析,該標準可用於監測體外胞外泌體的穩定性。並進行 Zeta 電位測量,提供關於胞外泌體生物學功能的潛在有用訊息。

    下載應用報告,瞭解胞外泌體的特性分析。

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    快速靈敏的 zeta 電位測量

    到目前為止,zeta 電位測量的最新技術是所謂的相分析光散射 (PALS),是以電泳光散射 (ELS) 為基礎的技術。本應用報告介紹「cmPALS」的新專利技術,該技術可明顯縮短測量時間並降低外加電場,能可靠分析敏感樣本。

    下載應用報告,瞭解更靈敏且更穩定的 ELS 測量。

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  • 點選參數,檢視安東帕的粉粒體特性分析應用領域。您可以利用表中的篩選條件尋找特定技術,並取得不同量測範圍的資料。

    點選儀器可以展開該儀器詳細功能和規格。

    孔徑
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    粒度
    顯示所有裝置
    表面積
    顯示所有裝置
    樣本製備
    顯示所有裝置
    密度
    顯示所有裝置
    反應面積
    顯示所有裝置
    蒸汽吸收
    顯示所有裝置
    單體孔隙度
    顯示所有裝置
    顆粒形狀
    顯示所有裝置
    Zeta 電位
    顯示所有裝置
    粉體流動特性
    顯示所有裝置
    氣體儲存容量
    顯示所有裝置
    測量
    技術
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    測量

    技術

    散布類型

    測量範圍
    表面積範圍 氣體吸附 (BET)、動態流動 BET 分析 可量測之最小表面積
    0.1 m²/g
    表面積範圍/孔徑範圍 氣體吸附 表面積、孔徑
    2 nm 至 500 nm (以氮或氬)
    0.35 nm 至 2 nm (以碳上的二氧化碳)
    可量測之最小表面積
    0.1 m²/g
    表面積、孔徑 氣體吸附 (物理吸附、化學吸附) 孔徑範圍
    0.35 nm 至 500 nm
    可量測之最小表面積
    使用氪,從 0.0005 m²/g 起;使用氮氣,從 0.01 m²/g 起
    (體) 密度、粉體流動特性 振實密度 1 cm³ 至 1000 cm3
    反應面積 氣體吸附 (化學吸附)
    樣本製備 真空、流動脫氣
    氣體儲存容量 高壓、氣體吸附
    粒度 動態光散射 液體 粒度範圍
    0.3 nm 至 10 µm
    粒度、Zeta 電位 動態光散射、電泳光散射 (ELS)、靜態光散射 (SLS) 液體 粒度範圍
    0.3 nm 至 10 µm
    MasterPrep 脫氣裝置
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    樣本製備 真空、流動脫氣
    粉體流動特性 多種粉體流動測量方法流變研究 乾/液體 粒度範圍
    5 nm 至 5 µm
    粉體流動特性,密度 剪切測試 乾/液體
    (真) 密度 氣體比重瓶 4 cm³ 至 135 cm³
    (真) 密度 氣體比重瓶 0.25 cm³ 至 4.5 cm³
    (真) 密度 氣體比重瓶 4 cm³ 至 135 cm³
    (真) 密度 氣體比重瓶 4 cm³ 至 135 cm³
    樣本製備 代表性取樣 體積範圍
    20 cc
    表面積、孔徑 氣體吸附 孔徑範圍
    0.35 nm 至 500 nm/2 nm 至 500 nm (以氮或氬)
    0.35 nm 至 2 nm (以碳上的二氧化碳)
    可量測之最小表面積
    0.01 m²/g
    孔徑 孔隙度 體積範圍
    0.05 cc
    孔徑範圍
    1100 µm 至 0.0064 µm
    粒度 雷射繞射 乾/液體 粒度範圍
    0.1 µm (乾)/0.04 µm (濕) 至 500 µm
    粒徑 雷射繞射 乾/液體 粒徑範圍
    0.1 µm (乾)/0.04 µm (濕) 至 2500 µm
    粒徑 雷射繞射 乾/液體 粒徑範圍
    0.3 µm (乾)/0.2 µm (濕) 至 500 µm
    表面積、孔徑 氣體吸附 孔徑範圍
    0.35 nm 至 500 nm
    0.35 nm 至 2 nm (以碳上的二氧化碳)
    可量測之最小表面積
    0.01 m²/g;0.0005 m²/g
    粒徑、顆粒形狀和內部結構 SAXS、WAXS、GISAXS 乾/液體 粒徑範圍/孔徑範圍
    1 nm 至 105 nm (q 範圍 (銅 K-alpha):0.03 nm⁻¹ 至 41 nm⁻¹)
    SAXSpoint 2.0
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    粒徑、顆粒形狀和內部結構 SAXS、WAXS、GISAXS 乾/液體 粒徑範圍/孔徑範圍
    1 nm 至 160 nm (q 範圍 (銅 K-alpha):0.02 nm⁻¹ 至 41 nm⁻¹)
    (開) 孔含量 氣體比重瓶 4 cm³ 至 135 cm³
    Pentafoam 5200e
    顯示產品詳情發出請求
    (開) 孔含量 氣體比重瓶 4 cm³ 至 135 cm³
    蒸汽吸收 蒸汽吸附
    樣本製備 真空脫氣

     

     

    安東帕的粉粒體特性分析解決方案

    粒徑分析儀

    粉粒體的組成可能非常複雜,但分析可以更簡單!Litesizer 和 PSA 系列只需要按一下按鈕,即可進行粒度測量和其他測量功能:

    • Litesizer 系列:用於粒徑分析的動態光散射,涵蓋較小的奈米到較大的微米範圍,包括 zeta 電位、分子量、透射率和折射率測量
    • PSA 系列:用於液體和乾式分散體尺寸分析的雷射繞射,達到毫米範圍
    • 可搭配專用配件,用於測量少量樣品、有機溶劑或自動進樣等。
    • 專利Kalliope 軟體適用於兩種儀器,降低操作人員的參與負擔

    深入瞭解

    真正的粉體流變測量

    兩個真正的粉體流變測量池:粉體流通池粉體剪切池,可結合 MCR 流變儀,協助您進行特性分析,以瞭解粉體:

    • 聞名的 MCR 流變儀粉體分析具有驚人的精確度
    • 樣本製備模式和全自動測量,實現高再現性
    • 多種測量模式,可用於品質管控和科學用途
    • 唯一配備溫度和濕度選項的剪切池

    深入瞭解

    吸附分析儀

    在吸附分析中,結合智慧儀器設計和優質的數據簡化模型,讓使用者更易於操作:

    • 適用於氣體吸附、物理吸附、化學吸附和高壓吸附的多種儀器
    • 全自動系統,具有多站分析和樣本製備選項
    • 相當適合分析催化劑、藥物、電池材料、吸附劑和其他所有多孔材料的孔徑、表面積和氣、固相互作用
    • 享譽國際的資料縮減模型和快速測量報告,適用於傳統和複雜的新材料

    深入瞭解

    壓汞測孔儀

    最廣泛使用的大孔材料孔隙測定方法:

    • 提供最安全的操作流程,即使在使用汞時也能保障安全
    • PoreMaster 的液態汞導入和自動油淨化等功能,讓壓汞測孔儀操作起來更方便使用
    • 透過螺桿驅動提供的控制和智能壓力,完成最終的數據解析
    • 液態汞填充和低壓測量以及高壓測量通常在 30 分鐘內完成

    深入瞭解

    固體密度分析儀

    從一個來源獲得所需的所有固體密度值,並達到最高的準確度:

    • 儀器產品系列包含真實或概略密度、振實體密度和幾何密度測量

    • 在單一儀器上實現最寬的測量範圍,並取得最高準確度的結果
    • 無需使用液態汞即可測量幾何密度
    • 氣體比重瓶以完全無損的方式提供真密度結果

      深入瞭解

      SAXS 小角度 X 光散射儀

      SAXSpoint 2.0 小角度 X 光散射儀,針對奈米材料與顆粒研究提供最佳的解析度和數據品質:

      • 優質的 X 射線源和光學元件,具有最高的光純度和光通量
      • 無散射光束準直及最先進的偵測器,可達到高訊號雜訊比及優異的數據品質
      • 有多種樣品槽可針對不同粉粒體特性分析,進行各種溫度與環境變化的控制
      • 儀器可進行長時間作業、處理大量樣品數和低成本的維護

      深入瞭解

    • 一開始就展現專業

      安東帕雖然有廣泛的粉粒體特性分析組合,但多數儀器都有一個共同點:從以前到現在,它們一直在其領域中獨占鰲頭。例如,1967 年發明的 PSA,是首款使用雷射繞射技術的粒度分析儀。首款商用的小角度 X 光散射 (SAXS) 攝影機,由 Otto Kratky 在 1957 年開發成功,安東帕生產製造。直至今日,安東帕 SAXS 系統仍是該技術領域的標竿。安東帕旗下品牌 Quantachrome Instruments,自 1968 年起一直是業界第一。從一開始便組成專門的科學技術團隊,創新開發過程,保持與使用者密切互動,因此能提出測量多孔性材料和粉體的最佳解決方案。

    藉由安東帕粉粒體特性分析專業技術,協助您完成粉粒體研究與材料開發。

    除了一系列的儀表儀器設備,安東帕還可提供各種應用諮詢和實用資訊。在安東帕 Wiki安東帕部落格的應用報告及網路研討會中,您可得到深入詳盡的粉粒體特性分析知識,例如關於: 

    利用這些資源和我們長久累積的粉粒體分析特性專業知識,您可探索新應用領域,取得生產、品質控制、產品開發的最佳成果。關於儀器與應用的任何問題,您都可直接與我們聯繫。

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