XRD

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X 射線繞射的卓越多樣性

安東帕功能強大的原位 X 射線繞射 (XRD) 高溫及低溫樣本台結合了長期經驗及尖端技術。無論是原位研究相變、固態/氣態反應,還是結構測定,安東帕的 XRD 解決方案幾乎為所有的材料研究領域提供了最高的靈活程度。

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Anton Paar 產品

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5 大理由

種類繁多的選擇

安東帕提供適用於各種樣本及測量夾具的解決方案。您可以找到適用於粉末、金屬薄片及膏狀體研究的設置。可根據您的需求,以反射或透射模式研究樣本。此外還可採用可旋轉的毛細管形狀。 

精確控制環境條件

透過先進的粉末 XRD 高溫及低溫室與四圓測角儀圓頂台,可以在受控的溫度及壓力條件下研究材料。只有製作精良的產品,才能在從 -193 °C 到 2300 °C 的溫度及 10-4 mbar 到 100 bar 的各種大氣環境中進行分析。

具有無可比擬的溫度測量精度及溫度均勻性

所有非環境參數中,最重要的就是溫度。以智慧設計及材料的正確選擇為基礎,安東帕提供的儀器在溫度測量方面具有高精度及再現性。我們的環境加熱器經過最佳化,可讓樣本的溫度分佈非常均勻。這對於獲得優質的 XRD 結果非常重要。

便於使用的設計

除了上述優點外,我們的儀器還操作簡單。樣本加入很容易,更換樣本也很直觀。我們的儀器幾乎適用於目前市面上所有的繞射儀。此外,大部分繞射儀製造商的軟體中都整合了溫度控制器,能夠達成全自動試驗。

經驗確保品質

安東帕身為科學儀器製造商,在 X 射線研究領域的入歷史悠久,持續不斷創新,並在設計理念中融入新的技術。50 多年來,安東帕一直與研究團隊合作,並與客戶保持緊密聯繫,使我們成為非環境 X 射線繞射領域最成功且最可靠的合作夥伴。