XRD 偵測元件：
Pixos

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• 主要功能
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為了從您的 X-Ray 繞射實驗中獲得最佳的數據品質，Pixos™ 偵測元件將 Advacam 的最新 CERN 偵測器技術與 XRDynamic 500 繞射儀的 TruBeam™ 概念相結合。藉由 XRD 偵測器可用的最小像素尺寸 (55  µm x 55  µm)，以高空間解析度計算單個光子，固態 Pixos™ 偵測器為您的繞射資料提供最高強度和最佳解析度，並可在 0D 或 1D 模式下運行。由於全電動 X-Ray 光學元件，完全真空的二級光學元件和偵測器外殼可確保出色的訊噪比，同時保持最佳的實驗靈活性。 

主要功能

用於高品質繞射數據的下一代偵測器技術

Pixos™ 偵測單元中包含搭載 CERN 的 Timepix3 芯片的固態混合像素偵測器。用於偵測單個光子的高空間和時間解析度，導致在 1D 模式下工作時繞射訊號具有出色的角解析度。即使測量訊號很低，單光子計數偵測器也能提供最佳的資料品質，而高的最大計數率允許在直接光束中進行測量，而無需使用衰減器或光束阻擋器。

完全真空：盡可能在低的背景進行測量

在測量過程中避免空氣散射，完全真空的 Pixos™ 偵測單元可確保每次測量達到最佳訊噪比。這對於背景敏感型測量 (例如： PDF 分析或 SAXS) 或具有弱散射訊號的小樣品量尤其重要。與 TruBeam™ 概念的其他組件相結合，真空輔助光束路徑有助於提供高資料品質，XRDynamic 500 的 Pixos™ 偵測元件可以測量資料品質。

出色的解析度，市場上最小的像素尺寸

Pixos™ 偵測單元的偵測器提供無敵的測量解析度，這要歸功於市場上可用於 XRD 平台的最小像素尺寸 55 µm x 55 µm。小像素尺寸與 XRDynamic 500 的 TruBeam™ 概念中的擴大測角儀半徑相結合，意味著當使用標準 Bragg-Brentano 配置進行測量時，可以實現比傳統繞射儀高 20 % 的測量解析度。

透過自動最佳化將噪音降至最低

Pixos™ 偵測單元包括一個高精確度電動防散射狹縫，可以使用儀器控制軟體為每次掃描設定該狹縫。藉由模式選擇，您可以預先定義狹縫開口，或者透過使用自動最佳化模式來簡化此流程，確保最大限度地屏蔽散射噪音而不切斷測量訊號。

技術規格

	Pixos 2000	Pixos 2000 CdTe
偵測模式	0D, 1D	0D, 1D
感測器材料	Si	CdTe
像素尺寸	55 μm x 55 μm	55 μm x 55 μm
像素數	256 × 256	256 × 256
最大計數速率	2.65 x 109 cps (列) 6.8 x 1010 cps (整體)	2.65 x 109 cps (列) 6.8 x 1010 cps (整體)
支援的波長	全部（針對銅、鈷、鉻進行優化）	全部（針對鉬、銀進行優化）
有缺陷的通道	0	0

安東帕認證服務

安東帕在服務和支援方面的品質：

• 全球超過 350 位製造商認證的技術專家
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深入瞭解

適用的儀器

自動化多用途粉末 X-Ray 繞射儀：
XRDynamic 500