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XRD 검출기 :
Pixos

  • 고급 노이즈 감소 기능을 갖춘 최신 CERN 픽셀 검출 기술 구현
  • 선택한 센서 재료로 0D 또는 1D 모드에서 측정
  • 탁월한 분해능을 제공하는 최소 픽셀 크기 (55 µm x 55 µm)
  • 측정 노이즈를 최소화하는 에너지 필터
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Pixos™ 검출기는 Advacam의 최신 CERN 검출 기술과 XRDynamic 500 XRD 장비의 TruBeam™개념을 결합하여 XRD 분석에서 최선의 데이터 품질을 제공합니다. 가장 작은 픽셀 사이즈가 적용된 높은 분해능을 가진 XRD 검출기 (55 µm x 55 µm)이며, 최상의 분해능으로 개별 광자를측정하는 솔리드 스테이트 Pixos™ 감지기는 최선의 XRD 데이터를 제공하고 있으며 0D 또는 1D 모드로 작동 가능합니다. 완전 진공 보조 광학장치 및 감지기 하우징을 통해 뛰어난 신호 대 잡음비를 확보하는 한편 모터식 X선 광학장치를 활용하여 최적화된 실험 유연성을 유지합니다. 

주요 특징

최고의 XRD 데이터를 제공하는 차세대 검출기 테크놀로지

최고의 XRD 데이터를 제공하는 차세대 검출기 테크놀로지

Pixos ™ 감지 장치에 포함된 고체 하이브리드 픽셀 감지기는 CERN의 Timepix3 칩을 기반으로 합니다. 1D 모드 작업 시 높은 각도 분해능을 통한 개별 광자 검출을 통해 뛰어난 회절 신호 각도 분해능을 확보합니다. 단일 광자 카운팅 검출기는 낮은 측정 결과 신호에서도 최상의 데이터 품질을 제공하며 높은 최고 검출 속도를 통해 빔스탑 또는 감쇄기를 이용할 필요 없이 직접 측정이 가능합니다.

완전 진공 상태: 노이즈를 최소화한 측정 환경

완전 진공 상태: 노이즈를 최소화한 측정 환경

완전 진공 Pixos™ 검출 장치는 측정 중 공기 산란을 방지하여 최적의 신호 대 잡음비를 보장합니다. 이는 특히 노이즈에 민감한 PDF 분석이나 SAXS 측정, 또는 산란 신호가 약한 소량의 시료에서는 중요한 이슈입니다. XRDynamic 500의 Pixos™ 검출 장치의 새로운 TruBeam™ 기능과 진공상태에서의 빔라인 기능이 결합하여 뛰어난 측정 데이터 품질 보여드립니다.

가장 작은 검출 픽셀을 지니며 뛰어난 분해능을 보유

가장 작은 검출 픽셀을 지니며 뛰어난 분해능을 보유

Pixos™ 검출기는 XRD 플랫폼용으로 출시된 제품 중 가장 작은 55µm x 55µm의 픽셀 크기를 채용하여 탁월한 측정 분해능을 제공합니다. XRDynamic 500의 TruBeam™ 개념에 포함된 큰 고니오미터 반경과 작은 픽셀 크기는 일반적인 Bragg-Brentano 구성으로 측정할 시에 기존 회절 분석기보다 20% 높은 측정 분해능을 달성할 수 있습니다.

자동 최적화 기능을 통한 소음 최소화

자동 최적화 기능을 통한 소음 최소화

Pixos™ 검출기는 개별의 측정마다 소프트웨어상에서 조절가능한 고정밀 모터 진동 방지 슬릿을 포함하고 있습니다. 사용자가 직접 모드를 선택하여 지정된 슬릿 크기를 설정하며 간단하게 자동 최적화 모드를 통해 측정 신호를 차단하지 않고 산란 잡음을 최대한 막을 수 있도록 제작되었습니다.

기술 사양

  Pixos 1000 Pixos 2000 Pixos 2000 CdTe
검출 모드 0D 0D, 1D 0D, 1D
측정 영역 14 x 14 mm2 14 x 14 mm2 14 x 14 mm2
센서 원재료 Si Si CdTe
픽셀 크기 - 55 μm x 55 μm 55 μm x 55 μm
픽셀 수 - 256 x 256 256 x 256
퀀텀 효율 >97% (Cu Kα) >97% (Cu Kα) >99% (Mo 및 Ag Kα)
최대 검출속도 6.8 x 1010 cps (전체) 2.65 x 109 cps (행)
6.8 x 1010 cps (전체)
2.65 x 109 cps (행)
6.8 x 1010 cps (전체)
적용가능한 파장영역 Cu, Co, Cr Cu, Co, Cr Mo, Ag
디펙티브 채널 - 0 0

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