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XRD 探测器单元 :
Pixos

  • 采用最新的 CERN 像素探测器技术,具有先进的降噪功能
  • 可选择传感器材料以 0D 或 1D 模式进行测量
  • 最小的像素尺寸 (55  µm x 55  µm),具有出色的分辨率
  • 能量过滤器可进一步减少测量背景
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为了从 X-射线衍射实验中获得最佳数据质量,Pixos™ 探测装置结合了 Advacam 最新的 CERN 探测器技术与 XRDynamic 500 衍射仪的 TruBeam™ 理念。凭借 XRD 探测器的最小像素尺寸 (55  µm x 55  µm),利用高空间分辨率计算单个光子,固态 Pixos™ 探测器,能够为您的衍射数据提供最高的强度和最佳分辨率,并且可以在 0D 或 1D 模式下运行。全真空二次光学系统和探测器外壳确保了出色的信噪比,同时由于全电动 X-射线光学系统而保持了最佳的实验灵活性。 

关键功能

高质量衍射数据的下一代探测器技术

高质量衍射数据的下一代探测器技术

Pixos™ 探测单元中包含的固态混合像素探测器采用了 CERN 的 Timepix3 芯片。检测单个光子的高空间和时间分辨率,使得在 1D 模式下工作时,衍射信号具有出色的角分辨率。即使测量信号很低,单光子计数探测器也能提供最佳的数据质量,而高的最大计数速率允许在直光束中进行测量,无需衰减器或光束遮挡器。

完全真空:以尽可能低的背景进行测量

完全真空:以尽可能低的背景进行测量

在测量过程中避免空气散射,完全真空的 Pixos™ 探测单元可确保每次测量都能获得最佳信噪比。这对于背景敏感测量(例如 PDF 分析或 SAXS)或具有弱散射信号的少量样品尤其重要。在综合了 TruBeam™ 理念的其他组件后,真空二级光束路径有助于提供高数据质量,并可以通过 XRDynamic 500 的 Pixos™ 探测器单元测量这些数据。

以市场上最小像素尺寸获得出色的分辨率

以市场上最小像素尺寸获得出色的分辨率

Pixos™ 探测单元的探测器能够提供无与伦比的测量分辨率,这要归功于 55 µm x 55 µm 的像素尺寸 — 这是市场上用于XRD 平台最小的。小像素尺寸与 XRDynamic 500 的 TruBeam™ 理念中特有的扩展测角仪半径相结合,意味着利用标准 Bragg-Brentano 配置进行测量时,可以实现比传统衍射仪提高 20% 的测量分辨率。

通过自动优化将噪音降至最低

通过自动优化将噪音降至最低

Pixos™ 探测单元包括一个高精度的电动防散射狭缝,可以使用仪器控制软件为每次扫描进行设置。通过模式选择,您可以设置一个定义的狭缝开口,或者通过使用自动优化模式来简化应用,确保能最大限度地屏蔽散射噪声而不会切断测量信号。

技术规格

  Pixos 1000 Pixos 2000 Pixos 2000 CdTe
探测模式 0D 0D、1D 0D、1D
有效面积 14 x 14 mm2 14 x 14 mm2 14 x 14 mm2
传感器材料 Si Si CdTe
像素尺寸 - 55 μm x 55 μm 55 μm x 55 μm
像素数 - 256 × 256 256 × 256
量子效率 >97% (Cu Kα) >97% (Cu Kα) >99% (Mo 和 Ag Kα)
最高计数速率 6.8 x 1010 cps(整体) 2.65 x 109 cps(单道)
6.8 x 1010 cps(整体)
2.65 x 109 cps(单道)
6.8 x 1010 cps(整体)
支持的波长 Cu, Co, Cr Cu, Co, Cr Mo, Ag
有缺陷的通道 - 0 0

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