您对颗粒越了解，就越能预测材料的性能。为进行这些研究，您需要测量的参数包括粒径、孔径、颗粒形状、内部结构、zeta 电位、表面积、反应面积、密度、粉体流动、相纯度、晶体结构等。安东帕提供的仪器产品能够完成上述所有测量和其他测量——可以说是单一全球供应商能够提供的最广泛的颗粒特性分析产品组合。充分利用众多产品选择以及在该领域长达十年的专业优势——只需联系安东帕。
应用、参数、技术：找到最适合您的选择！
在适合不同用途的特殊应用以及可测量的所有参数概览之间切换，后者也展现了颗粒表征分析中使用的技术。
|
切换以显示颗粒分析应用 |
制粒和干燥：压片的挑战
药片生产不仅需要药物活性成分 (API) ，还需要赋形剂来改善粉体加工过程和最终剂型质量。制锭是一个多步过程，能否成功取决于所用仪器的参数和粉末处理。特别是制粒和干燥需要合适的赋形剂组合。本应用报告研究了研磨筛分乳糖和甲基纤维素后赋形剂的吸湿能力，以评估它们在湿法制粒过程中的特性。同样的赋形剂还在不同温度下进行测试，以再现流化床干燥器的干燥效果。测试发现在湿法制粒过程中吸收的水分量和干燥过程中的连续温度效应对流动和压缩特性有影响。了解更多
催化剂表征分析
对催化剂反应前后进行表征，提供催化过程有效性和效率的重要信息，并且对优化催化剂提供指导性信息。最重要的参数是孔径、孔体积、活性比表面积、粒径、表面酸度、流化行为和凝聚性能。下载此应用报告，分析表征参数—使用安东帕仪器实验得到参数—为催化剂开发和质量控制工作提供帮助。了解更多
食品特性
食品粉体配方、制造和包装工艺需要保持各批次的一致性，以确保消费者的安全和对产品的信赖。通过使用安东帕的仪器进行实验可以测定食品粉体的密度、颗粒尺寸、内聚强度、压缩系数和渗透性，获得深入见解，从而提高其质量和一致性。本应用报告着重于奶粉和通用面粉，因为它们是非常普遍的产品，并且是其他很多食品和营养补充剂的重要成分。了解更多
金属粉体流变特性分析
金属粉体用于各种粉末冶金作业，如添加剂制造。要始终保证较高的产品质量，粉体的特性至关重要。使用粉体流变测量、动态光散射、BET 和密度测量等典型粉体分析方法。下载应用报告，以便了解如何使用这些互补方法来测定流动特性、孔隙度、压缩系数、填集密度、粒径分布等。通过使用一组支持这些测量方法的仪器对金属粉体进行流变特性分析，可以保证生产流程顺畅，烧结制品稳定，并了解过去生产的多余金属粉体是否仍然可用。了解更多
研究食品的特性
食品中的颗粒尺寸不仅影响生产过程的方方面面，如运输、储存或保质期，而且对感官特性，如味觉和口感具有至关重要的影响。PSA 颗粒粒度分析仪能够测量液体和干燥分散体，并具有纳米到毫米的宽测量范围，因此非常适合食品工业的生产和质量控制应用。下载应用报告，了解应用激光衍射技术对食品进行特性表征的优势。了解更多
从细胞培养基中分离出来的外来体特性分析
外来体可以作为药物输送系统早已获得确认。本应用报告演示了 Litesizer™ 500 如何高效表征外来体颗粒尺寸，以及此标准如何用于监测体外外来体的稳定性。还可执行 Zeta 电位测量，从而提供有关外来体生物功能的潜在有用信息。下载应用报告，阅读外来体特性分析。了解更多
更快、更灵敏的 zeta 电位测量
迄今为止，尖端 zeta 电位测量技术是所谓的相位分析光散射 (PALS)，其基于电泳光散射 (ELS)。本应用报告展示了称为 cmPALS 的新专利技术，该技术可大幅缩短测量时间，降低应用电场，因此可充满自信地分析敏感样品。
下载应用报告，了解有关具有更高灵敏度和稳定性的 ELS 测量的信息。
点击参数了解安东帕在特定的颗粒特性分析领域提供哪些技术。也可以利用表中的筛选器来着重搜索某项特定技术，并获取不同测量范围的相关信息。点击仪器，就能看到该仪器的详细特性和规格。
测量 | 技术 | 分散类型 | 测量范围 | |
|---|---|---|---|---|
| 比表面积、孔径 | 气体吸附（物理吸附、化学吸附） | 干燥 | 孔径范围 0.35 nm 至 500 nm BET 表面积 绝对检测限：0.1 m² (N2 77K) 检测限：0.01 m²/g (N2 77K) 活性面积 绝对检测限：0.03 m²（在铂金 313 K 下的 H2） 特定检测限：0.003 m²/g（在铂金 313K 下的 H2） | |
Autotap 和 Dual Autotap 显示产品详情 发送请求 | （体积）密度，粉体流动性 | 振实密度 | 干燥 | 1 cm³ 至 1000 cm³ |
ChemBET Pulsar 显示产品详情 发送请求 | 反应面积 | 气体吸附（化学吸附） | 干燥 | |
| 样品预处理 | 真空、流动脱气 | 干燥 | ||
| 储气量 | 高压、气体吸附 | 干燥 | ||
| 粒度，颗粒形状 | 动态图像分析法 | 液体 | 粒径范围 0.8 µm 至 16,000 µm | |
| 粒径 | 动态光散射 | 液体 | 粒径范围 0.3 nm 至 10 µm | |
| 粒径、Zeta 电位 | 动态光散射、电泳光散射 (ELS)、静态光散射 (SLS) | 液体 | 粒径范围 0.3 nm 至 10 µm | |
| 粒径、Zeta 电位 | 动态光散射、电泳光散射 (ELS)、静态光散射 (SLS) | 液体 | 粒径范围 0.3 nm 至 10 µm | |
MCR 粉体流通池 显示产品详情 发送请求 | 粉体流动性 | 多种粉体流变测量方法 | 干态/液体 | 粒径范围 5 nm 至 5 mm |
MCR 粉体剪切池 显示产品详情 发送请求 | 粉体流动性、密度 | 剪切测试 | 干态/液体 | |
| 比表面积、孔径 | 气体吸附 | 干燥 | 孔径范围从 0.35 nm 至 500 nm 或 2 nm 至 500 nm（使用N2或Ar） 0.35 nm 至 2 nm（使用二氧化碳分析碳材料） 可测量的最小比表面积 0.01 m²/g | |
| 孔径 | 孔隙率测定 | 干燥 | 体积范围 0.05 cc 孔径范围 1100 µm 至 0.0064 µm | |
PSA 1090 显示产品详情 发送请求 | 粒径 | 激光衍射 | 干态/液体 | 粒径范围 0.1 μm （干） / 0.04 μm（湿）至 500 μm |
PSA 1190 显示产品详情 发送请求 | 粒径 | 激光衍射 | 干态/液体 | 粒径范围 0.1 μm （干） / 0.04 μm（湿）至 2500 μm |
PSA 990 显示产品详情 发送请求 | 粒径 | 激光衍射 | 干态/液体 | 粒径范围 0.3 μm （干） / 0.2 μm（湿）至 500 μm |
SAXSpace 显示产品详情 发送请求 | 粒径、颗粒形状和内部结构 | SAXS、WAXS、GISAXS | 干态/液体 | 粒径范围/孔径范围 ≤ 1 nm 至 105 nm（q 值范围（Cu Kα): 0.03 nm⁻¹ 至 41 nm⁻¹） |
SAXSpoint 5.0 显示产品详情 发送请求 | 粒径、颗粒形状和内部结构 | SAXS、WAXS、GISAXS | 干态/液体 | 粒径范围/孔径范围 ≤ 1 nm 至 160 nm（q 值范围（Cu Kα): 0.02 nm⁻¹ 至 41 nm⁻¹） |
| （真实）密度 | 气体膨胀法 | 4 cm³ 至 135 cm³ | ||
| （真实）密度 | 气体膨胀法 | 4 cm³ 至 135 cm³ | ||
| （开）孔率 | 气体膨胀法 | 干燥 | 4 cm³ 至 135 cm³ | |
| （真实）密度 | 气体膨胀法 | 0.25 cm³ 至 4.5 cm³ | ||
VSTAR 显示产品详情 发送请求 | 蒸汽吸附 | 蒸汽吸附 | 干燥 | |
| 颗粒大小、相纯度、晶体结构 | XRD、SAXS、WAXS | 晶体尺寸 5 nm 至 500 nm 相分数 >0.1% |
安东帕颗粒特性分析解决方案
颗粒粒度分析仪
颗粒可能非常复杂，但颗粒的分析过程不一定复杂。Litesizer DLS、PSA 系列和 Litesizer DIA 500 可一键实现粒度测量和更多功能：
- Litesizer DLS 系列：动态光散射可在纳米至微米范围内进行颗粒大小分析，包括 zeta 电位、分子量、透光率和折光率测量
- PSA 系列：激光衍射可用于细微至毫米范围的液体和干燥分散体的粒度分析
- Litesizer DIA 500：使用湿法、干法和自由落体分散体对 0.8 µm 至 16,000 µm 的颗粒粒径和形状进行动态图像分析
- 聚焦颗粒：Kalliope 软件可为这两款仪器提供服务，将操作员工作难度降至最低
真正的粉体流变测量
两种真正的粉体流变测量样品池，粉体流化态测量池和 粉体剪切池, 与
流变仪相结合，可帮助您真正地表征和了解粉体的特性：
- 以具有出色精度的著名 MCRe 流变仪进行粉体分析
- 样品制备模式和全自动测量实现高再现性
- 用于质量控制和科学研究目的的多种测量模式
- 唯一可进行温度和湿度控制的粉体剪切池
了解更多详情
吸附分析仪
在吸附分析过程中，结合智能仪器设计和先进的计算数据分析模型：
- 全方位产品线，包含蒸汽吸附、物理吸附、化学吸附和高压吸附
- 全自动仪器系统，具有多站分析和内置样品预处理选项
- 非常适合分析催化剂、药物、电池材料、吸附剂等其他多孔材料的孔径、表面积以及气/固体相互作用
- 世界知名的数据分析模型和快速测量报告，适用于传统材料和新型复杂材料
压汞仪
用于确定大孔材料孔隙率的最常用测试方法：
- 专为提供最安全的操作体验而设计，处理汞时同样安全独特的设计，专门为测试使用汞的安全考虑
- 简化的液态汞引入和自动油净化等特性，使得PoreMaster操作简单，容易上手。
- 通过螺杆驱动控制与智能化自动增压程序，从而提高高压数据的测试精度。
- 整个测试过程（液态汞填充、低压测量以及高压测量）通常可在 30 分钟内完成
固体密度分析仪
从一套组合即可得到所有固体密度值—并且具备最高准确度：
该仪器组合，涵盖真实/骨架密度、振实密度，包裹密度和几何密度的测量
- 通过一台仪器以最广泛的测量范围提供最准确的测量结果
- 无需使用液态汞即可测量几何密度
- 气体膨胀法以完全无损的方式提供真实的密度结果
- 包裹密度可以使用您现有流变仪的一种简单附件来确定
SAXS 系统
SAXSpace 和 SAXSpoint 5.0 小角度 X 射线散射系统为纳米粒子研究提供了出色的分辨率和最佳数据质量：
- 卓越的 X 射线源和光学元件，提供更高光谱纯度和通量
- 无散射光束准直以及先进的混合光子计数 (HPC) 探测器，提供高信噪比和更佳的数据质量
- 广泛的样品台可在受控温度和环境下进行颗粒特性分析
- 操作可靠，正常运行时间长，样品通量高，维护成本低
XRD 系统
XRDynamic 500 是一款自动化多用途粉末 X 射线衍射仪，可为所有样品类型提供出色的数据质量：
- 开箱即用的业界一流的分辨率/信噪比
- TruBeam™ 理念具有更大的测角半径和真空光路
- 所有 X 射线光学器件、光束几何形状更改以及仪器和样品对齐的完全自动化
- 用于反射、透射和 SAXS 测量的灵活样品台
利用安东帕的颗粒特性分析专业知识进行颗粒研究和材料研发。
除了各种各样的专用仪器，安东帕还提供广泛的应用咨询服务和应用信息。通过应用报告、安东帕维基百科和在线研讨会，您可以深入了解有关颗粒特性分析的话题，例如：
- 动态光散射 (DLS): 粒径测量的基本概念
- 粒径测定
- 如何选择颗粒分析仪器
- 用于颗粒尺寸测量的激光衍射法
- 粉体流变测量
- 采用小角度 X 射线散射的纳米结构分析 (SAXS)
- 表面积测定
- BET 理论
- 如何使用 (ELS) 测量 zeta 电位
- 孔径测量技术
- X-射线衍射 (XRD)
- 等等…
利用这些资源和我们长期积累的颗粒特性分析专业知识探索新的应用领域，并在生产、质量控制和产品开发方面取得最佳成果。当然，您也可以直接与我们联系，咨询仪器和应用相关的任何问题。联系我们
在安东帕技术中心获得实践操作体验。
您是喜欢去实地观察仪器的操作人员吗？看看我们的技术中心是否拥有您期望得到的仪器，或您所在地区是否计划开设颗粒特性分析研讨会。现在就去了解更多信息
