XRD-Detektoreinheiten:
Pixos
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- Verwendet die neueste CERN-Pixeldetektortechnologie mit fortschrittlicher Rauschunterdrückung
- Messungen im 0D- oder 1D-Modus und mit verschiedenen Sensormaterialien
- Kleinste Pixelgröße (55 µm x 55 µm) für hervorragende Auflösung
- Energiefilter zur weiteren Minimierung des Messuntergrunds
Die Pixos™-Detektoreinheiten kombinieren die neueste CERN-Detektortechnologie von Advacam mit dem TruBeam™-Konzept des XRDynamic 500-Diffraktometers, damit die bestmögliche Datenqualität erreicht wird. Dank der kleinsten für einen XRD-Detektor verfügbaren Pixelgröße (55 µm x 55 µm) zählen die Pixos™-Festkörper-Detektoren einzelne Photonen mit einer hohen räumlichen Auflösung. Sie liefern die höchste Intensität und beste Auflösung für Ihre Diffraktionsdaten und können im 0D- oder 1D-Modus betrieben werden. Die vollständig evakuierten Sekundäroptik- und Detektorgehäuse gewährleisten ein exzellentes Signal-Rausch-Verhältnis und ermöglichen dank der vollständig motorisierten Röntgenoptiken gleichzeitig höchste experimentelle Flexibilität.
Technische Highlights
Detektortechnologie der nächsten Generation für hochwertige Diffraktionsdaten
Die in den Pixos™-Detektoreinheiten enthaltenen Festkörper-Hybrid-Pixeldetektoren basieren auf dem Timepix3-Chip von CERN. Die hohe räumliche und zeitliche Auflösung bei der Detektion einzelner Photonen führt zu einer exzellenten Winkelauflösung des Diffraktionssignals bei Verwendung des 1D-Modus. Detektoren, die einzelne Photonen zählen können, bieten auch bei geringem Messsignal beste Datenqualität. Gleichzeitig ermöglicht eine hohe maximale Zählrate Messungen im direkten Strahl ohne dass der Strahl abgeschwächt oder blockiert werden muss.
Vollständige Evakuierung: Messungen mit dem niedrigstmöglichen Untergrund
Durch die Vermeidung von Luftstreuung sorgen die voll evakuierten Pixos™-Detektoreinheiten für ein optimales Signal-Rausch-Verhältnis bei jeder Messung. Dies ist besonders bei Messungen in denen der Untergrund eine große Rolle spielt wichtig, z. B. bei der PDF-Analyse oder SAXS-Messungen, oder bei kleinen Probenmengen mit schwachem Streusignal. Zusammen mit den anderen Komponenten des TruBeam™-Konzepts trägt der evakuierte Sekundärstrahlengang zu der hohen Datenqualität bei, die mit den Pixos™-Detektoreinheiten des XRDynamic 500 erreicht werden kann.
Hervorragende Auflösung mit der kleinsten Pixelgröße auf dem Markt
Die Detektoren der Pixos™-Detektoreinheiten bieten eine unschlagbare Messauflösung dank einer Pixelgröße von 55 µm x 55 µm – für XRD-Systeme die kleinste auf dem Markt verfügbare Größe. Bei Messungen in Standard-Bragg-Brentano-Konfiguration erreichen Sie eine um 20 % bessere Messauflösung als mit einem herkömmlichen Diffraktometer – der erweiterte Goniometerradius des TruBeam™-Konzepts und die kleine Pixelgröße machen es möglich.
Rauschminimierung mit automatischer Optimierung
Die Pixos™-Detektoreinheiten enthalten einen hochpräzisen motorisierten Antistreuspalt, der über die Gerätesteuersoftware für jeden Scan einstellbar ist. Sie können entweder eine definierte Spaltöffnung einstellen oder Ihre Arbeit mit dem automatisch optimierten Modus vereinfachen. Dieser gewährleistet eine maximale Abschirmung von Streustrahlung, ohne das Messsignal zu beeinflussen.
Technische Daten
| Pixos 2000 | Pixos 2000 CdTe | |
| Detektormodi | 0D, 1D | 0D, 1D |
| Sensormaterial | Si | CdTe |
| Pixelgröße | 55 μm x 55 μm | 55 μm x 55 μm |
| Pixelanzahl | 256 x 256 | 256 x 256 |
| Maximale Zählrate | 2,65 x 109 cps (Zeile) 6,8 x 1010 cps (gesamt) | 2,65 x 109 cps (Zeile) 6,8 x 1010 cps (gesamt) |
| Unterstützte Wellenlängen | Alle (optimiert für Cu, Co, Cr) | Alle (optimiert für Mo, Ag) |
| Defekte Kanäle | 0 | 0 |
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