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전자동 다목적 X 선 회절 분석기 :
XRDynamic 500

  • 기본 장착 기능: 동급 최고의 분해능/신호 대 잡음비
  • TruBeam™ 컨셉: 넓은 고니오미터 반경, 고진공하의 빔패스
  • 완전 자동화 : X선 옵틱 및 빔 지오메트리 변경 자동 조절
  • 장비 운용 효율성: 장치 운용률 최대 50% 향상
  • 장비 빔 자동 정렬 : 편의성이 극대화된 본체 및 시료 스테이지
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XRDynamic 500은 탁월한 XRD 데이터 품질을 제공하는 고성능 분석기 입니다. 파우더 XRD, 고온 XRD, PDF 분석, SAXS 등의 응용분야에 대한 최적의 솔루션을 제공하며 다양한 용도에 적용 가능한 다목적 플랫폼을 경험해보세요.  완전 자동화된 빔라인 및 빔 정렬 기능을 갖추어 사용자 편리성을 높인 제품으로 초보자부터 전문가까지 누구나 사용이 간편하며 최고 품질의 XRD 데이터를 빠르게 얻을 수 있습니다. XRDynamic 500: Driving XRD.

장점

XRDynamic 500의 TruBeam ™ 장점은 넓은 고니오미터 반경과 고진공 상태의 광선 경로, 완전 자동화된 X선 광학/광선 지오메트리 조절이 가능합니다. 사용자에 최적화된 편리한 소프트웨어 장착으로 다양한 모듈 구성을 갖춘 상태에서도 간편하게 측정 가능합니다. 스탠다드 Bragg-Brentano 구성을 이용하여 동급 최고의 분해능 달성 (첫 번째 LaB₆ 표준 피크에서 FWHM <0.021°). 최대 50% 감소된 측정 배경 잡음과 공기 산란의 최소화를 통해 뛰어난 신호 대 잡음비를 경험하세요. 고정밀 SAXS 장비에나 적용되는 기능을 적용하여 최적화된 고온 XRD 실험 또는 SAXS 측정을 위한 신속한 장비 구성 및 변경 기능

다중 빔 패스
다중 빔 패스
  • 클릭 한 번으로 최대 3 개의 빔지오메트리 자동 전환
  • 여러 측정을 순차적으로 수행 하는 전자동 측정기능
  • 분석 시간 단축: 장치 사용율 최대 50% 증가

XRD 분석기 시장의 요청사항

다른 많은 XRD 제품의 경우 사용자가 각 측정 지오메트리를 직접 교체해야 합니다. 전혀 다른 유형의 시료 측정을 순차적으로 진행하려면 장비를 해체하여 직접구성을 변경해야 합니다.

솔루션

전동식 광학장치 스택이 적용되어 버튼 하나만 클릭하면 최대 3개의 빔 지오메트리를 선택할 수 있습니다( 모든 X 레이 튜브 유형에 적용 가능). 안톤파의 특화된 X Ray 소스 틸팅 축을 통해 모든 지오메트리를 전자동으로 정확하게 정렬할 수 있습니다.

차벌화된 장점

최대 3 개의 빔 지오메트리를 자동으로 전환함으로써 사용자가 부품을 교환하거나 별도의 입력을 할 필요가 없어 서로 다른 (또는 동일한) 시료에서 순차적으로 여러 측정을 진행할 수 있습니다. 전자동으로 업무외 야간, 그리고 주말 동안 복잡한 시료 측정을 자동 실행하여 장치 가동 시간을 최대 50% 증대합니다.

자동화된 옵틱
자동화된 옵틱
  • 모든 옵틱의 자동화
  • 효율성 향상, 사용에러 감소
  • 모든 사용자가 만족하는 최고의 측정결과

XRD 시장의 요청사항

적합한 옵틱을 선택하기 위해서는 구성품을 교체하고 측정 소프트웨어에서 수작업으로 장비 구성을 업데이트해야 하는 경우가 빈번히 발생됩니다. 이는 많은 시간이 소요되며 에러가 생길수 있고, 숙련되지 않은 사용자가 운용시에는 항상 3자에 의한 검증이나 오랜 교육을 통하여 정확한 XRD 데이터를 수집이 가능합니다.

솔루션

빔패스에서 모든 옵틱 구성품의 완전 자동화을 통해 한 번의 클릭만으로 장치 구성을 변경할 수 있습니다. 부품의 수동 교환이나 사용자 추가 개입이 필요하지 않습니다.

이점

분석에 적합한 옵틱으로 자동 전환이 가능하며 언제나 현재 장비 셋업을 확인하여 시간을 절약하고 사용자 오류 발생 가능성을 줄입니다 안폰파 XRD의 경우 처음 접하는 사람에게도 편리하고 간단합니다.

자동 옵틱 정렬
자동 옵틱 정렬
  • 서비스 방문이 필요 없는 자동 정렬 기능 탑재
  • 모든 측정 셋업 자동 정렬 기능
  • 각각의 개별적인 시료 자동 측정을 위한 정렬 기능

XRD 시장의 요청사항

통상 X선 회절 분석기의 경우 X선 옵틱을 정렬하기 위해서는 전문 지식을 갖추어야 하거나 장비 서비스맨의 방문이 필요합니다. 또한 시료 장착 및 옵텍 정렬은 경험이 부족한 사용자에게 어려운 작업입니다.

솔루션

완전 자동화된 기기 정렬 기능을 통해 언제든지 간편하게 자가정렬을 할 수 있습니다. 모든 시료에 자동 시료 장착및 정렬 루틴을 이용할 수 있습니다.

이점

서비스맨의 방문이 필요치 않고 장비 스스로 자동으로 정렬되도록 작동됩니다. 분석기(및 시료)가 언제나 최고 품질의 결과치를 만들 수 있도록 완벽하게 정렬되어 최상의 가동 시간을 보이며 장비가동 비용을 최소화 합니다.

초보자도 사용이 간편한 편이성
초보자도 사용이 간편한 편이성
  • 편리하고 최적화된 장비운용
  • 초보자와 전문가 모두 쉽게 운용 할 수 있습니다
  • 사용자 교육 시간 단축

XRD 시장의 요청사항

기존의 회절 분석기 시스템은 여러 구성요소로 복잡하게 이루어진 경우가 많아 초보자에게는 부담이 될 수 있습니다. 숙련된 사용자라도 측정에 대한 장비 셋업을 하는 시간이 오래 걸려 더 중요한 작업에 집중할 시간을 뺏길 수 있습니다.

솔루션

자동장비 구동솔루션이 장착된 XRDynamic 500과 XRDdrive 제어 소프트웨어는 사용자로 하여금 간단한 셋업과 최적의 분석과정을 제공하여 사용자의 원하는 방향으로 분석이 진행될수 있습니다.

이점

최적의 자동화 기능이 탑재되어 작업시간을 단축해주는 XRDynamic 500 시스템을 활용하세요. 사용자 편리성이 강화된 소프트웨어를 통해 전문가와 초보자 모두 동급 최고의 측정 데이터를 약속드리며 원하시는 측정을 할 수 있습니다.

TruBeam ™
TruBeam ™
  • 언제나 완벽한 빔을 제공하는 최신의 빔라인
  • 동급 최고의 데이터 품질
  • 측정 효율성 극대화

XRD 시장의 요청사항

어떻게 하면 언제나 최적의 데이터 품질과 짧은 측정 시간 두가지 모두를 만족시키는 최적의 빔셋업과 기기 구성을 할 수 있을까?

솔루션

독창적인 TruBeam™ 개념은 Primux 3000 X 선 광원과 넓은 고니오미터 반경, 진공 상태 유지, 자동 광선 지오메트리 및 광학 구성 전환, 자동 기기 및 시료 정렬을 하나로 결합한 패키지입니다.

이점

모든 사용자가 다양한 시료 측정시에 정확한 측정 결과를 얻을 수 있고 뛰어난 분해능, 다양한 옵션, 향상된 장비 효율성 모두를 경험해 보실수 있습니다.

뛰어난 분해능
뛰어난 분해능
  • 20% 이상 개선된 측정 분해능
  • 고가의 옵틱이 필요치 않은 우수한 분해능 보유
  • 표준형 반경 크기로 출시된 대형 고니오미터

XRD 시장의 요청사항

통상 많은 X선 회절 분석기가 240 ~ 300 mm 측정 반경을 제공하기 때문에 이에따라 비싼 광학 장치를 사용하지 않으면 최대 분해능이 제한될 수 있습니다. 이로인해 발생되는 빔강도의 손실이 발생됩니다.

솔루션

XRDynamic  500은 360  mm 또는 400  mm 반경의 대형 표준 고니오미터를 제공하고 진공 옵틱 및 최소의 픽셀 분해능을 갖춘 검출기를 채택 하였습니다.

이점

기존 회절 분석기와 비교했을 때 XRDynamic 500은 진공 옵틱 방식으로 인해 빔강도를 떨어뜨리지 않고 표준 Bragg-Brentano 측정에서 20% 높은 측정 분해능을 제공합니다.

최대 측정 신호 대 잡음비
  • 탁월한 측정 신호 대 잡음비
  • 최대 50% 감소된 배경 노이즈
  • 공기 산란으로 인한 노이즈 제거

XRD 시장의 요청사항

높은 측정 신호 대 잡음비로 인해 뛰어난 데이터 품질을 보장 받기 위해서는 장시간을 두고 시료 측정을 해야 합니다.

솔루션

광원부터 검출기까지 완전 진공상태에로 인해 공기 산란을 제거하는 진공 광학 장치의 효과를 활용합니다.

이점

탁월한 신호 대 잡음비를 갗추어 측정 배경 잡음을 50% 줄이고 최선의 테이터 품질과 짧은 측정 시간을 보장받습니다.

속도 측정
속도 측정
  • 탁월한 시료 처리량 및 뛰어난 데이터 품질
  • 고강도빔 측정 모드
  • 지능형 자동화를 채택하여 신속한 작업 흐름

XRD 시장의 요청사항

일반적인 XRD 기기에서는 데이터 품질을 높이려면 장시간 시료측정을 해야 합니다.

솔루션

XRDynamic 500은 TruBeam ™ 덕분에 측정 구성에 관계 없이 항상 뛰어난 데이터 품질과 최적의 빔강도를 제공합니다. 또한 기기 구성 변경 및 루틴 정렬과 같은 다양한 작업 흐름 자동화가 기본탑재되어 있습니다.

이점

측정 시간을 단축하여 높은 시료 처리량이 보증됩니다. 지능형 자동화를 통해 기기 앞에서의 불필요한 시간은 최소화 합니다.

엑스레이 광원
엑스레이 광원
  • XRD 및 SAXS에 이상적인 고성능 PRIMUX 3000 X선 소스
  • 몇 분 내에 X 선 튜브 교체
  • 모든 조건에서 최대 기본 광선 강도 확보

당면 과제

X 선 튜브를 교체하는 일이 복잡한 경우가 많기 때문에 언제나 최적의 X 선 튜브 양극으로 작동하는 것은 쉽지 않습니다. 또한 여러 X 선 광학 장치를 이용하여 작업할 때 광원부터 광학 장치까지 정렬이 최적화되지 않아 기본 광선 강도를 희생해야 합니다.

솔루션

Primux 3000 X 선 광원의 지능형 설계를 통해 필요할 때 X 선 튜브를 빠르게 교체할 수 있습니다. 모든 광원과 광학 장치 조합의 자동 정렬이 가능합니다.

이점

광원에서 시료 형광과 같은 문제를 처리합니다. X 선 튜브 교체, 자동 정렬, 15분 이내에 새로운 파장 재측정. 모든 측정 지오메트리에서 정밀한 정렬을 통해 언제나 최대 기본 광선 강도를 활용할 수 있습니다.

X선 광학
  • 고강도 다층 광학
  • 평행 및 초점 광선 지오메트리
  • 신호 대 잡음비를 극대화하는 모노크로메이터

당면 과제

특정 시료나 용도의 경우, 광선 형성 광학장치(평행 또는 집중 광선)가 필요합니다. 또한 Kβ 피크를 억제하고 측정 배경을 낮추기 위해 모노크로메이터가 필요할 수 있습니다.

솔루션

다양한 다층 모노크로메이터, 평행 광선 및 집중 광선을 전동식 광학 스택에 장착하고 한 번의 클릭으로 선택할 수 있습니다. 최적화된 인출각으로 모든 광학장치의 정교한 자동 정렬을 실현합니다. 특별한 Ni/C 다층 광학은 Cu 및 Co 광원에 대한 고유 Kβ 필터링을 제공합니다.

이점

모든 광학장치에서 최대한 높은 강도를 활용하여 측정 시간을 줄이십시오. 뛰어난 신호 대 잡음비와 우수한 분해능으로 최상의 품질 데이터를 확보하십시오.

감지기
  • 0D 또는 1D 모드의 최신 픽셀 감지기기술
  • 고해상도를 위한 작은 픽셀 크기
  • 에너지 필터링

당면 과제

고품질 XRD 데이터를 위해서는 뛰어난 분해능과 신호 대 잡음비를 제공하는 감지기가 필요합니다.

솔루션

Advacam의 최신 광자 계산 기술을 토대로 제작된 Pixos 감지 장치를 통해 0D 또는 1D 모드 측정을 가능하게 합니다. XRDynamic 500은 Si 또는 CdTe 센서를 선택할 수 있어 모든 파장 길이와 능동형 에너지 필터링, 출시 제품 중 가장 작은 픽셀 크기 (55 µm x 55 µm)을 자랑합니다.

이점

XRDynamic 500의 확대된 고니오미터 반경과 작은 픽셀 크기의 감지기로 모든 파장의 최대 측정 분해능을 제공 합니다. 또는 Pixos 감지 장치는 뛰어난 애너지 분해능 (지능형 에너지 필터링 이용), 선형성 및 효율성을 제공합니다.

시료 스테이지
  • 모든 응용 분야에 맞는 장비 유연성
  • 높은 분석량을 위한 샘플체인저
  • 뛰어난 장치 견고성

당면 과제

다양한 분석을 위해서는 이에 적합한 샘플 스테이지 및 홀더를 갖춰야 합니다.

솔루션

다목적 샘플 스테이지와 고체시료 샘플체인저 사용으로 분말 또는 고체 시료 분석에 있어서 반사 및/또는 투과 측정을 모두를 가능하게 합니다.

이점

다양한 샘플스테이지를 이용하여 여러 종류의 시료를 측정할 수 있습니다. 모듈구성 인식기능을 통한 플러그 앤 플레이 방식으로 분석을 신속하게 진행합니다.

샘플 홀더
  • 다양한 샘플 홀더
  • 다양한 시료군을 위한 솔루션
  • 약한 산란 및 민감한 물질 분석을 위해 최적화된 샘플 홀더

당면 과제

진정한 다목적 회절 분석기를 완성하기 위해서는 모든 타입의 시료분석 조건을 충족해야합니다.

솔루션

다양한 샘플 홀더  를 공급하여 분말, 고체 , 필름, 섬유, 겔, 페이스트, 액체 등 모든 유형의 시료에 사용가능합니다.

이점

반사나 투과모드 분석시 항상 최적화된 시료 홀더를 사용하는 장점이 있습니다. 유기 또는 무기, 공기 또는 습기에 민감한 시료에서도 XRDynamic 500은 솔루션을 제공합니다.

고온 XRD
  • 고온 XRD가 쉬워졌습니다.
  • 플러그 앤 플레이 기능
  • 모든 샘플스테이지를 위한 내장형 온도 제어장치 (CCU)

당면 과제

고온 XRD 실험의 경우 복잡하고 오랜 시간이 소요될 수 있습니다. 외부 제어장치와 연결하기 위해서는 일반적으로 많은 케이블과 호스를 장비 하우징 안으로 공급해야 합니다.

솔루션

Anton Paar 고온온도조절기 경우 단일 내장형 CCU 제어장치와 플러그 앤 플레이 기능으로 이를 간편하게 해결하였습니다. 고온 온도조절기 설치시 기기 하우징내에서 간단하게 연결 가능한 편리한 기능을 경험해보시기 바랍니다.

이점

XRDynamic 500을 사용하면 다른 측정과 더불어 고온 실험의 경우도 쉽게 하실수 있으며 사용목적에 따라 손쉽게 셋업을 할 수 있습니다. 내장 CCU는 여러가지 고온 온도조절기 연결 장치와 제어장치 설치의 복잡함을 줄여줍니다.

SAXS
SAXS
  • 개별 SAXS 분석기 수준의 데이터 품질
  • 광원에서 감지기까지 완전 진공 빔패스
  • qmin 최저 0.05 nm⁻¹

당면 과제

회절 분석기의 소각 X 선 산란 (SAXS) 측정은 일반적으로 퀄러티가 떨어진 분석 데이터만 제공할 수 있습니다. 하이 퀄러티 SAXS 측정을 위해서는 전용 SAXS 장비가 필요합니다.

솔루션

EVAC 모듈과 XRDynamic 500의 조합은 완전 진공 빔패스와 전용 SAXS 광학을 통해 0.05 nm⁻¹의 qmin을 측정 품질을 제공합니다. 

이점

회절 분석기를 이용한 하이퀄러티 SAXS 측정 단 하나의 장비로 최상의 품질을 갖춘 XRD 및 SAXS 데이터를 제공합니다.

기술 사양

X선 소스
소스 타입 Primux 3000
X선 발생기 최대 3kW
X선 튜브 전압 / 전류 20 kV ~ 60 kV / 2 mA ~ 50 mA
고니오미터
장비 구성 수직형 세타/세타 지오메트리
측정 반경 360 또는 400 mm
사용 가능한 최대 각 범위 -95° – 162.5° 2 세타
최소 조절 단위 0.0001°
2 세타 선형 0.01 ° 이하
최고 각속도 15 °/초
최대 각도 분해능 0.021° (첫 번째 LaB₆ 피크의 FWHM)
샘플 스테이지 및 옵션
상온용 시료 스테이지 고정형 시료 스테이지
회전형 스테이지 (회절형/투과형)
XY 스테이지 (오토 샘플러 옵션 포함)
캐필러리 회전형 스테이지
EVAC 모듈
고온 측정용 옵션 HTK 1200N
HTK 16N/2000N
TTK 600
XRK 900
CHC plus⁺
BTS 150/500
검출기 솔리드 스테이트 하이브리드 픽셀 검출기:
  • Pixos 1000 검출기 (0D 모드)
  • Pixos 2000 검출기 (0D 및 1D 모드)
  • 고출력 X선용 Pixos 2000 CdTe 검출기 (0D 및 1D 모드)
소프트웨어
  • XRDdrive : 시스템 제어 및 데이터 수집 소프트웨어
  • XRDanalysis : 정량 및 정성 분석, 미세구조 분석, 리트펠트 리피인먼트 등을 위한 데이터 처리 및 분석
장비 사양
장비 사이즈 (너비 x 깊이 x 높이) 1350 mm x 1160 mm x 1850 mm
무게 (옵션 액세서리 제외) 750kg
전원 공급 장치 3 상: 3/N/PE AC 400/230 V, 50…60 Hz, 25 A
1 상: 208…240 VAC, 50…60 Hz, 36 A
최대 전력 소비량
( 옵션 장비를 위한 추가 컨트롤러 용량 제외)
5.5 kW
냉각수 공급 유량: > 3.6 L/min,   압력: 4.5 – 6 bar, 온도: < 25 °C

Anton Paar 공인 서비스

Anton Paar 서비스 및 지원 품질 :
  • 전 세계 350명 이상의 제조업체 인증 기술 전문가
  • 현지 언어로 이루어지는 검증된 지원
  • 수명 주기 동안 투자 보호
  • 3년 보증
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온라인 가격 | 제외포함 0부가가치세

실튜브 형태의 X 선 소스 :
Primux 3000

배송 시간: %1$s ~ %2$ 영업일 %1$s~%2$s주 %1$s~%2$s개월
제품 세부 정보
  • 고품질의 X 선 분석을 위한 강력한 X 선 광원
  • 다양한 양극 재료 이용 가능
  • 손쉬운 X 선 튜브 교체 및 포커스 변경

추가 정보

최신의 XRD 옵션

배송 시간: %1$s ~ %2$ 영업일 %1$s~%2$s주 %1$s~%2$s개월
제품 세부 정보
  • 고강도 다층 X 선 옵틱
  • 모든 파장에 적합한 평행 및 포커스드 빔 옵틱 제공
  • 1차 모노크로메이터를 이용한 최대 Kβ 억제 기능

추가 정보

XRD 검출기 :
Pixos

배송 시간: %1$s ~ %2$ 영업일 %1$s~%2$s주 %1$s~%2$s개월
제품 세부 정보
  • 고급 노이즈 감소 기능을 갖춘 최신 CERN 픽셀 검출 기술 구현
  • 선택한 센서 재료로 0D 또는 1D 모드에서 측정
  • 탁월한 분해능을 제공하는 최소 픽셀 크기 (55 µm x 55 µm)
  • 측정 노이즈를 최소화하는 에너지 필터

추가 정보

XRDynamic 500용 시료 스테이지 및 샘플 홀더

배송 시간: %1$s ~ %2$ 영업일 %1$s~%2$s주 %1$s~%2$s개월
제품 세부 정보
  • 다양한 응용 분야를 위한 다목적 시료 스테이지
  • 신속한 자동 분석이 가능케한 시료 주입기 옵션
  • 여러 가지 타입의 시료들을 위한 다양한 샘플 홀더

추가 정보

고분해능 SAXS 및 XRD 용 진공 챔버 :
EVAC 모듈

배송 시간: %1$s ~ %2$ 영업일 %1$s~%2$s주 %1$s~%2$s개월
제품 세부 정보
  • 초진공 상태의 빔라인을 유지하여 탁월한 신호 대 잡음비 제공
  • 별도의 SAXS 분석장비의 품질을 갖춘 전용 SAXS 측정 광학 모듈 옵션
  • 반사나 투과 모드 고분해능 XRD 연구에 적합
  • 2θ 범위에서 제한 없는 측정 가능

추가 정보

저온 챔버:
TTK 600

추가 정보
배송 시간: %1$s ~ %2$ 영업일 %1$s~%2$s주 %1$s~%2$s개월
부품 번호: 159900

고온 스트립 히터 챔버:
HTK 16N | HTK 2000N

추가 정보
배송 시간: %1$s ~ %2$ 영업일 %1$s~%2$s주 %1$s~%2$s개월
Cryo & Humidity Chamber CHC plus+ is a unique combination of the multi-purpose CHC Cryo & Humidity Chamber and an advanced humidity (RH) generator for the analysis of humidity-dependent and/or temperature-dependent structural changes in materials using X-ray diffraction

극저온 및 습도 챔버:
CHC plus⁺

추가 정보
배송 시간: %1$s ~ %2$ 영업일 %1$s~%2$s주 %1$s~%2$s개월
부품 번호: 79710
Reactor Chamber: XRK 900

반응 챔버:
XRK 900

추가 정보
배송 시간: %1$s ~ %2$ 영업일 %1$s~%2$s주 %1$s~%2$s개월
부품 번호: 84851
Benchtop Heating Stage BTS 500

테이블형 가열 스테이지:
BTS 150 | BTS 500

추가 정보
배송 시간: %1$s ~ %2$ 영업일 %1$s~%2$s주 %1$s~%2$s개월
High-Temperature Oven Chamber: HTK 1200N with a robust design for in-situ X-ray diffraction studies in different atmospheres up to 1200 °C

고온 오븐 챔버:
HTK 1200N

추가 정보
배송 시간: %1$s ~ %2$ 영업일 %1$s~%2$s주 %1$s~%2$s개월

XRD 소프트웨어 :
XRDanalysis 분석 소프트웨어

배송 시간: %1$s ~ %2$ 영업일 %1$s~%2$s주 %1$s~%2$s개월
제품 세부 정보
  • XRD 분석에 최적화된 다목적 소프트웨어 패키지
  • 빠르고 정확한 상 식별을 위한 검색/매치 기능
  • 매치 또는 수동으로 불러온 상들의 Rietveld 분석
  • 분석 작업의 속도를 높이고 간소화하기 위한 배치 분석을 포함하여 최적화된 분석 기능 보유

추가 정보