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XRD 소프트웨어 :
XRDanalysis 분석 소프트웨어

  • +3
  • XRD 분석에 최적화된 다목적 소프트웨어 패키지
  • 빠르고 정확한 상 식별을 위한 검색/매치 기능
  • 매치 또는 수동으로 불러온 상들의 Rietveld 분석
  • 분석 작업의 속도를 높이고 간소화하기 위한 배치 분석을 포함하여 최적화된 분석 기능 보유

XRDanalysis는 Anton Paar의 XRDynamic 500의 차세대 파우더 X선 회절 데이터 분석용 소프트웨어 패키지입니다. 이를 통해 손쉽게 프로필 장착, 위상 식별, 정량화, 상온 및 고온 조건에서 수집된 데이터의 마이크로 구조 분석을 수행할 수 있습니다. XRDanalysis는 여러 작업에 용이하게 사용되는 최적의 분석 기능을 갖추어 XRD의 초보 사용자를 지원하는 한편 전문가들이 요구하는 분석 유연성 또한 제공합니다.  

주요 특징

여러 개별적인 분석들을 단일 분석작업으로 통합 처리하는 분석 자동화

여러 개별적인 분석들을 단일 분석작업으로 통합 처리하는 분석 자동화

한 번의 클릭으로로 여러 작업을 결합하고 실행하도록 하는 자동 기능 장착되어 사용자 목적에 적합하게 분말 회절 데이터 분석을 수행합니다. 피크 검색, 프로필 피팅, 위상 식별부터 Rietveld 분석에 이르기까지 모든 단계를 하나의 작업 단위로 결합하여 분석 작업 자동화가 가능합니다. 여러 데이터 결과들을 평가하기 위해 필요할 경우 여러 데이터 결과일 경우도 한개의 작업 흐름에서 쉽게 수행할 수 있습니다. 이를 통해 경험이 적은 초보 사용자가 XRDanalysis를 아주 손쉽게 사용 가능하며 또한 전문가에 필요한 장비 운용 유연성도 제공합니다. 

높은 정확성을 지닌 최신의 상 식별 기능

높은 정확성을 지닌 최신의 상 식별 기능

XRDanalysis에 이용되는 검색/일치 알고리즘은 ICDD의 PDF 데이터베이스와 같은 기준 데이터베이스 검색을 통해 상의 식별이 가능합니다. 최신의 잔류 검색 기능으로 상을 추가하면 가장 작은 소수상도 쉽게 식별할 수 있습니다. 또한 잔류 검색은 상을 수동으로 불러왔을 때에도 작동하여 (예: CIF로부터) 상 식별 중에 별도로 참조 데이터베이스에 의존하지 않아도 됩니다.  

소수상에서도 정확한 정량화 가능

소수상에서도 정확한 정량화 가능

XRDanalysis의 Rietveld refinement 옵션은 상의 정량 및 구조 분석을 수행하는 한편 모든 기기 및 시료의 미세구조 효과를 계산하도록 합니다. Rietveld 분석은 원자 단위에 있는 상에서도 수행 가응합니다. 상식별은 참조 데이터베이스 일치 결과에서 직접 확인되거나 CIF에서 수동으로 진행됩니다. 두가지에서 상식별 조합도 가능합니다. 리파인드된 상변수는 Phase fractions 뿐만 아니라 결정 사이즈 및 변형률과 같은 미세구조 상수도 제공합니다.  

사용자 맞춤형 리포트

사용자 맞춤형 리포트

XRDanalysis 소프트웨어 모든 분석 단계에서 사용자가 선택한 형식으로 쉽고 빠르게 데이터와 그래픽을 내보낼 수 있습니다. Microsoft Office 패키지 사용으로 최적화된 인터페이스를 보유하며 이를 통해 리포트 및 데이터 내보내기 기능을 이용하여 데이터와 그래픽을 외부로 용이 하게 보낼수 있어 다른플렛폼에서 추가분석이 가능하다.

기술 사양

시스템 요구 사항
  • Intel™ i5, 2.67GHz 이상
  • 16GB RAM(운영 체제에 따라 다름)
  • 프리 디스크 공간 1.5GB
지원되는 운영 체제:
  • Microsoft Windows™ 8, 10; 64-bit

Anton Paar 공인 서비스

Anton Paar 서비스 및 지원 품질 :
  • 전 세계 350명 이상의 제조업체 인증 기술 전문가
  • 현지 언어로 이루어지는 검증된 지원
  • 수명 주기 동안 투자 보호
  • 3년 보증
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