Logiciel XRD :
XRDanalysis
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- Un logiciel polyvalent pour l'analyse par diffraction des poudres
- Fonction de recherche/appariement pour une identification rapide et précise des phases
- Analyse Rietveld utilisant des phases appariées ou chargées manuellement
- Flux d'analyse optimisés, y compris l'analyse par lots, pour accélérer et simplifier vos tâches d'analyse
XRDanalysis est un logiciel de nouvelle génération pour l'analyse des données de diffraction des poudres sur le XRDynamic 500 d'Anton Paar. Il vous permet d'effectuer sans effort l'ajustement des profils, l'identification ou la quantification des phases et l'analyse de la microstructure sur des données recueillies dans des conditions ambiantes et non ambiantes. XRDanalysis propose des flux d'analyse optimisés pour différentes tâches afin d'aider les utilisateurs débutants en XRD, tout en conservant la flexibilité exigée par les utilisateurs plus avancés.
Caractéristiques principales
Automatisez votre analyse en intégrant plusieurs tâches d'analyse dans un seul flux de travail
Effectuez l'analyse des données de diffraction des poudres comme vous le souhaitez grâce à un concept de flux de travail flexible qui permet de combiner et d'exécuter plusieurs tâches en un seul clic. De la recherche des pics, de l'ajustement des profils, de l'identification des phases, jusqu'à l'analyse Rietveld, toutes les étapes peuvent être combinées en un seul flux de travail pour automatiser vos tâches d'analyse. Pour l'évaluation de plusieurs ensembles de données, le traitement par lots peut également être facilement réalisé, même avec des flux de travail différents pour les différents ensembles de données, si vous le souhaitez. Cela rend la XRDanalysis extrêmement facile à apprendre et à utiliser par les utilisateurs moins expérimentés, tout en donnant aux utilisateurs experts la flexibilité dont ils ont besoin.
Identification avancée des phases pour ne jamais en manquer une
Les algorithmes de recherche et d'appariement utilisés dans XRDanalysis permettent l'identification des phases par la recherche dans les bases de données de référence telles que les bases de données PDF de l'ICDD. Une recherche résiduelle avancée est effectuée une fois que les phases ont été ajoutées, ce qui garantit que même les fractions de phase les plus mineures peuvent être identifiées. De plus, la recherche résiduelle fonctionne également lorsque les phases ont été chargées manuellement (par exemple, à partir d'un CIF). Vous n'avez donc pas besoin de vous fier uniquement aux bases de données de référence lors de l'identification des phases.
Quantification précise de la phase, même pour les phases mineures
L'option d'affinement de Rietveld dans l'analyse XRD vous permet d'effectuer une analyse quantitative des phases et des structures tout en tenant compte de tous les effets microstructurels de l'instrument et de l'échantillon. L'analyse de Rietveld peut être effectuée sur n'importe quelle phase où les positions atomiques sont disponibles. Les phases peuvent être soit directement reportées des résultats de la correspondance de la base de données de référence, soit ajoutées manuellement à partir des CIF ; des combinaisons de phases provenant des deux sources sont également possibles. Les paramètres de phase raffinés fournissent non seulement les fractions de phase, mais aussi les paramètres microstructuraux tels que la taille des cristallites et la déformation.
Rapports personnalisables
XRDanalysis permet d'exporter rapidement et facilement les données et les graphiques de chaque étape de l'analyse dans le format de votre choix. Comprenant une interface optimisée avec les progiciels Microsoft Office, la fonction d'établissement de rapports et d'exportation de données permet une préparation optimale des données et des graphiques en vue de leur publication ou d'une analyse plus approfondie en dehors de la plate-forme XRDanalysis.
Spécifications techniques
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| Systèmes d’exploitation supportés |
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Service certifié Anton Paar
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Documents
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XRDynamic 500 Brochures
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