Jest to pole obowiązkowe.
Invalid
Nr katalogowy
Błąd weryfikacji!

Oprogramowanie XRD:
XRDanalysis

  • Wszechstronny pakiet oprogramowania do analizy dyfrakcji proszkowej
  • Funkcja search/match umożliwiająca szybką i dokładną identyfikację faz
  • Analiza Rietvelda z wykorzystaniem danych faz dopasowanych lub załadowanych ręcznie
  • Zoptymalizowane procedury analityczne, w tym analiza wsadowa, przyspieszające i upraszczające zadania analityczne
Cena dostępna tylko online | nie zaw.w tym 0VAT
Cena
na żądanie
Informacja o zakupie
Kupuj urządzenia Anton Paar w sklepie internetowym
Nr katalogowy:
Sprawdź dostępność w sklepie internetowym Zapytaj o cenę Kup ten produkt online
Czas dostawy: %1$s – %2$s dni robocze/roboczych %1$s – %2$s tygodni %1$s – %2$s miesięcy

XRDanalysis to pakiet oprogramowania nowej generacji do analizy danych dyfrakcji proszkowej dla urządzenia XRDynamic 500 firmy Anton Paar. Umożliwia przeprowadzenie w prosty sposób dopasowania profilu, identyfikacji fazy lub oznaczania ilościowego oraz analizę mikrostruktury na podstawie danych zebranych zarówno w warunkach otoczenia, jak i innych. XRDanalysis zawiera zoptymalizowane procedury pomiarowe dla różnych zadań badawczych, aby pomóc użytkownikom mało doświadczonym w XRD, zachowując jednocześnie elastyczność pracy cenną dla bardziej zaawansowanych użytkowników.  

Podstawowe charakterystyki

Zautomatyzuj analizę, tworząc jedną procedurę poprzez integrację kilku metod analitycznych

Zautomatyzuj analizę, tworząc jedną procedurę poprzez integrację kilku metod analitycznych

Prowadzenie analizy danych z badań dyfrakcji proszkowej zgodnie z własnymi preferencjami, jest możliwe dzięki elastycznej koncepcji procedur pracy, która umożliwia łączenie i wykonywanie wielu zadań za pomocą jednego kliknięcia. Od wyszukiwania pików, dopasowywania profilu i identyfikacji faz, aż po analizę Rietvelda, wszystkie kroki można połączyć w integralną procedurę, aby zautomatyzować zadania analityczne. W przypadku wyliczeń dla wielu zestawów danych można w łatwy sposób przeprowadzić przetwarzanie wsadowe, nawet dla różnych procedur pracy oraz różnych zestawów danych, jeśli jest to pożądane. Wszystko to sprawia, że opanowanie i obsługa oprogramowania XRDanalysis są niezwykle łatwe dla mniej doświadczonych użytkowników, zapewniając jednocześnie użytkownikom doświadczonym elastyczność, której potrzebują. 

Zaawansowana identyfikacja faz, aby nigdy nie przegapić żadnej z nich

Zaawansowana identyfikacja faz, aby nigdy nie przegapić żadnej z nich

Algorytmy search/match zastosowane w XRDanalysis umożliwiają identyfikację faz poprzez wyszukiwanie w referencyjnych bazach danych, takich jak bazy PDF z ICDD. Zaawansowane wyszukiwanie resztkowe jest wykonywane po dodaniu faz, gwarantując tym samym identyfikację nawet najdrobniejszych frakcji fazowych. Co więcej, wyszukiwanie resztkowe działa również wtedy, gdy dane faz zostały wprowadzone ręcznie (np. z CIF), dzięki czemu podczas identyfikacji faz nie trzeba polegać wyłącznie na referencyjnych bazach danych.  

Dokładne oznaczanie ilościowe nawet najmniejszych faz

Dokładne oznaczanie ilościowe nawet najmniejszych faz

Opcja dokładnego obliczania Rietvelda w XRDanalysis pozwala na przeprowadzenie ilościowej analizy fazowej i strukturalnej z uwzględnieniem wszystkich oddziaływań mikrostrukturalnych urządzenia i próbki. Analizę Rietvelda można przeprowadzić w dowolnej fazie, dla której dostępne są pozycje atomowe. Fazy mogą być albo bezpośrednio przeniesione z wyników dopasowania do referencyjnej bazy danych, albo dodane ręcznie z CIF; możliwe są również kombinacje danych z obu źródeł. Dokładnie określone parametry fazowe dostarczają nie tylko informacji o frakcjach fazowych, ale również na temat parametrów mikrostrukturalnych takich jak wielkość i odkształcenia krystalitów.  

Konfigurowalne raporty pomiarowe

Konfigurowalne raporty pomiarowe

XRDanalysis umożliwia szybkie i łatwe eksportowanie danych i obrazów z każdego etapu analizy w wybranym formacie. Dzięki optymalizacji iterfejsu z pakietami Microsoft Office funkcja tworzenia raportów i eksportu danych pozwala w optymalny sposób przygotować dane i grafiki do publikacji lub do dalszej analizy poza platformą XRDanalysis.

Dane techniczne

Wymagania systemowe
  • Procesor Intel™ i5 o taktowaniu 2,67 GHz lub szybszy
  • 16 GB pamięci RAM (w zależności od systemu operacyjnego)
  • 1,5 GB wolnego miejsca na dysku
Obsługiwane systemy operacyjne
  • Microsoft Windows™ 8, 10 w wersji 64-bitowej

Certyfikowany serwis Anton Paar

Jakość usług i wsparcia Anton Paar:
  • ponad 350 certyfikowanych przez producentów ekspertów technicznych na całym świecie
  • Wykwalifikowana pomoc w Twoim lokalnym języku
  • Ochrona Twojej inwestycji przez cały okres jej użytkowania
  • Trzyletnia gwarancja
Dowiedz się więcej

Urządzenia kompatybilne