XRD-Software:
XRDanalysis
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- Vielseitiges Softwarepaket für die Pulverdiffraktionsanalyse
- Search-Match-Funktion für schnelle und genaue Phasenidentifikation
- Rietveld-Analyse mit manuell geladenen Phasen oder Phasen aus einer Datenbank
- Optimierte Analyseabläufe einschließlich Batch-Analyse zur Beschleunigung und Vereinfachung Ihrer analytischen Aufgaben
XRDanalysis ist ein Softwarepaket der nächsten Generation für die Analyse von Pulverdiffraktionsdaten des XRDynamic 500 von Anton Paar. Es ermöglicht Ihnen die mühelose Durchführung von Profil-Fits, Phasenidentifikation oder -quantifizierung und Mikrostrukturanalysen an Daten, die sowohl unter Umgebungs- als auch Nicht-Umgebungsbedingungen erfasst wurden. XRDanalysis verfügt über optimierte Analyseabläufe für verschiedene Aufgaben, um Benutzerinnen und Benutzer zu unterstützen, die neu in die Röntgendiffraktion einsteigen. Sie bieten aber gleichzeitig die Flexibilität, die Fortgeschrittene benötigen.
Technische Highlights
Automatisierung der Analyse durch Integration mehrerer Analyseaufgaben in einen einzigen Arbeitsablauf
Führen Sie die Analyse von Pulverdiffraktionsdaten nach Ihren Bedürfnissen durch – mit einem flexiblen Arbeitsablaufkonzept, das es erlaubt, mehrere Aufgaben zu kombinieren und mit einem einzigen Klick auszuführen. Von der Peak-Suche, den Profil-Fits und der Phasenidentifikation bis hin zur Rietveld-Analyse können alle Schritte in einem einzigen Arbeitsablauf kombiniert werden, um Ihre Analyseaufgaben zu automatisieren. Für die Auswertung mehrerer Datensätze ist auch eine Stapelverarbeitung möglich – auf Wunsch auch mit unterschiedlichen Arbeitsabläufen für verschiedene Datensätze. Dadurch ist die Arbeit mit XRDanalysis auch für weniger erfahrene Anwenderinnen und Anwender extrem einfach zu erlernen, während Expertinnen und Experten ihre nötige Flexibilität erhalten.
Fortgeschrittene Phasenidentifikation um keine Phase zu verpassen
Die in XRDanalysis verwendeten Search-Match-Algorithmen ermöglichen die Phasenidentifikation über die Suche in Referenzdatenbanken wie etwa die PDF-Datenbanken der ICDD. Nach dem Hinzufügen von Phasen wird eine erweiterte Restsuche durchgeführt, die sicherstellt, dass auch die kleinsten Phasenanteile identifiziert werden können. Außerdem funktioniert die Restsuche auch, wenn Phasen manuell geladen wurden (z. B. aus einer CIF-Datei), sodass Sie sich bei der Phasenidentifikation nicht nur auf Referenzdatenbanken verlassen müssen.
Genaue Phasenquantifizierung auch für Phasen in kleinen Mengen
Mit der Rietveld-Fit-Option in XRDanalysis können Sie eine quantitative Phasen- und Strukturanalyse unter Berücksichtigung aller Geräte- und Probenmikrostruktureffekte durchführen. Die Rietveld-Analyse kann für jede Phase durchgeführt werden, für die Atompositionen verfügbar sind. Phasen können entweder direkt aus den Abgleichergebnissen der Referenzdatenbank übernommen oder manuell aus CIFs hinzugefügt werden. Auch Kombinationen von Phasen aus beiden Quellen sind möglich. Die verfeinerten Phasenparameter liefern nicht nur die Phasenanteile, sondern auch mikrostrukturelle Parameter wie Kristallitgröße und Spannung.
Anpassbare Berichte
XRDanalysis ermöglicht es, Daten und Grafiken aus jedem Analyseschritt schnell und einfach in ein Format Ihrer Wahl zu exportieren. Die Berichts- und Datenexportfunktion umfasst eine optimierte Schnittstelle zu Microsoft Office-Paketen und ermöglicht eine optimale Aufbereitung von Daten und Grafiken zur Veröffentlichung oder zur weiteren Analyse außerhalb der XRDanalysis-Plattform.
Technische Daten
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Anton Paar Certified Service
- mehr als 350 vom Hersteller zertifizierte technische Experten weltweit
- Qualifizierter Support in Ihrer Landessprache
- Schutz für Ihre Investition während des gesamten Produktlebenszyklus
- 3-Jahres-Garantie
Dokumente
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XRDynamic 500 Broschüren
Kompatible Geräte
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