Software XRD:
XRDanalysis
-
-
-
- +3
- Všestranný softwarový balíček pro analýzu práškové difrakce
- Funkce vyhledávání/spárování pro rychlou a přesnou identifikaci fáze
- Rietveldova analýza pomocí spárovaných nebo ručně načtených fází
- Optimalizované analytické pracovní postupy včetně dávkové analýzy pro urychlení a zjednodušení vašich analytických úkolů
XRDanalysis je softwarový balíček nové generace pro analýzu dat práškové difrakce na přístroji XRDynamic 500 od společnosti Anton Paar. Umožňuje snadno provádět fitování profilů, identifikaci nebo kvantifikaci fází a analýzu mikrostruktury na datech získaných za ambientních i neambientních podmínek. XRDanalysis nabízí optimalizované analytické pracovní postupy pro různé úkoly, které pomáhají uživatelům, kteří s XRD teprve začínají, a zároveň zachovávají flexibilitu vyžadovanou pokročilejšími uživateli.
Klíčové charakteristiky
Automatizujte svou analýzu integrací více analytických úkolů do jednoho pracovního postupu
Proveďte analýzu dat práškové difrakce tak, jak chcete, díky flexibilnímu konceptu pracovních postupů, který umožňuje kombinovat a provádět více úkolů jediným kliknutím. Všechny kroky od vyhledávání píků, fitování profilu, identifikace fáze až po Rietveldovu analýzu lze spojit do jediného pracovního postupu a automatizovat tak analytické úlohy. Pro vyhodnocení více datových sad lze také snadno provádět dávkové zpracování, a to v případě potřeby i s různými pracovními postupy pro různé datové sady. Díky tomu se analýzu XRDanalysis mohou velmi snadno naučit a používat i méně zkušení uživatelé, přičemž odborní uživatelé mají stále k dispozici potřebnou flexibilitu.
Pokročilá identifikace fází, abyste nikdy nevynechali žádnou fázi
Algoritmy pro vyhledávání a porovnávání používané v analýze XRDanalysis umožňují identifikaci fáze pomocí vyhledávání v referenčních databázích, jako jsou databáze PDF od ICDD. Po přidání fází se provádí pokročilé vyhledávání zbytků, které zajišťuje, že lze identifikovat i ty nejmenší fázové frakce. Vyhledávání zbytků navíc funguje i v případě, že byly fáze načteny ručně (např. z CIF), takže se při identifikaci fází nemusíte spoléhat pouze na referenční databáze.
Přesná kvantifikace fází i u vedlejších fází
Možnost Rietveldova zpřesnění v analýze XRDanalysis umožňuje provádět kvantitativní fázovou a strukturní analýzu při zohlednění všech mikrostrukturních vlivů přístroje a vzorku. Rietveldovu analýzu lze provést v jakékoli fázi, kde jsou k dispozici polohy atomů. Fáze lze buď přímo přenést z výsledků porovnávání v referenční databázi, nebo ručně přidat z CIF; možné jsou i kombinace fází z obou zdrojů. Zpřesněné fázové parametry poskytují nejen fázové frakce, ale také mikrostrukturní parametry, jako je velikost krystalitů a deformace.
Přizpůsobitelné sestavování zpráv
XRDanalysis umožňuje rychlý a snadný export dat a grafiky z každého kroku analýzy do formátu podle vašeho výběru. Díky optimalizovanému rozhraní s balíčky Microsoft Office umožňuje funkce sestavování zpráv a exportu dat optimální přípravu dat a grafiky pro publikaci nebo pro další analýzu mimo platformu XRDanalysis.
Technické specifikace
| Požadavky systému |
|
| Podporované operační systémy |
|
Certifikovaný servis Anton Paar
- Více než 350 výrobcem certifikovaných technických specialistů po celém světě
- Kvalifikovaná podpora ve vašem jazyce
- Ochrana vaší investice po celou dobu jejího životního cyklu
- 3letá záruka
Dokumenty
-
XRDynamic 500 Prospekty
Kompatibilní přístroje
Získejte nyní příslušenství pro neambientní RTG difrakci zdarma!
Další informace