• High-Temperature Oven Chamber: HTK 1200N with a robust design for in-situ X-ray diffraction studies in different atmospheres up to 1200 °C
  • High-Temperature Oven Chamber: HTK 1200N
  • High-Temperature Oven Chamber: HTK 1200N for combined reflection and transmission XRD studies at high temperatures up to 1200 °C
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고온 오븐 챔버:
HTK 1200N

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HTK 1200N은 최고 1200°C의 다양한 대기 환경에서 실시간 X선 회절 연구에 사용할 수 있으며 견고하게 설계된 첨단 고온 챔버입니다. 이 제품의 고온조절기는 뛰어난 시료 온도 균일도를 보장합니다. HTK 1200N은 상변환, 구조 결정, 그리고 화학 반응 연구를 비롯한 다양한 유형의 실시간 X선 조사에 사용할 수 있습니다.

주요 특징

정밀한 온도 측정 및 제어

  • 시료에서 바로 측정하므로 신뢰도가 높은 온도 측정값
  • 뛰어난 시료 온도 균일도
  • 거의 제한이 없는 시료 두께

 

시료 회전이 결정적으로 중요함

  • 최적의 데이터 품질을 위한 시료 회전 옵션
  • 다양한 내화학성 소재의 시료 캐리어 사용 가능
  • 간편한 시료 전처리를 위한 빠른 시료 캐리어 교체

 

광범위한 응용 분야에 이상적인 도구

  • 고품질 소재를 사용하여 견고한 컴팩트형 설계
  • 시중에서 판매되는 대부분의 고니오미터와 호환
  • 온도에 따른 시료 리얼라인먼트를 위해 자동 전동 z-얼라인먼트 스테이지와 함께 사용 가능

기술 사양

작동 온도25 °C ~ 1200 °C
온도 측정Pt 10% RhPt 열전지
대기진공(10-4mbar), 공기, 비활성 가스
최대 작동 압력대기압보다 1bar 높음
입사각0 ~ 164° 2Θ
시료 홀더 소재산화 알루미늄
시료 직경최대 16 mm
측정 지오메트리반사 + 투과

Anton Paar 공인 서비스

Anton Paar 서비스 및 지원 품질 :
  • 전 세계 350명 이상의 제조업체 인증 기술 전문가
  • 현지 언어로 이루어지는 검증된 지원
  • 수명 주기 동안 투자 보호
  • 3년 보증
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HTK 1200N Sample carrier flat

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HTK 1200N Sample carrier 0.8 mm deep

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Fixing ring for sample carrier HTK 1200N

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HTK 1200N Sample carrier 0.4 mm deep

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