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Chambre du four haute température :
HTK 1200N

  • HTK 1200N - chambre haute température de conception robuste pour des examens de diffraction des rayons X in-situ dans différentes atmosphères jusqu'à 1 200 °C
  • High-Temperature Oven Chamber: HTK 1200N
  • High-Temperature Oven Chamber: HTK 1200N for combined reflection and transmission XRD studies at high temperatures up to 1200 °C
  • HTK 1200N - chambre haute température de conception robuste pour des examens de diffraction des rayons X in-situ dans différentes atmosphères jusqu'à 1 200 °C
  • High-Temperature Oven Chamber: HTK 1200N
  • High-Temperature Oven Chamber: HTK 1200N for combined reflection and transmission XRD studies at high temperatures up to 1200 °C

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HTK 1200N Contact

Le HTK 1200N est une chambre haute température avancée de conception robuste pour des examens de diffraction des rayons X in-situ dans différentes atmosphères jusqu'à 1200 °C. Son chauffage environnemental garantit une excellente uniformité de la température de l'échantillon. Utilisez la HTK 1200N pour différents types d'études des rayons X in-situ, y compris des études des transformations de phase, de détermination de structure et des études des réactions chimiques.

Caractéristiques principales

Mesure et contrôle précis de la température

  • Mesure hautement fiable de la température juste à l'endroit où se trouve l'échantillon
  • Excellente uniformité de température dans l'échantillon
  • Pratiquement aucune restriction concernant l'épaisseur de l'échantillon

 

La rotation de l'échantillon est cruciale

  • Option de rotation de l'échantillon pour des qualité de données optimales
  • Supports d'échantillons de différents matériaux résistants aux produits chimiques disponibles
  • Remplacement rapide des supports d'échantillons pour une préparation aisée des échantillons

 

L'outil idéal pour une large gamme d'applications

  • Une conception robuste et compacte utilisant des matériaux de grande qualité
  • Compatible avec la plupart des goniomètres disponibles
  • Existe avec une platine à alignement z motorisée automatisée permettant le réalignement des échantillons en fonction de la température

Spécifications techniques

Température de service25 °C à 1200 °C
Mesure de la températureThermocouple Pt 10% Rh-Pt
AtmosphèresVide (10-4 mbar), air, gaz inertes
Pression de service max.1 bar au dessus de la pression atmosphérique
Angle d'incidence0 à 164° 2Θ
Matériau du support d'échantillonsOxyde d'aluminium
Diamètre des échantillons16 mm max.
Géométrie de mesureRéflexion+ transmission

Service certifié Anton Paar

La qualité du service et du support Anton Paar :
  • Plus de 350 experts techniques certifiés par les fabricants dans le monde
  • Assistance qualifiée dans votre langue locale
  • Protection de votre investissement tout au long de son cycle de vie
  • 3 ans de garantie
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SET OF GRAPHITE FOILS FOR HTK 1200N

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Référence: 2600
Détails du produit
Set of 5 Graphite foils, 100 μm thick

SET OF KAPTON FOILS FOR HTK 1200N

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Référence: 2601
Détails du produit
Set of 5 Kapton foils, 125 μm thick, uncoated

SPARE PARTS PACKAGE HTK 1200N

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Référence: 6650
Détails du produit
Consists of:
- 1 Pc. 75850 Set of window foils (Al Coated Kapton)
- 2 Pcs. 2600 Set of graphite foils
- 2 Pcs. 2601 Set of Kapton foils
- 1 Pc. 75851 Set of O-Rings
- 1 Pc. 70175 Vacuum grease (20 g)
- 1 Pc. 15914 Fixing ring for sample carrier

SET OF WINDOW FOILS (Al COATED KAPTON) FOR HTK 1200N

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Référence: 75850

SET OF O-RINGS FOR HTK 1200N

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Référence: 75851

Si (510) ZERO BACKGROUND INSERT

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Référence: 102286
Détails du produit
Si (510) zero background insert with 0.5 mm thickness for XRDynamic 500 sample holders (241807 and 262332) and the HTK 1200N sample holder with 0.8 mm depth (15913).

GUIDE NON AMBIANT

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Référence: 223464
Détails du produit
Le XRD-Guide donne un aperçu de l'instrumentation, de l'analyse et des données interprétation aux applications. Il donne une introduction au non- ambiant diffraction des rayons X (NA-XRD) et vise à donner un aperçu global sur la instrumentation et applications principales. Le XRD-Guide est destiné à aider personnes novices dans le domaine de l'analyse NA-XRD.

HTK 1200N SAMPLE CARRIER FLAT

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Référence: 16412
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Spare sample carrier without cavity.

HTK 1200N SAMPLE CARRIER 0.8mm DEEP Spare sample carrier with a cavity of 0.8 mm depth.

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Référence: 15913

FIXING RING FOR SAMPLE CARRIER HTK 1200N

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Référence: 15914
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For fixing the sample carrier to the sample holder body.

HTK 1200N SAMPLE CARRIER 0.4 mm DEEP

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Référence: 16411
Détails du produit
Spare sample carrier with a cavity of 0.4 mm depth.