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Chambre du four haute température :
HTK 1200N

  • HTK 1200N - chambre haute température de conception robuste pour des examens de diffraction des rayons X in-situ dans différentes atmosphères jusqu'à 1 200 °C
  • High-Temperature Oven Chamber: HTK 1200N
  • High-Temperature Oven Chamber: HTK 1200N for combined reflection and transmission XRD studies at high temperatures up to 1200 °C
  • HTK 1200N - chambre haute température de conception robuste pour des examens de diffraction des rayons X in-situ dans différentes atmosphères jusqu'à 1 200 °C
  • High-Temperature Oven Chamber: HTK 1200N
  • High-Temperature Oven Chamber: HTK 1200N for combined reflection and transmission XRD studies at high temperatures up to 1200 °C

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HTK 1200N Contact

Le HTK 1200N est une chambre haute température avancée de conception robuste pour des examens de diffraction des rayons X in-situ dans différentes atmosphères jusqu'à 1200 °C. Son chauffage environnemental garantit une excellente uniformité de la température de l'échantillon. Utilisez la HTK 1200N pour différents types d'études des rayons X in-situ, y compris des études des transformations de phase, de détermination de structure et des études des réactions chimiques.

Caractéristiques principales

Mesure et contrôle précis de la température

  • Mesure hautement fiable de la température juste à l'endroit où se trouve l'échantillon
  • Excellente uniformité de température dans l'échantillon
  • Pratiquement aucune restriction concernant l'épaisseur de l'échantillon

 

La rotation de l'échantillon est cruciale

  • Option de rotation de l'échantillon pour des qualité de données optimales
  • Supports d'échantillons de différents matériaux résistants aux produits chimiques disponibles
  • Remplacement rapide des supports d'échantillons pour une préparation aisée des échantillons

 

L'outil idéal pour une large gamme d'applications

  • Une conception robuste et compacte utilisant des matériaux de grande qualité
  • Compatible avec la plupart des goniomètres disponibles
  • Existe avec une platine à alignement z motorisée automatisée permettant le réalignement des échantillons en fonction de la température

Spécifications techniques

Température de service 25 °C à 1200 °C
Mesure de la température Thermocouple Pt 10% Rh-Pt
Atmosphères Vide (10-4 mbar), air, gaz inertes
Pression de service max. 1 bar au dessus de la pression atmosphérique
Angle d'incidence 0 à 164° 2Θ
Matériau du support d'échantillons Oxyde d'aluminium
Diamètre des échantillons 16 mm max.
Géométrie de mesure Réflexion+ transmission

Service certifié Anton Paar

La qualité du service et du support Anton Paar :
  • Plus de 350 experts techniques certifiés par les fabricants dans le monde
  • Assistance qualifiée dans votre langue locale
  • Protection de votre investissement tout au long de son cycle de vie
  • 3 ans de garantie
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SET OF CAPILLARY HOLDERS TYPE 2 1.0 mm (5 pcs.)

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Référence: 41465
Détails du produit
Holders for sealed capillaries of 1.0 mm thickness.

SET OF CAPILLARY HOLDERS TYPE 2 0.5 mm (5 pcs.)

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Référence: 41463
Détails du produit
Holders for sealed capillaries of 0.5 mm thickness.

CAPILLARY HOLDER TYPE 1 CLOSED

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Référence: 27577
Détails du produit
Closed holder for capillaries with funnel tube.

CAPILLARY HOLDER TYPE 1 OPEN

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Référence: 27619
Détails du produit
Holder for capillaries with funnel tube with an opening for gas-release.

JEU DE FEUILLES DE GRAPHITE POUR HTK 1200N

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Référence: 2600
Détails du produit
Lot de 5 feuilles de graphite, 100 μm d'épaisseur

JEU DE FOILS KAPTON POUR HTK 1200N

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Référence: 2601
Détails du produit
Jeu de 5 feuilles de Kapton, 125 μm d'épaisseur, non enduites

PAQUET DE PIECES DETACHEES HTK 1200N

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Référence: 6650
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Consiste en:
- 1 pc. 75850 Jeu de films pour fenêtre (Al Coated Kapton)
- 2 pièces. 2600 Jeu de feuilles de graphite
- 2 pièces. 2601 Jeu de foils Kapton
- 1 pc. 75851 Jeu de joints toriques
- 1 pc. 70175 Graisse à vide (20 g)
- 1 pc. 15914 Bague de fixation pour porte-échantillon

JEU DE FEUILLES POUR FENÊTRES (KAPTON ENDUIT D'Al) POUR HTK 1200N

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Référence: 75850

JEU DE JOINTS TORIQUES POUR HTK 1200N

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Référence: 75851

Si (510) INSERTION DE FOND ZÉRO

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Référence: 102286
Détails du produit
Insert de fond zéro Si (510) de 0,5 mm d'épaisseur pour XRDynamic 500 porte-échantillons (241807 et 262332) et le porte-échantillons HTK 1200N avec 0,8 mm de profondeur (15913).

GUIDE NON AMBIANT

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Référence: 223464
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Le XRD-Guide donne un aperçu de l'instrumentation, de l'analyse et des données interprétation aux applications. Il donne une introduction au non- ambiant diffraction des rayons X (NA-XRD) et vise à donner un aperçu global sur la instrumentation et applications principales. Le XRD-Guide est destiné à aider personnes novices dans le domaine de l'analyse NA-XRD.

HTK 1200N PORTE-ÉCHANTILLON PLAT

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Référence: 16412
Détails du produit
Porte-échantillon de rechange sans cavité.

HTK 1200N PORTE ÉCHANTILLON 0.8mm DE PROFONDEUR Porte-échantillon de rechange avec une ca

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Référence: 15913

ANNEAU DE FIXATION POUR PORTE ECHANTILLON HTK 1200N

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Référence: 15914
Détails du produit
Pour fixer le porte-échantillon au corps du porte-échantillon.

HTK 1200N PORTE-ÉCHANTILLONS PROFONDEUR 0,4 mm

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Référence: 16411
Détails du produit
Porte-échantillon de rechange avec une cavité de 0,4 mm de profondeur.