因應學術界與產業界各項挑戰的解決方案
憑藉 60 年來在 X 射線繞射（XRD）、小角 X 射線散射（SAXS）及 X 射線光學技術領域累積的經驗，Anton Paar 提供因應各種分析挑戰的 X 射線分析解決方案。 我們的 X 射線儀器已獲學術界與產業界各領域客戶採用。 了解 Anton Paar 的 X 射線表徵解決方案如何支援您的分析需求。
Anton Paar 推出新一代 SAXS 儀器：SAXSpoint 700 與 SAXSpoint 500。
SAXSpoint 500 結合創新的 X 射線技術與高效能光束傳輸系統，可協助您處理具挑戰性的樣品，並分析奈米尺度結構。
SAXSpoint 700 可進一步拓展分析能力：無論在環境條件或非環境條件下，皆能靈活分析幾乎所有材料，甚至可量測空氣等氣體樣品。 這套 SAXS 系統配備寬敞的量測腔體，可為實驗設計提供更多可能性。
如需更多資訊，請參閱： SAXS 儀器
2028 年 SAXS excites 與 XRD excites 研討會 將於四月在奧地利風景優美的格拉茲舉行。 誠邀 X 射線分析領域的知名專家、新進研究人員與領域領袖齊聚一堂，共同探討 SAXS、XRD 及非環境條件 XRD 的最新發展。
如欲了解更多資訊，請造訪 www.anton-paar.com/saxs-xrd-excites
透過 XRDynamic 500，Anton Paar 進一步拓展 XRD 的應用可能。 XRDynamic 500 是一款全自動、多功能的粉末 X 射線繞射儀，兼具優異的資料品質與量測效率，並支援高度自動化操作。 搭配多種樣品台、元件與非環境量測附件，XRDynamic 500 可支援粉末 XRD、非環境 XRD、PDF 分析與 SAXS 等應用。
Anton Paar 的 SAXSpoint 700 與 SAXSpoint 500 小角 X 射線散射系統配備高亮度 X 射線光源與光學元件，可產生兼具高光譜純度與高通量的 X 射線光束。 結合無散射光束準直技術與先進的混合式光子計數 (HPC) 偵測器，Anton Paar 的 SAXS 儀器可實現高信噪比，並產出接近同步輻射等級的量測數據。
自 1960 年代以來，Anton Paar 一直是非環境條件 X 射線繞射附件的市場領導者，並在此專業領域累積了深厚的 XRD 應用經驗與專業知識。 我們提供先進且完整的產品組合，讓您可在不同的溫度、壓力與相對濕度等條件下研究樣品。 我們的載台可輕鬆安裝於幾乎所有繞射儀上，並與系統完整整合。
我們的最新創新成果 HTK 1500 高溫腔體，是環境式加熱器的新標竿。 HTK 1500 可對多種樣品材料進行均勻加熱，包括結晶粉末與塊狀樣品，溫度最高可達 1,500 °C。
2019 年，AXO DRESDEN 加入 Anton Paar 集團。 AXO 是多層膜單色器與 X 射線反射鏡製造領域的全球領導者，並在先進鍍膜技術方面累積超過 20 年經驗。 AXO 與全球研究團隊密切合作，可靈活開發客製化解決方案，並在 X 射線分析系統開發方面具備豐富經驗。 結合 Anton Paar 在 X 射線光源與量測儀器製造方面的專業，AXO DRESDEN 能為您的實驗需求提供切合需求的精準解決方案。
Anton Paar 的 X 射線儀器廣泛應用於多個領域的前沿研究。 以下列出近期引用我們 X 射線分析儀器的部分文獻：
用於儲能應用之層狀有機-無機雜化鈣鈦礦多晶型轉變的熱學評估。
Salgado-Pizarro, R., Navarro-Rivero, M. E., Ding, Y., Barreneche, C. & Fernández, A. I. J. Energy Storage 100, 113483 (2024).
負載於氧化石墨烯衍生物上的 Ag-MnxOy 作為鹼性直接乙醇燃料電池氧還原反應催化劑。
Wolf, S. et al. Catalysts 12, 780 (2022).
闡明分枝桿菌肌苷-5′-單磷酸脫氫酶的變構調控機制。
O. Bulvas et al.: Nat. Commun. 2025, 15, doi.org/10.1038/s41467-024-50933-6
用於無需掃描的掠出射 X 射線螢光分析之實驗室裝置。
Jonas Baumann et. al.: Analytical Chemistry, 2017, 89, 1965-1971. doi.org/10.1021/acs.analchem.6b04449
Pd 與 Mo 各 L 次殼層光電離截面的能量依賴性之實驗驗證。
Philipp Hönicke et. al.: Physical Review Letters, 2014, 113, 163001-163005. doi.org/10.1103/PhysRevLett.113.163001
