Giải pháp phân tích tia X

Giải pháp phân tích tia X

Giải pháp của chúng tôi cho mọi thách thức trong nghiên cứu học thuật và công nghiệp

Dựa trên 60 năm kinh nghiệm trong lĩnh vực nhiễu xạ tia X (XRD), tán xạ tia X góc nhỏ (SAXS) và quang học tia X tiên tiến, Anton Paar cung cấp các giải pháp phân tích tia X cho mọi thách thức. Khách hàng trong nhiều lĩnh vực, từ giới nghiên cứu học thuật đến công nghiệp, đều tin dùng các thiết bị tia X tiên tiến của chúng tôi. Tìm hiểu cách các giải pháp phân tích và đặc trưng bằng tia X của Anton Paar có thể hỗ trợ bạn.


Vượt trội toàn diện – Hệ thống SAXS mới của Anton Paar

Anton Paar tự hào giới thiệu thế hệ mới nhất của dòng hệ thống SAXS: SAXSpoint 700 và SAXSpoint 500. 

SAXSpoint 500 giúp bạn xử lý hiệu quả các mẫu phức tạp và phân tích cấu trúc ở thang nano nhờ công nghệ tia X tiên tiến cùng hệ thống dẫn chùm tia hàng đầu trong phân khúc. 

Tiến xa hơn với SAXSpoint 700, hệ thống cho phép phân tích linh hoạt gần như mọi loại vật liệu trong điều kiện thường hoặc ngoài điều kiện thường – kể cả trong không khí. Với buồng đo rộng rãi, hệ thống SAXS này mở ra vô số khả năng thử nghiệm.

Để biết thêm thông tin, vui lòng xem tại: Thiết bị SAXS 


Đánh dấu ngày này trên lịch: SAXS excites & XRD excites 2028 

Hai hội nghị chuyên đề SAXS excites và XRD excites 2028 sẽ diễn ra vào tháng 4 tại Graz, thành phố xinh đẹp của Áo. Hãy tham gia cùng các chuyên gia hàng đầu, các nhà nghiên cứu trẻ và các chuyên gia có tầm ảnh hưởng trong lĩnh vực phân tích tia X để thảo luận về những tiến bộ mới nhất trong SAXS, XRD và XRD ngoài điều kiện thường.

Để biết thêm thông tin, vui lòng truy cập www.anton-paar.com/saxs-xrd-excites


Thiết bị nhiễu xạ tia X

  • Chất lượng dữ liệu vượt trội cùng thông lượng tối đa
  • Độ linh hoạt đo lường tối đa trên một nền tảng duy nhất
  • Công nghệ TruBeam™ với hệ quang học được hút chân không và hoàn toàn tự động

Với XRDynamic 500, Anton Paar nâng XRD lên một tầm cao mới. XRDynamic 500 là máy nhiễu xạ tia X bột đa năng, vận hành hoàn toàn tự động, kết hợp chất lượng dữ liệu vượt trội với hiệu suất đo vô song và mang lại mức độ tự động hóa cao. Nhờ đa dạng bàn mẫu, mô-đun và phụ kiện đo ngoài điều kiện thường, XRDynamic 500 mang đến giải pháp cho XRD bột, XRD ngoài điều kiện thường, phân tích PDF và SAXS.

Khám phá XRDynamic 500

Thiết bị SAXS

  • Tiên phong toàn cầu trong lĩnh vực giải pháp SAXS
  • Thiết bị phòng thí nghiệm cho chất lượng dữ liệu cao nhất
  • Độ linh hoạt tối đa cho ứng dụng của bạn

Các hệ thống tán xạ tia X góc nhỏ SAXSpoint 700 và SAXSpoint 500 của Anton Paar được trang bị nguồn tia X độ chói cao cùng hệ quang học tối ưu, tạo ra chùm tia X có độ tinh khiết phổ và thông lượng cực cao. Kết hợp với hệ chuẩn trực không tán xạ và đầu dò đếm photon lai (HPC) tiên tiến, các hệ thống SAXS của chúng tôi mang lại tỷ số tín hiệu trên nhiễu cao và chất lượng dữ liệu tương đương synchrotron.

Tìm hiểu hệ thống SAXS

Phụ kiện XRD ngoài điều kiện thường

  • Dẫn đầu về công nghệ với danh mục tùy chọn đa dạng
  • Độ chính xác vượt trội trong đo lường nhiệt độ và độ đồng đều nhiệt độ
  • Chất lượng được bảo chứng bằng kinh nghiệm

Từ những năm 1960, Anton Paar luôn là đơn vị dẫn đầu thị trường về phụ kiện nhiễu xạ tia X ngoài điều kiện thường và đã xây dựng được chuyên môn hàng đầu trong lĩnh vực XRD chuyên sâu này. Danh mục sản phẩm hiện đại và toàn diện cho phép khảo sát mẫu trong các điều kiện nhiệt độ, áp suất và độ ẩm tương đối thay đổi. Các bàn mẫu của chúng tôi có thể dễ dàng lắp trên hầu như mọi nhiễu xạ kế và được tích hợp hoàn chỉnh vào hệ thống. 

Cải tiến mới nhất của chúng tôi, buồng nhiệt độ cao HTK 1500, thiết lập chuẩn mực mới trong lĩnh vực thiết bị gia nhiệt môi trường. HTK 1500 cho phép gia nhiệt đồng đều cho nhiều loại mẫu vật liệu, từ bột tinh thể đến mẫu khối, lên tới 1.500 °C.

Tìm hiểu phụ kiện XRD ngoài điều kiện thường

Quang học tia X và nguồn tia X

  • Công nghệ lắng đọng tiên tiến hàng đầu
  • Dẫn đầu toàn cầu về quang học đa lớp và chế tạo bộ đơn sắc
  • Độ chính xác dưới cấp độ nguyên tử cho mẫu chuẩn huỳnh quang tia X

Năm 2019, AXO Dresden trở thành thành viên của Tập đoàn Anton Paar. Với hơn 20 năm kinh nghiệm trong công nghệ phủ tiên tiến, AXO là đơn vị dẫn đầu toàn cầu về sản xuất bộ đơn sắc đa lớp và gương tia X. Nhờ hợp tác chặt chẽ với các nhóm nghiên cứu trên toàn thế giới và khả năng linh hoạt trong thiết kế các giải pháp theo yêu cầu, AXO có bề dày kinh nghiệm trong phát triển các hệ thống phân tích tia X. Dựa trên thế mạnh của Anton Paar trong chế tạo nguồn tia X và thiết bị đo, AXO Dresden cung cấp các giải pháp được thiết kế chính xác theo yêu cầu thí nghiệm của bạn.

Xem danh mục AXO

Ấn phẩm nổi bật

Các thiết bị tia X của Anton Paar được sử dụng trong nghiên cứu tiên tiến ở nhiều lĩnh vực ứng dụng. Dưới đây là một số ấn phẩm gần đây có đề cập đến các thiết bị phân tích tia X của chúng tôi:

XRD:

Đánh giá nhiệt của các chuyển pha đa hình trong vật liệu perovskite lai hữu cơ–vô cơ dạng lớp cho ứng dụng lưu trữ năng lượng. 
Salgado-Pizarro, R., Navarro-Rivero, M. E., Ding, Y., Barreneche, C. & Fernández, A. I. J. Energy Storage 100, 113483 (2024). 

Ag-MnxOy trên nền các dẫn xuất oxit graphene làm chất xúc tác cho phản ứng khử oxy trong pin nhiên liệu ethanol trực tiếp trong môi trường kiềm. 
Wolf, S. et al. Catalysts 12, 780 (2022).

SAXS:

Làm sáng tỏ cơ chế điều hòa dị lập thể của inosine-5′-monophosphate dehydrogenase trong vi khuẩn Mycobacterium. 
O. Bulvas et al.: Nat. Commun. 2025, 15, doi.org/10.1038/s41467-024-50933-6

AXO DRESDEN:

Hệ thiết bị phòng thí nghiệm cho phép đo huỳnh quang tia X phát xạ góc lướt không cần quét.
Jonas Baumann et al.: Analytical Chemistry, 2017, 89, 1965–1971. doi.org/10.1021/acs.analchem.6b04449

Xác minh thực nghiệm sự phụ thuộc theo năng lượng của các tiết diện quang ion hóa riêng phần ở từng phân lớp vỏ L của Pd và Mo.
Philipp Hönicke et al.: Physical Review Letters, 2014, 113, 163001–163005. doi.org/10.1103/PhysRevLett.113.163001

Các trang Wiki của Anton Paar

Nhiễu xạ tia X (XRD)

Nhiễu xạ tia X là một phương pháp phân tích không phá hủy quan trọng, được sử dụng để nghiên cứu nhiều loại vật liệu. Một số ứng dụng tiêu biểu của phương pháp này bao gồm nhận diện và định lượng pha, phân tích vi cấu trúc, xác định cấu trúc tinh thể cùng nhiều ứng dụng khác.

Đọc bài viết

Nhiễu xạ tia X ngoài điều kiện thường

Việc thay đổi các điều kiện đo ngoài điều kiện thường (nhiệt độ, áp suất, môi trường khí, độ ẩm, v.v.) mở thêm một chiều khảo sát cho thí nghiệm XRD của bạn, vì hầu như mọi vật liệu đều có xu hướng thay đổi tính chất hóa học và vật lý khi các điều kiện này thay đổi.

Đọc bài viết

Phân tích cấu trúc nano bằng SAXS

SAXS là phương pháp không phá hủy dùng để khảo sát các mẫu có cấu trúc nano, chẳng hạn như protein, đại phân tử hoặc hệ phân tán hạt nano. Phương pháp này hầu như không yêu cầu chuẩn bị mẫu, nhờ đó cho phép phân tích vật liệu ở trạng thái nguyên trạng.

Đọc bài viết

Cẩm nang Anton Paar – kiến thức trong tầm tay

Cẩm nang đo ngoài điều kiện thường

Cẩm nang này cung cấp cái nhìn tổng quan về kỹ thuật nhiễu xạ tia X ngoài điều kiện thường (NA-XRD). Nội dung đề cập đến hệ thống thiết bị, phân tích và diễn giải dữ liệu, các ứng dụng thực tiễn cùng nhiều chủ đề khác.

Tìm hiểu thêm

Cẩm nang SAXS

Bạn mới làm quen với tán xạ tia X góc nhỏ hay muốn tìm hiểu sâu hơn? Bạn sắp thực hiện phép đo trên nguồn synchrotron hoặc trên thiết bị SAXS trong phòng thí nghiệm? Tìm hiểu nguyên lý cơ bản, cấu hình thiết bị, các khía cạnh thực hành, ứng dụng và nhiều nội dung khác.

Tìm hiểu thêm

Cẩm nang XRD

Hướng dẫn miễn phí này giúp bạn làm quen với các nguyên lý cơ bản của nhiễu xạ tia X (XRD). Tài liệu giải thích cách thiết lập cấu hình máy nhiễu xạ tia X, thực hiện các phép đo XRD và phân tích dữ liệu thu được. Tài liệu này mang đến cho những người mới tìm hiểu về XRD cái nhìn tổng quan về phương pháp này.

Tìm hiểu thêm