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粒子特性評価

New horizons in particle analysis

粒子についてよく知れば、素材の挙動をより的確に予測できるようになります。この研究で測定したいパラメーターとして、粒径、孔径、粒子の形状、内部構造、ゼータ電位、表面積、反応面積、密度、粉体流、その他があります。アントンパール社は、以上を含め様々なパラメーターの測定装置を提供します。広範な粒子特性に応じた各種装置を、わが社単独で、世界中に販売しています。

このように多様な装置群と、長年にわたりこの分野で蓄積された知見が、ここだけで全て手に入ります。

技術、パラメーター、装置: ニーズに合った装置を見つけよう

パラメーターをクリックすると、粒子特性評価の分野ごとに製品が表示されます。次いで表のしぼり込み機能を使って、特定の技術をキーとしてさらに検索を進め、測定対象別の情報を得てください。

個々の装置をクリックすると、詳しい特徴や仕様を確認できます。

孔径
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粒径
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表面積
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サンプル前処理
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密度
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反応面積
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蒸気取り込み
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セルの多孔性
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粒子の形状
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ゼータ電位
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パウダーフロー特性
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ガスの貯蔵容量
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測定
技術
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測定

技術

拡散型

測定範囲
蒸気取り込み 重量に合わせた水蒸気吸着 乾式
表面積 ガス吸着 (BET), フローBET分析 測定可能な最小の表面積
0.1 m²/g
表面積、孔径 ガス吸着 表面積、孔径
2~500 nm (N又はAr)
0.35~2 nm (CO₂ on C)
測定可能な最小の表面積
0.1 m²/g
表面積、孔径 ガス吸着 (物理吸着, 化学吸着) 乾式 孔径範囲
0.35~500 nm
測定可能な最小の表面積
0.0005 m²/g から (クリプトン)、0.01 m²/g から (N²)
密度 嵩比重 乾式 容量範囲
1 cc
反応面積 ガス吸着 (化学吸着) 乾式
反応面積 ガス吸着 (化学吸着) 乾式
サンプルの前処理 真空式/フロー式脱ガス 乾式
ガスの貯蔵容量 高圧, ガス吸着 乾式
粒径 動的光散乱 液体 粒径範囲
0.3 nm~10 µm
粒径, ゼータ電位 動的光散乱, 電気泳動光散乱 (ELS), 静的光散乱 (SLS) 液体 粒径範囲
0.3 nm~10 µm
サンプルの前処理 真空式、フロー式脱ガス 乾式
パウダーフロー特性 複合粉体流測定法レオロジー 乾式 / 液体 粒径範囲
5 nm~5 mm
密度 ガスピクノメトリー 容量範囲
0.025 cc
サンプルの前処理 代表サンプル抽出 乾式 容量範囲
20 cc
表面積、孔径 ガス吸着 乾式 孔径範囲
0.35~500 nm / 2~500 nm (N又はAr)
0.35~2 nm (CO₂ on C)
測定可能な最小の表面積
0.01 m² / g
セルの多孔性 ガスピクノメトリー 乾式 容量範囲
1 cc
密度 ガスピクノメトリー 乾式 容量範囲
1 cc
孔径 有孔性 乾式 容量範囲
0.05 cc
孔径範囲
1100~0.0064 µm
粒径 レーザー回折 乾式 / 液体 粒径範囲
0.1 μm (乾式) 0.04 μm (湿式) ~500 μm
粒径 レーザー回折 乾式 / 液体 粒径範囲
0.1 μm (乾式) 0.04 μm (湿式) ~2500 μm
粒径 レーザー回折 乾式 / 液体 粒径範囲
0.3 μm (乾式) 0.2 μm (湿式) ~500 μm
表面積、孔径 ガス吸着 乾式 孔径範囲
0.35~500 nm
0.35~2 nm (CO₂ on C)
測定可能な最小の表面積
0.01m²/g; 0.0005 m²/g
粒径、粒子の形状、内部構造 SAXS、WAXS、GISAXS 乾式 / 液体 粒径範囲 / 孔径範囲
< 1~105 nm (q range (Cu Kalpha): 0,03~41 nm⁻¹)
粒径、粒子の形状、内部構造 SAXS、WAXS、GISAXS 乾式 / 液体 粒径範囲 / 孔径範囲
< 1nm - 160 nm (q range (Cu Kalpha): 0,02 nm⁻¹ to 41 nm⁻¹)
セルの多孔性 ガスピクノメトリー 乾式 容量範囲
1 cc
密度 ガスピクノメトリー 乾式 容量範囲
1 cc
蒸気取り込み 蒸気吸着 乾式
サンプルの前処理 真空式脱ガス 乾式

はじめから最高の装置を

アントンパール社は粒子特性に応じた各種装置を取り揃えていますが、どの装置にも共通していることがひとつあります: いずれも、その種類では初の装置であり、今なお、その分野で主要な装置であり続けているのです。例えば、考案されたのは1967年にさかのぼるPSAは、レーザー回折技術を用いる初の粒径アナライザーでした。初の商用小角X線散乱 (SAXS) カメラは、Otto Kratkyが1957に開発し、アントンパール社が製造したものです。現在でもアントンパール社のSAXSシステムは、この技術の水準点であり続けています。アントンパール社のブランドであるカンタクローム・インスツルメンツは、1968年にその歩みを始めました。それ以来、献身的な科学者たちのチームが、利用者と密に連携しながら新機軸の開発を進め、多孔性素材や粉体を対象とする、考えうる最高の測定装置を作り出したのです。

粒子特性評価におけるアントンパール社の専門技術を、粒子研究や素材開発に活用してください。

アントンパール社は、各種の測定装置を取り揃えているほか、技術の応用に関するコンサルティングや情報提供もおこなっています。アプリケーションレポート、Anton Paar WikiAnton Paar Blog、Webinarで、以下に挙げるような、粒子特性評価に関する掘り下げた知識を提供しています。 

粒子特性評価に関する上記資料を参照し、積年の専門家に相談して、新しい応用分野を探求し、製造、品質管理、製品開発において確かな成果を達成してください。もちろん、装置や応用について、直接お問い合わせいただいても構いません。

お問い合わせ

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弊社の測定装置が実際にどのように活用されているか、実地体験してみませんか? 技術センターに体験してみたい装置がないか、粒子特性評価に関するセミナーが地元で開かれていないか、調べてみましょう。

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