推奨される結果

  • SAXSpoint interior
  • SAXSpoint 2.0
  • SAXSpoint with ASX
  • SAXSpoint Dual Source

SAXS/WAXS/GISAXSラボ用ビームライン: SAXSpoint 2.0

シンクロトロンレベルに近いナノ構造材料の無制限な分析

SAXSpoint 2.0は、ラボにおけるナノ構造のSAXS/WAXS/GISAXS分析のパートナーです。ナノスケールでの材料の特性と相互作用の挙動を非破壊的かつ簡単に調査できます。これは異方性の材料と、ほぼ全ての材料のナノオーダーの表面構造の分析に適しており、粒子サイズ、サイズ分布、形状、構造変化、運動状態を測定できます。強力なソフトウェアパッケージにより自動での操作とデータ分析が可能です。

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主な機能

専用のポイントコリメーションおよびHPC検出器による優れた結果

専用のポイントコリメーションおよびHPC検出器による優れた結果

SAXSpoint 2.0は寄生散乱が極限まで低減された鮮明なX線ビームのコリメーションを採用しています。この装置は強力な標準またはMetalJetのマイクロフォーカスX線源とカスタマイズされた高精度光学系を備えており、優れた結果を数分で出力します。
最新のハイブリッド光子計数(HPC)検出器との組み合わせにより、短い測定時間で高品質のSAXS/WAXS/GISAXS結果が得られ、ナノ構造材料の分析が可能です。この優れたセットアップにより極めて高い解像度が達成され、310 nmまでの構造の分解能を提供します。

ラボでの日常業務を簡素化: TrueFocusおよびStagemaster

ラボでの日常業務を簡素化: TrueFocusおよびStagemaster

測定方法を高速化するための日常的作業の自動化は、SAXSpoint 2.0ラボ向けシステムの標準機能です。TrueFocusでは、全ての光学部品とサンプルステージの精密な自動調整がボタン1つで行われます。
Stagemasterは実行中のステージを自動認識し、それに応じてシステムを構成するため、TrueFocusとの併用で、測定システムにおける最高の結果を実現します。分散などの液体サンプルおよび生体試料用のASXオートサンプラーでサンプルスループットを自動化します。ASXオートサンプラーには192個までのサンプルを装備でき、デリケートなサンプルについては冷却オプションがあります。

SAXSとWAXSの同時測定: TrueSWAXS

SAXSとWAXSの同時測定: TrueSWAXS

TrueSWAXSにより、SAXSpoint 2.0システムの追加の再校正を行わずにSAXSおよびWAXSからの完全な散乱データを利用できます。小角散乱と広角散乱のデータを同じサンプルから同時にかつ連続的に散乱角60° 2Ѳまで得ることができます。。
これにより、粒子構造および粒子/巨大分子の集合体ならびにサンプルの原子レベルの構造を1回で把握できます。TrueSWAXSを使用することで、この全ての構造情報が同一のサンプル由来であることを認識できます。

多彩なサンプルステージが幅広い応用分野をサポート

多彩なサンプルステージが幅広い応用分野をサポート

幅広いサンプルステージポートフォリオから適切なサンプルステージを選択するだけで、ほぼ全ての種類のナノ構造材料を様々な大気条件および非大気条件で分析できます。測定システムの独自の柔軟性をご利用ください。

  • TCステージ: -150~600 °Cの範囲で制御された温度での研究 
  • 湿度ステージ: 制御されたRHおよび温度での分析
  • GISAXS/GIXDステージ: 真空でのナノオーダーの表面構造及び薄膜の研究または独自のGISAXSの加熱モジュール(最大500 °C)との組合せ
  • VarioStage: 温度制御されたサンプラでの自動化研究(複数の固体、ゲル状、液体のサンプルまたはキャピラリーサンプル)
  • 引張応力ステージ: 制御された力学的負荷下でのナノ構造ファイバーの分析。カスタマイズされたサンプルステージソリューション。
  •  

すぐに結果を出す: パワフルな制御/データ分析ソフトウェア

すぐに結果を出す: パワフルな制御/データ分析ソフトウェア

SAXSdrive™およびSAXSanalysis™ソフトウェアソリューションは、測定の設定や調整などの自動化された繰り返しステップと、包括的なデータ分析をパワフルにサポートします。連続測定を設定し、自動サンプリング、温度スキャン、時間依存の研究を利用し、カスタマイズ可能なテンプレートを使用して、得られた1Dおよび2Dのデータセットを分析します。慣性半径(RG)、粒子サイズ、Porod定数、比表面積、Kratkyプロットなどのパラメーターの測定はSAXSanalysis™の標準機能です。粒子サイズ、サイズ分布、形状および内部構造などの高度な構造解析(PCG)については、IFTおよびデコンボリューション手法が利用できます。

技術仕様

X線源   
  • Primux 100 microマイクロフォーカスX線源(Cu, Mo)
  • オプションのデュアル(Cu及びMo)マイクロフォーカスX線源
  • 高性能Ga MetalJet線源
X線光学系と
コリメーション
  • カスタム設計のASTIX光学系(全真空)
  • 寄生散乱を極限まで抑えた自動ビームコリメーション(全真空)
 
サンプルステージ/
オートサンプラー
  • TCステージの温度制御ステージ
  • 加熱オプションを備えたGISAXSステージ
  • 加熱/冷却オプションを備えた引張応力ステージ
  • 湿度ステージ
  • 複数の固体及び液体のサンプルに対応する温度制御されたオートサンプラー
  • 最大192種類の液体サンプル用のASXオートサンプラー
  • ご要望に応じてカスタムステージにも対応
特殊機能
  • TrueFocus: X線ビームによる自己調整
  • TrueSWAXS: 最大60° 2Ѳの同時SWAXS分析
  • StageMaster: サンプルステージの自動検出機能付きYZステージ
温度範囲
雰囲気
-150 °C ...+600 °C, ±0.1 °C
真空、空気、不活性ガス、湿度
(ご要望に応じて反応性ガスにも対応)
サンプルホルダー

  • 液体用石英キャピラリー
  • 低寄生SiNセル
  • 固体用サンプルホルダー
  • 高粘度サンプル及び粉体サンプル用ペーストセル
  • 回転ローターセル
  • 高圧セル
  • 少量サンプル用マイクロセル
  • 自動化用フローセル/チューブセル
  • 浸透セル
  • ご要望に応じたカスタムソリューション
 
測定時間 1分未満~30分(標準)
検出器 EIGER Rシリーズ 混成光子計数型(Hybrid Photon Counting、HPC)検出器
高分解能WAXSモジュール(EIGER2 Rシリーズ)
測定可能な
qの範囲
0.02 nm⁻¹~40.7 nm⁻¹
310 nm > d > 0.15 nm
ソフトウェア SAXSdrive™測定及び収集ソフトウェア
SAXSanalysis™データ処理及び分析ソフトウェア
高度なデータ解析ソフトウェア(PCG)
寸法(設置面積) 2.7 m x 0.9 m (マイクロソースバージョン, L x W)
3.6 m x 0.9 m (MetalJetバージョン, L x W)

Anton Paar Certified Service

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