SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXSラボ用ビームライン:
SAXSpoint 5.0
あらゆるナノ構造分析に対応する最上位の分解能
はお問い合わせください
SAXSpoint 5.0は、コンパクトなシステムに収められた最上位の分解能とシンクロトロン検出器テクノロジーを融合した、究極のSAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXSラボ用X線散乱ビームラインです。最大620 nmのナノ構造を解析できるアントンパール社の高性能なSAXSシステムをご活用ください。SAXSpoint 5.0は、大気下/非大気下でほぼ全ての材料分析に柔軟に対応します。多くのオプション機能を備えたSAXSpoint 5.0は、将来的にマイクロメートル規模でのアプリケーション (USAXS) にも対応可能です。全自動測定とデータ分析を可能にする強力なソフトウェアパッケージにより、材料特性の非破壊検査がさらに容易になります。
製品の最新情報、オプション、カスタムソリューションの詳細については、直接弊社までお問い合わせください。
主な機能
最短の測定時間で優れたデータ品質
SAXSpoint 5.0は寄生散乱を極限まで低減するコリメーションと優れたスペクトル純度のX線ビームを採用しています。強力なマイクロフォーカスX線源またはMetalJet X線源の性能を高性能光学系が極限まで引き出し、SAXSpoint 5.0は短い照射時間で優れた結果を出します。最新のハイブリッド光子計数(HPC)検出器との組み合わせにより、ナノ構造解析を容易にする高品質のSAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS結果が得られます。高い分解能を実現する優れたセットアップにより、このクラス最小のフットプリントで最大620 nmの巨大構造を解析できます。
SAXSとWAXSの同時測定
SAXSpoint 5.0は新たに可動式検出器を搭載し、極めて広いq-範囲で全自動X線散乱測定を行えます。このため、システムのアライメント再調整をせずに1回の測定でSAXSとWAXSのデータが得られます。ボタン1つで検出器を簡単に移動でき、巨大構造を観測するための小角散乱測定から、微小な結晶構造を観察するための広角散乱測定まで自由に行えます。
SAXSpoint 5.0では、測定に応じて自動的にサイズの異なるビームストップの選択と位置決めが行われます。最新のEIGER2 R検出器を搭載しているため、ウィンドウレス測定やビームストップレス測定も可能です。
ラボでの日常業務を簡素化
SAXSpoint5.0では、X線散乱測定に必要な各種ルーティン作業が自動化されており、スムーズに測定を始められます。SAXSpoint 5.0にはStagemaster機能が搭載されています。この機能は、全てのX線コンポーネントとサンプルステージのアライメントを自動調整し、装備されているステージを認識して最適なシステムを構成します。これにより、お使いの測定システムで誰でも最良の結果を得ることができます。コロイド分散剤などの液体試料及び生体試料用のASXオートサンプラーにより、サンプルスループットを自動化することもできます。ASXオートサンプラーには192個までのサンプルを装備でき、室温で不安定なサンプルについては冷却オプションがあります。
ステージの選択: 1つのシステムであらゆる測定条件に対応
アントンパール社の様々なサンプルステージを使用すれば、ほぼ全ての種類のナノ構造材料分析が可能です。全ての光学系コンポーネントのアライメント自動調整機能を搭載したTrueFocusにより、様々なサンプルステージを容易にすばやく切り替えることができます。測定システムの独自の柔軟性をご利用ください。
- TCステージ: -150～600 °Cの温度可変測定
- 湿度ステージ: 制御された相対湿度及び温度での分析
- GISAXS/GIXDステージ:ナノオーダーの表面構造及び薄膜の構造解析。加熱モジュール(最大500 °C)との組合せにより真空、大気、不活性ガス雰囲気下での温度可変測定にも対応。
- 加熱/冷却サンプラー: 温度制御されたサンプラを使用した自動測定(複数の固体、ゲル状、液体のサンプルまたはキャピラリーサンプル)
- 引張応力ステージ: 制御された力学的負荷下でのナノ構造ファイバーの分析。カスタマイズされたサンプルステージソリューション。
- RheoSAXSモジュール: 動的粘弾性特性とナノ構造特性の同時評価
- せん断セル: 最大350 °Cまでのせん断測定
特殊な測定が必要な場合には、弊社までお問い合わせください。ご要望に応じてカスタム設計のサンプルステージとホルダーをご用意いたします。
すぐに結果が得られるパワフルな制御/データ分析ソフトウェア
SAXSdrive™及びSAXSanalysis™ソフトウェアソリューションは、測定の設定や調整などの自動化された繰り返しステップと、包括的なデータ分析をパワフルにサポートします。連続測定を設定し、自動サンプリング、温度スキャン、時間依存の測定を利用し、カスタマイズ可能なテンプレートを使用して、得られた1D及び2Dのデータセットを分析します。慣性半径(RG)、粒子サイズ、Porod定数、比表面積、KratkyプロットなどのパラメーターやプロットをSAXSanalysis™で簡単に表示できます。粒子サイズ、サイズ分布、形状、及び内部構造などの先端的な構造解析(PCG)については、IFT及びデコンボリューション手法が利用できます。
技術仕様
| X線源 |
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| X線光学系とコリメーション |
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| サンプルステージ及びオートサンプラー |
ご要望に応じて、カスタムソリューションを提供 |
| 特殊機能 | Slidemaster(スライドマスター): 全自動可動式検出器(X、Y、Z方向に移動) TrueFocus: 自動光学系調整 TrueSWAXS: 連続小角/広角(SWAXS)同時測定 Stagemaster(ステージドマスター): サンプルステージの自動検出機能付きXYZステージ 高分解能WAXSモジュール (オプション) >4 x 10 8 ph/sのX線フラックスを実現する高性能光学系 (オプション) USAXSモジュール (オプション) 内蔵少量オートサンプラー(オプション) |
| 温度範囲 | -150 °C ～ 600 °C |
| 温度の精度 | ±0.1 °C |
| 雰囲気条件 | 真空、空気、不活性ガス、湿度(ご要望に応じて反応性ガスにも対応) |
| サンプルホルダー |
ご要望に応じて、カスタムソリューションを提供 |
| 検出器 | 2D EIGER2 RシリーズHPC検出器および 高分解能EIGER2 R 500k WAXSモジュール(オプション) |
| 測定可能なq-範囲 | 0.01～49.3 nm-1(メイン検出器) |
| ソフトウェア |
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| 設置面積 |
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アントンパール認定サービス
- 世界各地に350名以上のメーカー認定の技術者がいます。
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