semi conductors

半導体

半導体デバイスは、現代のテクノロジーの中核となる存在です。アントンパール社は、密度や濃度の測定から表面電荷の分析に至るまで、半導体の特性を評価する様々なソリューションを提供することで、このダイナミックな業界において、技術の急速な進歩を視野に入れながら、お客様の製品の品質維持をサポートします。下記の装置リストでは、お客様固有の様々なニーズに応える測定装置をご紹介しています。また、当社に直接お問い合わせいただければ、最適なソリューションを見つけるお手伝いをいたします。

問い合わせる

Anton Paar プロダクト

操作のタイプ
標準規格
製品グループ
デバイスタイプ
選択項目 : 全てのフィルターをリセットする

結果が見つかりませんでした!

SAXS/WAXSシステム:
SAXSpoint 500
SAXS/WAXSシステム:
SAXSpoint 700
インライン密度計:
L-Dens 3300
インライン密度計:
L-Dens 7400
インライン密度計:
L-Dens 7500
インライン音速センサ:
L-Sonic 5100
ウルトラナノインデンテーション試験機 (UNHT³)
ナノインデンテーション試験機:
NHT³
ナノスクラッチ試験機:
NST³
マイクロ波分解プラットフォーム:
Multiwave
マルチパラメーター測定システム:
Chemical Measurement System
二波長In-Situラマン分光計:
Cora 5001 Fiber プロセスモニタリング
二波長In-Situラマン分光計:
Cora 5001 Fiber 医薬
二波長In-Situラマン分光計:
Cora 5001 Fiber 標準
二波長コンパクトラマン分光計:
Cora 5001 Direct 医薬
二波長コンパクトラマン分光計:
Cora 5001 Direct 標準
全自動多目的粉体X線回折装置:
XRDynamic 500
動的光散乱装置:
Litesizer DLS
動的光散乱装置:
Litesizer DLS 101
動的光散乱装置:
Litesizer DLS 501
動的光散乱装置:
Litesizer DLS 701
半固体・固体密度用ガスピクノメーター:
Ultrapyc
卓上型密度計:
DMA
固体表面分析用ゼータ電位分析装置:
SurPASS 3
密度・比重・濃度計:
DMA 4200 M
機械的表面試験プラットフォーム:
Step
液体密度センサ:
L-Dens 2300
落球式粘度計:
Lovis 2001 ベンチトップ
落球式粘度計:
Lovis 2001 モジュール
高性能・多検体・ガス・蒸気吸着測定装置:
Autosorb
高性能・多検体・ガス・蒸気吸着測定装置:
Autosorb 6100
高性能・多検体・ガス・蒸気吸着測定装置:
Autosorb 6200
高性能・多検体・ガス・蒸気吸着測定装置:
Autosorb 6300

ウェブセミナー

製品、アプリケーション、科学的なトピックに関するライブのウェブセミナーや記録を提供しています。

もっと見る

アプリケーションレポート

アプリケーションレポートのデータベースを検索して、ご担当分野の課題を克服する方法を見つけてください。

もっと見る