半導體
半導體設備是我們當今技術的核心。考慮到科技的飛速發展，為幫助使用者在這充滿活力的產業保持高品質，安東帕為定義半導體性質提供了眾多解決方案，包括密度、濃度測量到表面電荷分析。請在下面的儀器列表中找出滿足您特殊需要的測量儀器，或者直接與我們聯繫，讓我們幫您找出最佳的解決方案。
Anton Paar 產品
SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/RheoSAXS 實驗室光束線：
SAXSpoint 5.0
SAXSpoint 5.0
動態光散射儀器：
Litesizer DLS
Litesizer DLS
在線密度計：
L-Dens 3300
L-Dens 3300
在線密度計：
L-Dens 7400
L-Dens 7400
在線密度計：
L-Dens 7500
L-Dens 7500
奈米刮痕測試儀：
NST³
NST³
奈米壓痕測試儀：
NHT³
NHT³
密度計：
DMA 4200 M
DMA 4200 M
微波消化平台：
Multiwave 5000
Multiwave 5000
數位效能折射計：
Abbemat
Abbemat
桌上型密度計：
DMA
DMA
機械表面測試平台：
Step
Step
液體密度計：
L-Dens 2300
L-Dens 2300
用於半固體和固體密度的氣體比重計：
Ultrapyc
Ultrapyc
粒徑分析儀：
PSA
PSA
線上音速感測器：
L-Sonic 5100
L-Sonic 5100
自動化多用途粉末 X-Ray 繞射儀：
XRDynamic 500
XRDynamic 500
落球式黏度計：
Lovis 2000 M/ME
Lovis 2000 M/ME
超奈米壓痕測試儀：
UNHT³
UNHT³
電動力學固體表面分析儀：
SurPASS 3
SurPASS 3
高度真空物理吸附分析儀：
Autosorb
Autosorb
高度真空物理吸附分析儀：
Autosorb 6100
Autosorb 6100
高度真空物理吸附分析儀：
Autosorb 6200
Autosorb 6200
高度真空物理吸附分析儀：
Autosorb 6300
Autosorb 6300
