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奈米壓痕測試儀:NHT³

市場功能上最多且簡單易用的奈米壓痕測試儀

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NHT³ 奈米壓痕測試儀專門用於測量奈米到微米範圍的硬度、彈性係數、潛變和其他表面性質。其作用力範圍從 0.1 mN 到 500 mN,提供最大的通用性。獨特的頂面參考技術,無需等待其達到熱穩定狀態,可立即執行儀器壓痕測量。「Quick Matrix」壓痕模式可提供高處理量 (每小時最多 600 次測量)。

主要功能

簡單易懂的奈米壓痕測量

簡單易懂的奈米壓痕測量

使用安東帕的直觀軟體,可以輕鬆地定義和分析每種類型的儀器化壓痕測量,從標準到高階的方法。整合式顯微鏡提供非常廣的放大倍率範圍,所以可以觀察樣本的表面,並能直接定義測量位置。此外,壓頭受參考環全面保護,免於發生碰撞,並且可以在不到 2 分鐘的時間內完成測量針尖的更換。

精度高,測量時間短

精度高,測量時間短

儀器的獨特設計整合頂部表面參考環,在整個壓痕測量過程中,參考環一直隨著樣本的表面移動。這代表壓痕深度總是根據目前的表面位置直接測量。安東帕的奈米壓痕測試儀是唯一具有此獨特功能的儀器,這表示 NHT³ 可提供準確的測量結果,而不是容易出錯的軟體修正值。這項技術的另一個優點是,可以在樣本安裝後立即開始測量,而無需數小時的熱穩定等待時間。

Quick Matrix 提供高處理量

Quick Matrix 提供高處理量

快速測量模式每小時能執行高達 600 次實際壓痕曲線測量。我們的參考設計讓儀器不需要熱穩定,每天都可以安裝並立即測量大量樣本。NHT³ 的使用者設定、測量協定、多樣本測量和客製化報告功能,實現市面上最高的處理量。 

具有「正弦模式」的附加動態力學分析 (DMA)

具有「正弦模式」的附加動態力學分析 (DMA)

正弦模式能執行 DMA 分析,以研究力學性質隨深度的變化 (HIT、EIT vs. 深度),並分析樣本的黏彈特性 (E’、E'':儲能與損耗模數,tan δ)。正弦模式提供其他功能,例如快速壓頭校準和應力 - 應變分析。 

技術規格

最大負載 [mN] 500
負載解析度 [nN] 20
負載雜訊背景 [rms] [μN] ≤0.5
加載速率 [mN/min] 最高 10000
深度範圍 [μm] 200
深度解析度 [nm] 0.01
深度雜訊背景 [rms] [nm] ≤0.15
資料獲取率 [kHz] 192
選配
液體測試

標準

A

ASTM E2546

安東帕認證服務

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