半導体

SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/RheoSAXSラボ用ビームライン：
SAXSpoint 5.0

インライン密度計：
L-Dens 3300

インライン密度計：
L-Dens 7400

インライン密度計：
L-Dens 7500

インライン音速センサ：
L-Sonic 5100

ウルトラナノインデンテーション試験機 (UNHT³)

デジタルパフォーマンス屈折計:
Abbemat

ナノインデンテーション試験機：
NHT³

ナノスクラッチ試験機：
NST³

マイクロ波分解プラットフォーム:
Multiwave 5000

マイクロ波前処理装置:
Multiwave 7000

全自動多目的X線回折装置:
XRDynamic 500

動的光散乱装置:
Litesizer DLS

半固体・固体密度用ガスピクノメーター：
Ultrapyc

卓上型密度計：
DMA

固体表面分析用ゼータ電位分析装置:
SurPASS 3

密度・比重・濃度計:
DMA 4200 M

機械的表面試験プラットフォーム：
Step

液体密度センサ：
L-Dens 2300

粒子径分布測定装置:
PSA

落球式粘度計：
Lovis 2000 M/ME

高性能・多検体・ガス・蒸気吸着測定装置：
Autosorb

高性能・多検体・ガス・蒸気吸着測定装置：
Autosorb 6100

高性能・多検体・ガス・蒸気吸着測定装置：
Autosorb 6200

高性能・多検体・ガス・蒸気吸着測定装置：
Autosorb 6300