リチウムイオン電池

4軸ゴニオメータ用のドーム型冷却ステージ:
DCS 500

4軸ゴニオメータ用のドーム型加熱ステージ:
DHS 1100

Revetest®スクラッチ試験機：
RST 300

SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/RheoSAXSラボ用ビームライン：
SAXSpoint 5.0

XRD用電動調整:
Z調整ステージ

アーベル引火点試験器：
ABA

インライン密度計：
L-Dens

ウルトラナノインデンテーション試験機 (UNHT³)

コンパクトなラマン分光計：
Cora 5001

ナノインデンテーションテスタ:
Hit 300

ナノインデンテーション試験機：
NHT³

ナノスクラッチ試験機：
NST³

マイクロコンビテスタ：
MCT³

マイクロ波リアクター：
Monowave

マイクロ波分解プラットフォーム:
Multiwave 5000

マイクロ波前処理装置:
Multiwave 7000

モジュラーコンパクトレオメータ:
MCR 702e

モジュラーコンパクトレオメータ:
MCR 72/92

モジュラーコンパクトレオメータ:
MCR 102e/302e/502e

全自動多目的X線回折装置:
XRDynamic 500

動的光散乱装置:
Litesizer DLS

動的粘弾性測定システム:
MCR 702e MultiDrive

半固体・固体密度用ガスピクノメーター：
Ultrapyc

卓上型密度計：
DMA

回転式レオメータ：
RheolabQC

回転粘度計：
ViscoQC

固体表面分析用ゼータ電位分析装置:
SurPASS 3

引張応力ステージ:
TS 600

比表面積/細孔径分析装置:
Nova

水銀圧入孔径分析装置:
PoreMaster

真空式脱ガス装置:
XeriPrep

粒子径分布測定装置:
PSA

自動タップ密度計:
Autotap

自動フロー化学吸着アナライザー:
ChemBET Pulsar

落球式粘度計：
Lovis 2000 M/ME

蒸気吸着・ガス吸着分析装置:
VSTAR

貫通細孔用キャピラリフローポロメータ:
Porometer 3G

高圧ガス吸着装置:
iSorb