高分解能SAXSおよびXRD用真空チャンバー：
EVACモジュール
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- 完全に真空化されたビームパスによる卓越したS/N比
- スタンドアローンSAXS専用機の品質で測定できるSAXS光学系
- 反射法または透過法の高分解能XRD測定に適しています。
- 2θ範囲の制約を受けずに測定
XRDynamic 500用のEVACモジュールは、SAXSおよびXRD測定用に完全に真空化されたビームパスを提供し、空気散乱を完全に除去することでサンプル上で最大のビーム強度と卓越したS/N比を実現します。EVACモジュールは、すべてのXRDまたはSAXSサンプルホルダーで使用でき、可能な限り幅広い測定範囲で、比類のない測定性能と思い通りの測定環境を提供します。SAXS用散乱レス光学系を用いることで、これまでの回折計では得られなかった質の高い小角散乱データを得ることができます。
主な機能
回折計で最高クラスのナノ構造解析
EVACモジュールとXRDynamic 500の組み合わせにより、ラインコリメーションSAXS専用機の品質を初めて回折計にもたらしました。EVACモジュールの散乱のないスリットを含む最適化されたSAXS光学系と併用すると、qmin =0.05nm⁻¹の分解能を達成でき、XRDプラットフォームでのSAXS測定の新しい基準を設定します。EVACモジュールとXRDynamic 500により、等方性試料、コロイド分散体、生体試料のSAXS測定が非常に簡単になりました。
寄生空気散乱のない非常に優れたデータ品質
EVACモジュールとXRDynamic 500の真空光学ユニットによって実現された、光源から検出器までの完全に真空化されたビームパスでは、全ての空気散乱が除去されるため可能な限り最高のS/N比が実現します。これにより、すべての測定においてX線強度が向上し、Cr KαやCo Kαなどのエネルギーの低いX線を扱う場合には特に有効です。
SAXS、WAXS、XRD、PDF解析のための制限のない測定
SAXS、XRD、PDFのいずれの測定においても、EVACモジュールは測定方法に制限を設けません。反射や透過での測定、粉体サンプルキャリアやキャピラリーなど、あらゆることが可能です。最も重要なことは、EVACモジュールがセカンダリゴニオメーターアームと一緒に回転するという独自の機能により、測定角度に制限がなく、0°から162.5°2θまでのデータを一度にシームレスに測定できることです。
仕様
| 測定範囲: | -10° ̶ 162.5° 2theta |
| qmin | 0.05nm⁻¹ |
| サンプルホルダー: |
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