粒子径分析装置
ボタン 1つで粒子分析
粒子分散系はその特性が複雑なこともありますが、測定自体が複雑である必要はありません。ナノメートルからミリメートルまでの粒子の特性評価について、3つの測定手法からお選びいただけます。
- Litesizer DLS シリーズは光散乱法を用いて、分散液中のナノ粒子とマイクロ粒子の粒子径、ゼータ電位、透過率、分子量、溶媒の屈折率を測定します。
- Litesizer DIF 500はレーザ回析・散乱法を用いて、マイクロメートルおよびミリメートルレンジで、分散液および乾燥粉体中の粒子径を測定します。
- Litesizer DIA シリーズは動的画像解析法を原理とする装置であるため、粒子径と同時に粒子形状の情報も得られます。さらに、複数の有用な分散ユニットにより、測定の柔軟性を最大限に高めることができます。
Anton Paar プロダクト
3つの測定手法すべてをカバー
Litesizer DLS シリーズ、Litesizer DIF 500、Litesizer DIA シリーズは異なる測定手法を採用しており、ナノメートルからミリメートルまでの幅広い粒子径測定に対応しています。お客様のニーズに合った粒子径分析装置をお選びいただけます。Litesizer DIF 500 では、分散液または乾燥粉体中の粒子を最大ミリメートルレンジまで分析できます。Litesizer DLS シリーズでは、分散液中の粒子をシングルナノメートルレンジまで分析できます。Litesizer DIAシリーズでは、湿式、乾式ドライジェット、乾式自由落下のいずれかの分散ユニットを使用して、粒子径と粒子形状を求めることができます。
Litesizer DLS シリーズ：3種類の装置、最大 6つの測定モード
弊社の Litesizer は、単角度測定または多角度測定 (MAPS) による粒子径測定のみの装置ではありません。粒子濃度、ゼータ電位、分子量、透過率、溶媒の屈折率も測定できます。3つの測定角度すべて、または選択した角度で蛍光/偏光フィルターを使用することができ、同等の粒子径分析装置では不可能な分析が可能です。
Litesizer DIF 500: 高性能なレーザ回折・散乱式粒子径分析装置
Litesizer DIF 500 は、約 60年にわたるレーザ回折の専門知識を活用して、10 nm～3.5 mm までの高性能な粒子径測定を実現しています。このレーザ回折・散乱式粒子径分析装置は、クラス最高の光学系を誇る装置です。強力な 10 mW および 25 mW のレーザと、0.01～170° と回折・散乱角検出範囲が市場で最も広いことが特徴です。
Litesizer DIA シリーズ：1台の装置、3台の分散ユニット
Litesizer DIA シリーズは、わずか数秒で、最大数 100万個の粒子の粒子径を測定し、粒子形状情報を取得することができます。湿式、乾式ドライジェット、乾式自由落下の 3台の分散ユニットをワンタッチで切り替えることができ、ほぼすべてのサンプルを十分に分散させることができます。ユーザーが必要な操作を最小限に抑える自動化機能や、有害サンプルの飛散や装置の損傷を防ぐ安全機能が搭載されています。
Kalliope: 作業者の操作を最小限に抑える粒子分析ソフトウェア
Kalliope を使用することで測定を最適化し、わずか 3回のクリックで測定を開始できます。また、弊社のすべての粒子径分析装置を同一ソフトウェアで制御できます。Kalliope は直感的に使えるソフトウェアで、入力パラメータ、測定、分析がすべて 1画面に表示されます。Kalliope を使用することで、装置の使用方法に頭を悩ませることなく、粒子の特性・挙動に集中することができます。Kalliope は 21 CFR Part 11 に準拠しており、完全な結果のトレーサビリティを確保できます。
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