SAXSpoint 700システム向けのUSAXSモジュールは、ナノメートルからマイクロメートルまでの材料評価に対応した、ユーザーフレンドリーな実験ソリューションです。完全電動式を採用しているため、手動操作や測定構成の変更を一切必要とせず、自動化された連続X線散乱測定を通じて、サンプルから高品質なUSAXS、SAXS、WAXSデータを取得することができます。
最高水準の効率性と精度を実現するために設計された、最先端のSAXS装置をご体験ください。USAXSモジュールは、X線散乱データの自動的・連続的な取得を可能にするもので、一度の測定で高品質なUSAXS、SAXS、WAXS情報を提供します。その先進的な設計により、オングストロームから2.5マイクロメートル超までの広範囲にわたる構造細部を、手動操作を一切必要とせず、一括で解明します。その結果、信頼性と再現性の高い散乱データを取得できるシームレスなワークフローが実現し、あらゆるスケールでの包括的な構造解析が可能になります。
当社の先進的なSAXS装置は、あらゆる測定において比類のない精度と安定性を保証します。サンプルの前後両方に設置されたチャンネルカット結晶アセンブリは自動位置決め機能を備えており、最適なビームコンディショニングとアライメントを保証しています。角度分解能0.0001 °の高精度ゴニオメーターは、X線散乱信号の極めて正確な走査を実現し、微細な構造変化さえも捕捉します。また、EIGER2 RシリーズのHPC検出器を用いた高分解能検出と組み合わせることで、優れたデータ品質と感度を実現しており、要求の厳しい小角X線散乱アプリケーションに最適です。
USAXSステージの設計は、最高強度を達成するよう最適化されており、迅速に有意義な結果を得ることが可能です。特別設計の光学系により、サンプルポジションにおいて最大6×106光子/秒のフラックスを実現します。
| 測定可能なq範囲 | 0.0012～30.0 nm-1 |
| 対応サンプルホルダーユニット* | TCStage 150/350、加熱/冷却サンプラー、加熱サンプラー |
| 温度範囲 | -10～+350 °C |
| 統合 | SAXSpoint 700 システムに完全統合 USAXS、SAXS、WAXSの自動測定 |
*別途ご注文ください
