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Bonse-Hart USAXS 카메라:
USAXS 모듈
- 완전 전동식 실험 설정을 이용한 자동 USAXS, SAXS 및 WAXS 연구
- 나노미터에서 마이크로미터 수준까지 구조 탐지
- 정확한 (± 0.1 °C) 동시 시료 온도 제어
저희 SAXSpoint 5.0 시스템용 USAXS 모듈은 나노미터에서 마이크로미터 수준까지 재료를 특성화하는 사용자 친화적인 실험 솔루션입니다. 완전 전동식 설정을 통해 사용자는 수동 상호작용이나 측정 구성 변경이 필요하지 않은 자동 순차 X선 산란 측정을 통해 시료로부터 고품질 USAXS, SAXS, WAXS 데이터를 얻을 수 있습니다.
주요 특징
USAXS, SAXS 및 WAXS 데이터의 자동 측정
- X선 산란 데이터의 자동 순차 수집
- 고품질 USAXS, SAXS 및 WAXS 정보
- 한 번에 옹스트롬에서 2.5 마이크로미터 이상까지 구조 정보 분석
- 수동 상호 작용 요구 조건 없음
정확한 결과를 위한 고성능 부품
- 시료 앞과 뒤의 채널 컷 크리스탈 어셈블리의 자동 위치 지정
- X선 산란 신호를 스캔하기 위한 고정밀 (0.0001도) 고니오미터
- EIGER2 R 시리즈 HPC 감지기를 이용한 고분해능 검출
기술 사양
| 측정 가능한 q-범위 | 0.0012 nm-1 ~ 30.0 nm-1 |
| 호환 가능한 시료 홀더 장치* | TCStage 150 및 350, 가열/냉각 시료 주입기, 가열 시료 주입기 |
| 온도 범위 | -10 °C ~ +350 °C |
| 통합 | SAXSpoint 5.0 시스템에 완전 통합 자동 USAXS, SAXS, WAXS 측정 |
*별도 주문 필요
Anton Paar 공인 서비스
Anton Paar 서비스 및 지원 품질 :
- 전 세계 350명 이상의 제조업체 인증 기술 전문가
- 현지 언어로 이루어지는 검증된 지원
- 수명 주기 동안 투자 보호
- 3년 보증
문서
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USAXS Module 브로셔
