レーザ回折・散乱式粒子径分析装置:
Litesizer DIF

Name: レーザ回折・散乱式粒子径分析装置: Litesizer DIF 300
Brand: Anton Paar
SKU: 261783

モデル:

0.1～1,000 µm のサンプルを測定
ワンタッチで湿式/乾式分散を切り替え
ソフトウェア Kallope: 初見で使用可能、専用の品質管理モード
過酷な測定環境でも信頼性の高い結果

主な機能
技術仕様
標準規格
書類
関連製品
補完製品

Litesizer DIF シリーズは、約 60年にわたるレーザ回折の専門知識を活用して、10 nm～3.5 mm までの高性能な粒子径測定を実現しています。このレーザ回折・散乱式粒子径分析装置は、クラス最高の光学系を誇る装置です。レーザは高出力な 10 mW および 25 mW、回折・散乱角検出範囲は 0.01～170° と市場で最も広いことが特徴です。制御ソフト Kalliope により粒子径測定を効率的に行えます。Kalliope は初見でも問題なく使用でき、わずか 3回のクリックで測定を開始できます。分散ユニットはワンタッチで切り替えることができ、ミスを最小限に抑えます。湿式分散と乾式分散の両方に対応する安全機能により、簡単かつ安全な操作が保証されます。

頑丈な金属製の筐体と光学ベンチにより、過酷な測定環境から最先端の研究室まで、あらゆる環境で信頼性が保証されます。

先駆者としての伝統に支えられた、次世代のレーザ回折・散乱技術です。Litesizer DIF シリーズ: 最高水準の装置をお使いください。

主な機能

あらゆる環境下での粒子径測定

弊社の Litesizer DIF は重工業に適しています。装置内外ともに高品質の部品で作られています。耐久性のある光学素子が頑丈な金属製の筐体内に収納されています。Litesizer DIF は過酷な測定環境にも耐えられるように設計されています。ダストや粉塵が装置の光学ベンチに侵入することはなく、装置内部は製造現場で起こりうる直接的な振動から隔離されています。これらすべてが維持費と修理コストの削減につながります。

Kalliope: 粒子径測定のベンチマークソフトウェア

Kalliope を使えば、画面切り替えなしのワークフロー (パラメータの設定、分析結果の取得と処理) を通じて、すぐに使い方をマスターできます。さらに、品質管理モードでは、ユーザー管理をカスタマイズしたり、注意が必要な設定をロックしたりすることで、常に信頼性の高い測定結果を得ることができます。品質管理モードでは、製品の数値が規定範囲内にあるかどうかを簡単に確認できます。わずか 3回のクリックで結果が得られ、初見でもすぐに習得できる仕様になっています。さらに、データセキュリティ機能、ユーザー管理、監査証跡を搭載した製薬業界向けオプションもあり、Kalliope は米国 FDA の 21 CFR Part 11 に完全に準拠したソフトウェアとなっています。

効率的な分散、最大限の安全性

Litesizer DIF では分散ユニットをワンタッチで取り付けられます。ケーブル、チューブ、パイプの取り回しに悩む必要はありません。サンプルを投入する際は、手元の減衰率インジケーターでサンプル量をモニタリングしながら投入できるため、最初から適切な量で測定できます。

弊社の分散ユニットは安全性を考慮して設計されています。乾式ドライジェット分散ユニットには吸引チェック機能と内蔵ダストカバーが付いており、粉体の飛散リスクを最小限に抑えられます。

さらに、湿式分散ユニットでは、超音波処理の前に十分な液体があるか自動的に確認が行われ、過熱を防止します。耐薬品性の高いモデルも選択可能で、腐食性の高い有機溶媒にも対応しています。

湿式画像解析分散ユニットは、レーザ回折・散乱法と動的画像解析法を組み合わせ、粒径 5 μm 以上の粒子形状指数も得られます。

品質で業界を牽引

Litesizer DIF は、高品質な製造加工技術により、粒子分析に最適なツールとなっています。ハイグレードのハードウェアを搭載し、優れた生データを得ることができます。このレーザ回折・散乱式粒子径分析装置は幅広いサンプルの測定が可能で、追加投資せずに 1台で 0.01～3,500 µm の粒子径に対応します。

低コスト、省スペース – 全てにわたる互換性

分散ユニットは弊社の Litesizer DIA と Litesizer DIF の間で互換性があるため、投資コストと使用スペースを抑えることができます。さらに、Litesizer と名が付くすべての装置は、ソフトウェア Kalliope をインストールした 1台の PC で操作できます。

技術仕様

	Litesizer DIF 500	Litesizer DIF 300	Litesizer DIF 100
測定原理	レーザ回折・散乱法 (ミー理論、フラウンホーファ回折近似)
測定範囲	0.01～3,500 μm	0.1～2,500 μm	0.1～1,000 μm
サイズクラス	144 (ユーザー調整可能)	114 (ユーザー調整可能)	104 (ユーザー調整可能)
真度	± 0.5 % 未満 ***
繰返し性	± 0.5 % 未満 ***
再現性 **	± 1 % 未満 ***
測定時間	10秒未満
データ取得速度	16 kHz
光源 1
種類	ファイバー結合レーザダイオード
光学配置	逆フーリエ
波長	830 nm、赤外
出力	10 mW
レーザクラス	クラス 1 (IEC60825-1)
光源 2	Litesizer DIF 500	-
種類	レーザダイオード	-
光学配置	赤外レーザに対して傾斜	-
波長	450 nm、青	-
出力	25 mW	-
レーザクラス	クラス 1 (IEC60825-1)	-
検出器
種類	側方散乱および後方散乱用の対数間隔フォトダイオードアレイとシングルダイオード
角度範囲	0.01～170°	0.01～155°
焦点距離	300 mm
光軸調整	自動
装置データ
装置仕様 ****	400 × 790 × 290 mm (高さ × 幅 × 奥行)
装置重量 ****	42.3 kg (93.2 lb)
電源	100～240 V ± 10 %、50/60 Hz