MCR用アクセサリー：
Rheo-SANS/SAXS

構造解析・レオオプティックス用アクセサリー
ナノ構造解析用小角散乱法
温度範囲は-50～+300 °C

Rheo-SANS/SAXS

主な機能
対応装置
関連製品

流動下における複雑な流体の挙動を理解するには、微細構造レベルでの構造変化に関する知識が必要です。アントンパールは、定評あるMCRレオメータ技術と、X線または中性子ビームラインにおける小角X線散乱（SAXS）および小角中性子散乱（SANS）用の装置を組み合わせた、専門的な測定治具を提供しています。Rheo-SANS/SAXSアクセサリーを使用すれば、あらゆるレオロジー試験をリアルタイム小角散乱法と同時に実施することができます。このアクセサリーには、放射線透過型の対流式温度制御システムと、液体や粉末からフィルムまで、あらゆる種類のサンプルに対応する専用測定治具が含まれています。

主な機能

あらゆるレオロジー試験に対応したSAXSおよびSANS測定

Rheo SANS/SAXSアクセサリーは、全機能搭載型のMCRレオメータとSAXS/SANSを組み合わせたもので、-50～+300 °Cの温度での測定が可能です。あらゆるレオロジー試験を、同時かつリアルタイムの小角散乱測定と併せて実施いただけます。せん断流に対する多様なビーム位置により、異なる平面での散乱情報を得ることが可能です。測定治具としては、各種材質の共軸円筒システム（最大カップ径50 mm）、パラレルプレートシステム（最大直径50 mm）、DMA、伸長測定治具（SRF、SCF、UXF、SER）があります。

SAXSとレオロジーの融合によるせん断誘起ナノ構造解析

小角X線散乱法（SAXS）および広角X線散乱法（WAXS）は、材料（例：生体材料、コロイド、懸濁液、ナノ結晶性ポリマー）における密度差をナノスケールで特性評価できる強力な手法です。高分子のサイズや形状、部分的に配列した材料内の距離、細孔サイズなどに関する知見を得ることができます。レオロジーと組み合わせることで、SAXSではせん断誘起ナノ構造変化の研究が可能になり、流動や温度による結晶化からせん断帯構造の形成までを捉えることができるようになります。標準の照射部はすべてポリカーボネート製です。その他の材料（例：ポリイミド）はご要望に応じて対応いたします。部品交換は1分以内に完了します。

SANSおよびGISANS：ナノスケールでの特性評価

小角中性子散乱法（SANS）は、さまざまな材料のナノスケールでの特性評価に極めて有用な手法です。中性子は、電子雲と相互作用するX線とは異なり、原子核または不対電子の磁気モーメントによって散乱されます。中性子は電気的に中性であるため、深く浸透し、バルク内部を調査することができます。Rheo-SANSと誘電分光法を組み合わせた測定も可能です。また、薄膜分析を可能にする微小入射角中性子散乱法（GISANS）や中性子反射率測定用の特殊装置もご用意しております。標準の照射部品はチタン製です。ご要望に応じて他の材料（例：石英ガラス）もご利用いただけます。部品交換は1分以内に完了します。

複雑な用途に対応する独自の測定技術

アントンパール独自のRheo-SANS/SAXSセットアップは、X線（シンクロトロン）または中性子（原子炉または破砕中性子源）用の特殊な光源を利用できる世界中の施設で使用されています。特別な設置条件（例：ビームライン内の限られたスペース）の場合には、特殊なレオメータタイプを提供することもできます。お客様の特定のニーズに合わせた個別の測定セットアップも、ご要望に応じて実装可能です。代表的な応用例としては、ポリマー溶液・融体・フィルムの特性評価、ライフサイエンス材料、コロイド中のナノスケール構造、せん断帯の形成、高分子の形状・サイズ、部分的に配列した材料、生理的条件下におけるタンパク質、反応速度などがあります。