重要な宇宙用途向けの高度な試験
CNESでは、エンジニアが宇宙システムの故障解析に取り組んでおり、材料のごくわずかな脆弱性でも重大な影響を及ぼしかねません。 ナノインデンテーションは、微小スケールでの機械的挙動を理解するうえで重要な役割を果たします。
1台で多様な試験に対応
アントンパールのナノインデンテーション試験機は、超低荷重試験、高荷重試験、スクラッチ試験を1台で実施できます。 この汎用性により、CNESは複数の旧型装置を置き換えるとともに、これまで実施できなかったスクラッチ試験も含めて試験範囲を拡大できました。
薄膜からバルク材料まで
最大30 Nの荷重容量により、より大きな材料体積を対象としたインデンテーション試験が可能です。 これにより、マイクロスケールとマクロスケールの特性差を埋め、より厚みのある微細組織まで従来以上に効果的に解析できます。
日常のラボ業務に適した使いやすい設計
環境外乱の影響を受けにくく、忙しいラボ環境でも必要なときにすぐ試験を開始できます。 直感的で安全な操作性により、熟練ユーザーから初心者まで、迅速に信頼性の高い結果を得られ、ラボ業務の効率と作業性が向上します。
