多功能自動化粉末 X 射線繞射儀：
XRDynamic 500
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- 開箱即用：業界頂尖的解析度與訊號雜訊比
- TruBeam™ 概念：更大範圍的繞射儀半徑與真空光束路徑
- 全自動化：X光光學系統與光束幾何切換
- 效率提升：儀器使用率提高高達 50%
- 極致便利：儀器與樣品自動校準
我們的 XRDynamic 500 X 光繞射儀，以卓越的效率帶來無可匹敵的 XRD 數據品質。享受多功能平台帶來的優勢，涵蓋粉末 XRD、非標準環境 XRD、PDF 分析、SAXS 等多種應用，並提供最佳化解決方案。藉由全自動光學系統與校準流程，無論新手或專家皆能快速取得高品質 XRD 數據，同時將錯誤降至最低。XRDynamic 500：Driving XRD。
主要功能
無與倫比的數據品質
XRDynamic 500 獨特的 TruBeam™ 概念結合了大範圍的繞射儀半徑、真空射束路徑，以及全自動的 X 光光學與射束幾何切換功能。TruBeam™ 技術確保數據品質優於傳統 X 光繞射儀。XRDynamic 500 在標準 Bragg-Brentano 配置下，提供業界頂尖的解析度（第一個 LaB₆ 標準峰全寬半高為 0.021°），同時具備卓越的訊號雜訊比，測量背景降低多達 50%，並將空氣散射干擾降至最低。儀器具備自動校準功能，確保最佳量測條件與可靠結果。
全自動：最高效率
XRDynamic 自動進樣器實現光學系統、射束幾何、樣品載台及樣品處理的全自動化，確保最高效率且不影響數據品質。採用業界標準樣品治具，最多可容納 105 個樣品，為高通量免人力操作的 XRD 測量樹立全新標竿。透憑藉快速接頭與自動校準功能，可迅速更換配置（甚至是 X 光管），讓儀器快速恢復運作。光學系統全面自動化—包括吸收片／濾片、射束遮罩、Soller 狹縫、發散狹縫、防散射狹縫及平行板準直器—讓使用者能瞬間切換量測配置，無需人工操作，即可測量不同樣品類型。在單一測量批次中，可使用多達三種射束幾何結構，所有鏡片與單色器皆安裝於自動化電動光學組件中。
自動化精準：便於日常操作
專利的光源傾角設計結合額外的傾斜軸，可針對任何 X 光光源，自動且精確地校準所有光學元件。透過自動校準所有 X 光鏡與平面單色器，使其達到最佳 X 光源出射角度，確保主射束強度最大化。所有樣品載台皆可輕鬆連接，實現快速設定切換；同時，光學元件與樣品載台皆具備自動識別功能，確保儀器始終維持正確配置。
XRDynamic 500 可滿足專家和新手的要求。得益於自動化功能，XRDdrive 控制軟體可依使用者需求提供多寡不一的操作細節，同時結合直觀的儀器控制與量測流程，實現無縫整合。所有非標準環境實驗所需的連接介面皆集中設置於繞射儀機殼內部。整合式非標準環境控制單元（CCU）選項，使操作與切換各種非標準環境附件更加便捷。
最高的靈活性：適用於每項應用
XRDynamic 500 將極致的量測彈性整合於單一 X 光繞射儀中。無論您進行反射式、穿透式或非標準環境研究，XRDynamic 500 均提供對應的樣品載台與樣品治具，滿足各種應用需求。透過多元靈活的儀器配置，滿足各類應用需求，並針對粉末 X 光繞射、非標準環境 X 光繞射、PDF 分析及 SAXS 提供最佳化解決方案。採用公司自製的高品質元件與尖端像素偵測技術，打造出頂級品質的儀器。
針對高通量應用，XRDynamic 自動進樣器獨特地支援最多 105 個各類樣品（包括塊狀材料、粉末、纖維、薄膜，甚至易受空氣影響的樣品）之無人值守分析，同時穩定確保最佳量測品質。
享有盛譽的專業知識
使用者可享有全球認證且合格的服務，以及專屬個人化支援，確保儀器最大運轉時間。我們不僅銷售儀器，更全程陪伴您走過產品的整個生命週期。我們的應用支援與專業建議，助您快速且有效地達成各項應用目標，取得有價值的成果。我們與您攜手，突破技術的極限。
規格
| X光源 | |
| 光源類型 | Primux 3000 |
| X-ray 產生器 | 高達 3 kW |
| 管電壓 / 電流 | 20 kV 至 60 kV / 2 mA 至 50 mA |
| 測角儀 | |
| 配置 | 垂直的 θ/θ 幾何學 |
| 測量半徑 | 360 或 400 mm |
| 最大可用角度範圍 | -95° 至 162.5° 2θ |
| 最小步長 | 0.0001° |
| 2θ 線性： | ≤0.01° |
| 最大角速度 | 15°/秒 |
| 最大角解析度 | 0.021°（第一個 LaB₆ 峰值的 FWHM） |
| 樣品載台和附件 | |
| 環境樣品載台 | 固定樣品載台 樣品旋轉載台（反射／穿透） XY 載台（含自動進樣器選項） XRDynamic 自動進樣器 毛細管旋轉載台 EVAC 模組 |
| 非環境套件 | HTK 1200N HTK 16N/2000N HTK 1500 TTK 600 XRK 900 CHC plus⁺ BTS 150/500 |
| 偵測器 | 固態混合像素偵測器：
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| 軟體 |
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| 一般規格 | |
| 外觀尺寸（寬 x 長 x 高） | 1350 mm x 1160 mm x 1850 mm |
| 重量（不包括配件） | 750 kg |
| 電源 | 3 相：3/N/PE AC 400/230 V；50…60 Hz；25 A 1 相：208…240 VAC；50…60 Hz；36 A |
| 最大功率消耗 （不含選配設備之額外控制器） | 5.5 kW |
| 冷卻水供應 | 流速：>3.6 L/min； 壓力：4.5 – 6 bar；溫度：<25 °C |
標準
CFR
文件
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E-Book - 藥物粉體特性分析指南 應用報告
互補產品
如果沒有找到您需要的物品，請聯繫您的安東帕銷售代表。
XRDynamic 500 配件：
自動進樣器 XY 平台
- 自動進樣 3 、6 、12 或 48 個樣品
- 支援各種樣品類型，例如粉末、固體、纖維、薄膜
- 實現反射式和穿透式測試
- 完全整合、全自動操作可避免錯誤
XRDynamic 500 配件：
自動進樣器 XRDynamic 自動進樣器
- 自動進樣最多 105 個樣品
- 支援各種樣品類型，例如粉末、固體、纖維、薄膜
- 提供穩定且高品質的數據結果。
- 完全整合、全自動操作可避免錯誤
HEATING STRIP PLATINUM 102x10x1 mm
Heating strip made of pure platinum with thickness 1 mm. Strip delivered with welded Pt-10%RhPt thermocouple.
HEATING STRIP PLATINUM 102x10x0.5 mm
Heating strip made of pure platinum with thickness 0.5 mm. Strip delivered with welded Pt-10%RhPt thermocouple.
REFLECTION SAMPLE HOLDERS FOR XY-6 STAGE (1 SD, 3 pcs)
Set of 3 front loading sample holders for XRD studies in reflection geometry with the XY stage for 6 samples (20 mm inner diameter, 1 mm sample depth, made of stainless steel).
REFLECTION SAMPLE HOLDERS FOR XY-12 STAGE (2.5 SD, 6 pcs)
Set of 6 front loading sample holders for XRD studies in reflection geometry with the XY stage for 12 samples (20 mm inner diameter, 2.5 mm sample depth, made of stainless steel).
REFLECTION SAMPLE HOLDERS FOR XY-12 STAGE (1 SD, 6 pcs)
Set of 6 front loading sample holders for XRD studies in reflection geometry with the XY stage for 12 samples (20 mm inner diameter, 1 mm sample depth, made of stainless steel).
SPARE PARTS PASTECELL (300 °C)
Spare parts for the Pastecell, including:
- 2 Pcs. O-ring sets
- 10 Pcs. windows for < 300 °C
SAMPLE CARRIER FLAT MADE OF PLATINUM FOR HTK OVEN CHAMBER
Spare sample carrier without cavity made of Platinum.
SAMPLE CARRIER 0.8mm DEEP MADE OF PLATINUM FOR HTK OVEN CHAMBER
Spare sample carrier with a cavity of 0.8 mm depth made of Platinum.
- 25 °C 至 1,500°C 的「真正」環境加熱器
- 為您的實驗提供最高的溫度精確度
- 快速從反射測量轉換為透射測量
- 在不同氣體環境中進行測量
- 完美補足 XRDynamic 500 多功能繞射儀
SPARE PARTS XRDynamic 500
Spare parts for XRDynamic 500, including:
- set of O-rings
- set of window foils for primary and secondary optics units
- Vacuum grease
密封管 X-ray 源：
Primux 3000
- 用於先進 X-ray 分析的強大 X-ray 源
- 提供多種陽極材料
- 簡單更換 X-ray 管或改變管聚焦
- 高強度多層 X-Ray 光學元件
- 每個波長的平行和聚焦光束光學元件
- 使用主要單色器的最大 Kβ 抑制
- 採用最新的 CERN 像素偵測器技術，具有先進的降噪功能
- 在 0D 或 1D 模式下測量，可選擇感測器材料
- 最小的像素尺寸 (55 µm x 55 µm)，具有出色的解析度
- 能量過濾器可進一步最大限度地減少測量背景值
XRDynamic 500 配件：
XRD 樣品治具與樣品載台
- 多功能樣品載台，適用於各種應用需求
- 適用於 operando 電池測量的樣品載台
- 多款 XRD 樣品治具，適用於各種樣品類型
- 元件識別與自動校準
用於高解析度 SAXS 和 XRD 的真空室：
EVAC 模組
- 由於完全真空的光束路徑，可達到無敵的訊噪比
- 用於測量的專用 SAXS 光學元件，具有獨立 SAXS 儀器的品質
- 適用於反射或透射中的高解析度 XRD 研究
- 測量不受 2θ 範圍的任何限制
XRD 軟體：
XRDanalysis
- 用於粉末繞射分析的多功能軟體套件
- 搜尋/配對功能，用於快速準確的相識別
- 使用配對或手動載入的相進行 Rietveld 分析
- 最佳化的分析工作流程，包括批量分析，以加快和簡化您的分析任務
高溫帶狀加熱室：
HTK 16N | HTK 2000N
- 支持高達 1,600 °C 或 2,300 °C 的原位 XRD 研究
- 最小化樣本位移，穩定加熱絲定位
- 透過雙熱電偶實現精確的溫度控制，並保持最小的梯度
- 耐用設計，採用高級材料，樣本更換快速便捷
- 專利的緊湊設計，針對桌面型 XRD 應用進行優化
- 溫度控制範圍：-10 °C 至 +150 °C（BTS 150）和高達 500 °C（BTS 500）
- 快速、準確的溫度控制，感應器靠近樣本
- 簡單的樣本處理、對齊和通過 USB 的遠程控制
