建议的结果

颗粒表征分析

粒度分析的新领域

您对颗粒越了解,就越能预测材料的性能。为进行这些研究,您需要测量的参数包括粒径、孔径、颗粒形状、内部结构、zeta 电位、表面积、反应面积、密度、粉体流动等。安东帕提供的仪器产品能够完成上述所有测量和其他测量——可以说是单一全球供应商能够提供的最广泛的颗粒特性分析产品组合。充分利用众多产品选择以及在该领域长达十年的专业优势——只需联系安东帕。

应用、参数、技术:找到最适合您需要的仪器!

在适合不同用途的特殊应用以及可测量的所有参数概览之间切换,后者也展现了颗粒表征分析中使用的技术。

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金属粉体流变特性分析

金属粉体用于各种粉末冶金作业,如添加剂制造。要始终保证较高的产品质量,粉体的特性至关重要。使用粉体流变测量、动态光散射、BET 和密度测量等典型粉体分析方法。

下载应用报告,以便了解如何使用这些互补方法来测定流动特性、孔隙度、压缩系数、填集密度、粒径分布等。通过使用一组支持这些测量方法的仪器对金属粉体进行流变特性分析,可以保证生产流程顺畅,烧结制品稳定,并了解过去生产的多余金属粉体是否仍然可用。

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研究食品的特性

食品中的颗粒尺寸不仅影响生产过程的方方面面,如运输、储存或保质期,而且对感官特性,如味觉和口感具有至关重要的影响。

PSA 颗粒粒度分析仪能够测量液体和干燥分散体,并具有纳米到毫米的宽测量范围,因此非常适合食品工业的生产和质量控制应用。

下载应用报告,了解应用激光衍射技术对食品进行特性表征的优势。

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从细胞培养基中分离出来的外来体特性分析

外来体可以作为药物输送系统早已获得确认。本应用报告演示了 Litesizer™ 500 如何高效表征外来体颗粒尺寸,以及此标准如何用于监测体外外来体的稳定性。还可执行 Zeta 电位测量,从而提供有关外来体生物功能的潜在有用信息。

下载应用报告,阅读外来体特性分析。

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更快、更灵敏的 zeta 电位测量

迄今为止,尖端 zeta 电位测量技术是所谓的相位分析光散射 (PALS),其基于电泳光散射 (ELS)。本应用报告展示了称为 cmPALS 的新专利技术,该技术可大幅缩短测量时间,降低应用电场,因此可充满自信地分析敏感样品。

下载应用报告,了解有关具有更高灵敏度和稳定性的 ELS 测量的信息。

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点击参数了解安东帕在特定的颗粒特性分析领域提供哪些技术。也可以利用表中的筛选器来着重搜索某项特定技术,并获取不同测量范围的相关信息。

点击仪器,就能看到该仪器的详细特性和规格。

孔径
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粒径
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比表面积
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样品制备
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密度
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反应面积
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蒸汽吸收
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通孔孔隙度
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测量
技术
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测量

技术

分散类型

测量范围
表面积范围 气体吸附 (BET)、动态流动法 BET 分析 可测量的最小比表面积
0.1 m²/g
比表面积范围/孔径范围 气体吸附 比表面积、孔径
2 nm 至 500 nm(使用氮气或氩气)
0.35 nm 至 2 nm(使用二氧化碳分析碳材料)
可测量的最小表面积
0.1 m²/g
表面积、孔径 气体吸附(物理吸附、化学吸附) 干燥 孔径范围
0.35 nm 至 500 nm
可测量的最小表面积
0.0005 m²/g 以上(使用氪气)、0.01m²/g 以上(使用氮气)
密度 整体密度 干燥 体积范围
1 cc
反应面积 气体吸附(化学吸附) 干燥
样品制备 真空、流动脱气 干燥
储气量 高压、气体吸附 干燥
粒径 动态光散射 液体 粒径范围
0.3 nm 到 10 µm
粒径、Zeta 电位 动态光散射、电泳光散射 (ELS)、静态光散射 (SLS) 液体 粒径范围
0.3 nm 到 10 µm
样品制备 真空、流动脱气 干燥
粉体流动性 多种粉体流变测量方法 干态/液体 粒径范围
5 nm - 5 mm
粉体流动性、密度 剪切测试 干态/液体
密度 气体容积法 体积范围
0.025 cc
样品制备 代表性抽样 干燥 体积范围
20 cc
表面积、孔径 气体吸附 干燥 孔径范围
0.35 nm 至 500 nm/2 nm 至 500 nm(使用氮气或氩气)
0.35 nm 至 2 nm(使用碳上的二氧化碳)
可测量的最小表面积
0.01 m²/g
通孔孔隙度 气体容积法 干燥 体积范围
1 cc
密度 气体容积法 干燥 体积范围
1 cc
孔径 孔隙度测定法 干燥 体积范围
0.05 cc
孔径范围
1100 µm 至 0.0064 µm
粒径 激光衍射 干态/液体 粒径范围
0.1 μm(干)/0.04 μm(湿)至 500 μm
粒径 激光衍射 干态/液体 粒径范围
0.1 μm(干)/0.04 μm(湿)至 2500 μm
粒径 激光衍射 干态/液体 粒径范围
0.3 μm(干)/0.2 μm(湿)至 500 μm
表面积、孔径 气体吸附 干燥 孔径范围
0.35 nm 至 500 nm
0.35 nm 至 2 nm(使用碳上的二氧化碳)
可测量的最小表面积
0.01 m²/g;0.0005 m²/g
粒径、颗粒形状和内部结构 SAXS、WAXS、GISAXS 干态/液体 粒径范围/孔径范围
ltthan1 nm - 105 nm(q 值范围 (Cu K-alpha):0.03 nm⁻¹ - 41 nm⁻¹)
粒径、颗粒形状和内部结构 SAXS、WAXS、GISAXS 干态/液体 粒径范围/孔径范围
ltthan1 nm - 160 nm(q 范围 (Cu K-alpha):0.02 nm⁻¹ - 41 nm⁻¹)
通孔孔隙度 气体容积法 干燥 体积范围
1 cc
密度 气体容量法 干燥 体积范围
1 cc
蒸汽吸收 蒸汽吸附 干燥
样品制备 真空脱气 干燥

安东帕颗粒特性分析解决方案

颗粒粒度分析仪

颗粒可能非常复杂,但颗粒分析不一定复杂。Litesizer 和 PSA 系列可一键实现粒度测量,另外还可以提供其他功能:

  • Litesizer 系列:动态光散射可在纳米到微米范围内进行颗粒粒度分析,包括 zeta 电位、分子量、透光率和折光率测量
  • PSA 系列:激光衍射可用于细微至毫米范围的液体和干燥分散体的粒度分析
  • 专用附件可利用自动样品转移等技术对有机溶液中的少量样品进行测量。
  • 聚焦颗粒:Kalliope 软件可为这两款仪器提供服务,将操作员工作难度降至最低

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真正的粉体流变测量

两种真正的粉体流变测量样品池(粉体流化态测量池粉体剪切池)与 MCR 流变仪相结合,可帮助您真正地表征和了解粉体的特性:

  • 以具有出色精度的著名 MCR 流变仪进行粉体分析
  • 样品制备模式和全自动测量实现高再现性
  • 用于质量控制和科学研究目的的多种测量模式
  • 唯一可进行温度和湿度控制的粉体剪切池

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吸附分析仪

在吸附分析过程中,关键在于结合智能仪器设计和先进的计算数据分析模型:

  • 全面的产品线,适用于蒸汽吸附、物理吸附、化学吸附和高压吸附
  • 全自动系统,具有多站分析和样品制备选项
  • 非常适合分析催化剂、药物、电池材料、吸附剂和所有其它多孔材料的孔径、表面积以及气/固体相互作用
  • 世界知名的数据分析模型和快速测量报告,适用于传统材料和复杂的新材料

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压汞仪

用于确定大孔材料孔隙率的最常用方法:

  • 专为提供最安全的操作体验而设计,处理汞时同样安全
  • 简化的液态汞引入和自动油净化等特性,使 PoreMaster 成为最易使用的压汞仪
  • 通过螺杆驱动控制与智能化自动增压程序,可以实现卓越的高精度高压数据测量
  • 液态汞填充、低压测量以及高压测量通常可在 30 分钟内完成

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固体密度分析仪

从单一来源获取所有固体密度值——具备最高准确度:

  • 一套仪器组合,涵盖真实/骨架密度、堆密度和几何密度的测量
  • 一流:最准确的结果,最广泛的测量范围
  • 安全、经济:无需液态汞即可测量几何密度
  • 非破坏性气体容量法:处理惰性和纯净气体

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SAXS 系统

SAXSpace 和 SAXSpoint 2.0 小角度 X 射线散射系统为纳米粒子研究提供了出色的分辨率和最佳数据质量:

  • 卓越的 X 射线源和光学元件,提供最高光谱纯度和通量
  • 无散射光束准直以及先进的混合光子计数 (HPC) 检测器,提供高信噪比和极佳的总体数据质量
  • 广泛的样品台可在受控温度和环境下进行颗粒特性分析
  • 操作可靠,正常运行时间长,样品通量高,维护成本低

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从点滴做起的专家

安东帕的仪器产品组合与其颗粒特性分析产品组合一样广泛,许多仪器都有一个 共同点:它们是同类仪器中的首款产品,且目前仍是各自领域的旗舰产品。例如,早在 1967 年就已发明的 PSA 是首款使用激光衍射技术的粒径 分析仪。安东帕制造了首款由 Otto Kratky 于 1957 年开发的商用小角度 X 射线散射(SAXS)摄像头。如今,安东帕的 SAXS 系统仍是 此项技术的基准。Quantachrome Instruments 是安东帕的一个品牌, 从 1968 年就开始迈向技术高峰。从那以后,科学家专业团队开发出各种 与用户紧密相联的创新成果,不断推出适用于多孔材料和粉末测量的 最佳解决方案。

利用安东帕的颗粒特性分析专业知识进行颗粒研究和材料研发。

除了各种各样的专用仪器,安东帕还提供广泛的应用咨询服务和应用信息。通过应用报告、安东帕维基百科安东帕博客和研讨会,您可以深入了解有关颗粒特性分析的话题,例如: 

利用这些资源和我们长期积累的颗粒特性分析专业知识探索新的应用领域,并在生产、质量控制和产品开发方面取得最佳成果。当然,您也可以直接与我们联系,咨询仪器和应用相关的任何问题。

联系我们

在安东帕技术中心获得实践操作体验。

您是喜欢去实地观察仪器的操作人员吗?看看我们的技术中心是否拥有您期望得到的仪器,或您所在地区是否计划开设颗粒特性分析研讨会。

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