GISAXS Ünitesi 2.0
-
-
-
- +3
- Nano yapılı yüzeylerin ve ince film örneklerinin incelenmesi
- Küçük gözenekli ince filmler, yüzeyde biriken nano parçacıklar, oksit yüzeylerinde metal birikintileri, yumuşak madde sistemleri ve yüzeylere tutturulmuş biyolojik malzemeler için ideal
- Örnekler yatırılıp döndürülebilir
GISAXS ölçümleriyle, büyük örnek alanı için temsili nano yapısal yüzey bilgisinden faydalanırsınız. GISAXS hemen hemen hiçbir örnek hazırlığına ihtiyaç duymaz, ayrıca ölçümler vakum altında ve kontrollü ortamda (hava, inert gaz ile) yapılabilir. Anton Paar GISAXS Ünitesi 2.0, yüksek hassasiyetli motorlu bir ünitedir. Örnekler tilt edilebilir ve döndürülebilir, ayrıca -150°C ila 500°C sıcaklık aralığında ölçümlerinizi gerçekleştirebilirsiniz.
Önemli özellikler
Motorlu GISAXS Ünitesi 2.0 ile hızlı ve hassas grazing-incidence çalışmaları
Anton Paar SAXS sistemleri SAXSpoint 5.0 ve SAXSpace, GISAXS/GIWAXS/GIXD (Grazing-incidence SAXS/WAXS/difraksiyon) çalışmaları için yüksek çözünürlüklü GISAXS Ünitesi 2.0 ile kolayca donatılabilir. Tam olarak X, Y, Z yönünde konumlandırılabilir. Örnekler, entegre döndürücü ile ekseni etrafında ve 0,001°'lik bir dönüş tekrarlanabilirliği ile döndürülebilir.
Anton Paar’ın GISAXS ünitesi 2.0, gözenekli ince filmler, yüzeyde biriken nano parçacıklar, oksit yüzeylerinde metal birikintileri ve polimer/blok kopolimer ince filmler gibi yumuşak madde örneklerini ve yüzeylere tutturulmuş biyolojik malzemeleri karakterize etmek için mükemmel bir ortamdır.
GISAXS Isıtma Modülü 2.0 ile ölçüm kapasitelerini artırma
GISAXS Ünitesi 2.0, GISAXS Isıtma Modülü 2.0 ile donatılmışsa, 500°C'ye kadar olan sıcaklıklar için kullanımı uygundur. Modül, örneğin üzerinde bir yuvalama oluşturur ve böylece ilgili örneği, hava veya inert gaz gibi ortam ve ortam dışı koşullar altında ve ayrıca vakum altında ölçmenizi sağlar.
-150°C'ye kadar düşük sıcaklıklı GISAXS deneyleri
GISAXS 2.0 için Isıtma/Soğutma Modülü -150°C ile 350°C arasında ölçümler sağlar. Modül, GISAXS Ünitesi 2.0'a kolayca monte edilir ve örnek yüzeyinde mükemmel bir sıcaklık homojenliği sağlar, böylece optimal GISAXS/GIWAXS çalışmaları yapabilirsiniz. SAXS sistemi, örnek haznesini sisteme takıldığı anda otomatik olarak tanımaktadır.
Teknik özellikler
| Sıcaklık aralığı | -150 °C ila 500 °C |
| Sıcaklık doğruluğu | +/-0,1 °C |
| Örnek boyutu | 100 mm x 100 mm'ye kadar |
| Örnek eğme | -4° ila +5,6° |
| Örnek döndürme ( ekseni) | 0° ila 345° |
En son gelişmeler, seçenekler ve özelleştirilmiş çözümler hakkında ek bilgi için doğrudan bizimle iletişime geçin.
Anton Paar Onaylı Hizmet
- Dünya çapında 350'den fazla üretici onaylı teknik uzman
- Yerel dilinizde nitelikli destek
- Yatırımınız için yaşam döngüsü boyunca koruma
- 3 yıl garanti
Belgeler
-
SAXS Sample stages and holders Broşürler
-
GISAXS as a Valuable Tool for Analyzing Nanostructured Semiconductors Uygulama Raporları
