Estágio GISAXS 2.0
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Com as medições GISAXS, você se beneficiará das informações de superfície nano-estrutural representativa para uma área de amostragem ampla. A GISAXS praticamente não precisa de preparação antecipada de amostra e a medição pode ser realizada em vácuo ou em atmosfera controlada (ar, gás inerte). A Estação GISAXS 2.0 é uma estação motorizada de alta precisão. As amostras podem ser inclinadas e giradas, e podem também ser estudadas em um intervalo de temperatura de -150 °C até 500 °C.
Principais recursos
Estudos de incidência de raspagem rápidos e precisos com a Estação GISAXS 2.0 motorizada
Os sistemas SAXS, SAXSpoint 5.0 e SAXSpace, da Anton Paar, pode ser facilmente equipada com a Estação GISAXS 2.0 de alta resolução para estudos de GISAXS/GIWAXS/GIXD (incidência de raspagem SAXS/WAXS/difração). Amostras podem ser posicionadas com precisão na direção X, Y, Z. As amostras podem ser inclinadas e giradas com o rotor integrado sobre o eixo com repetibilidade de rotação de 0,001°.
A estação GISAXS 2.0 da Anton Paar é o ambiente perfeito para caracterizar, por exemplo, películas finas mesoporosas, nanopartículas depositadas na superfície, depósitos metálicos sobre superfícies de óxido, e sistemas de gel como películas finas de polímeros/blocos de copolímero e materiais biológicos acoplados a superfícies.
Expandindo as capacidades de medição com o Módulo de Aquecimento GISAXS 2.0
A Estação GISAXS 2.0 pode ser usadas para temperaturas até 500 °C se estiver equipada com o Módulo de Aquecimento GISAXS 2.0. O módulo constrói uma carcaça sobre a amostra e permite medir a respectiva amostra em condições ambientes e não ambientes, como ar ou gás inerte, além de vácuo.
Experimentos de baixa temperatura com GISAXS até -150 °C
O Módulo Cryo/Aquecido para o GISAXS 2.0 permite medições no intervalo de -150 °C a 350 °C. O módulo é facilmente instalado na Estação GISAXS 2.0 e garante homogeneidade excelente de temperatura na superfície de amostra, para realização de estudos ideais de GISAXS/GIWAXS. O dispositivo SAXS automaticamente reconhece a estação de amostra assim que esta for ligada.
Especificações técnicas
| Faixa de temperatura | de -150 °C a 500 °C |
| Precisão da temperatura | +/-0,1 °C |
| Tamanho da amostra | até 100 mm x 100 mm |
| Inclinação de Amostra | -4° a +5,6° |
| Rotação de Amostra (eixo ) | 0° a 345° |
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Documentos
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SAXS Sample stages and holders Catálogos
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GISAXS as a Valuable Tool for Analyzing Nanostructured Semiconductors Relatórios de Aplicação
