利用 GISAXS 測量，可以從大樣本面積中獲得具代表性的奈米結構表面資訊。GISAXS 幾乎不需要預先製備樣本，測量可以在真空中進行，也可以在受控環境 (空氣、惰性氣體) 下進行。安東帕 GISAXS 樣本台 2.0 是高精確度的自動化平台。樣本可以傾斜和旋轉，也可以在 -150 °C 到 500 °C 的溫度範圍內進行研究。
主要功能
自動化 GISAXS 樣本台 2.0 能進行快速且精確的低掠角研究。
安東帕的 SAXS 系統、SAXSpoint 5.0 和 SAXSpace 可以輕鬆地配備高解析度的 GISAXS 樣本台 2.0，樣本台適用於 GISAXS/GIWAXS/GIXD (低掠角 SAXS/WAXS/繞射) 研究。可在 X、Y、Z 方向上精確定位。可以使用整合的 旋轉器使樣本傾斜並繞 軸旋轉，具備 0.001° 的旋轉可重複性。
安東帕的 GISAXS 樣本台 2.0 是特性分析下列材料的理想環境，包括中孔薄膜材料、表面沉積的奈米粒子、氧化物表面的金屬沉積，以及軟物質系統 (例如聚合物/嵌段共聚物薄膜和附著在表面的生物材料等)。
借助 GISAXS 加熱模組 2.0 擴充測量功能
如果 GISAXS 樣本台 2.0 配備 GISAXS 加熱模組 2.0，則能夠用於溫度高達 500 °C 的環境。此模組在樣本上方設置一個外殼，因此能夠在環境、非環境條件下 (例如空氣或惰性氣體) 以及真空下測量相應的樣品。
低溫 GISAXS 實驗溫度可低至 -150 ℃
GISAXS 2.0 的加熱/冷卻模組可以在 -150 °C 到 350 °C 範圍內進行測量。此模組能輕鬆安裝在 GISAXS 樣本台 2.0，並確保樣本表面的溫度均勻性，進而執行最佳的 GISAXS/GIWAXS 研究。插入樣本台後，SAXS 裝置會自動識別樣本台。
技術規格
| 溫度範圍 | -150 °C 到 500 °C |
| 溫度準確度 | +/-0.1 °C |
| 樣本尺寸 | 最大 100 mm x 100 mm |
| 樣本傾斜 | -4° 到 +5.6° |
| 樣本旋轉 ( 軸) | 0° 到 345° |
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