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Platines GISAXS

Chaque échantillon est une star et mérite la meilleure platine d'échantillonnage possible pour une analyse SWAXS de haute qualité.

La platine GI-SAXS unique en son genre permet de réaliser des études (GI) SAXS sous incidence rasante sur des surfaces nanostructurées.

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Principales caractéristiques

GI-SAXS studies of nanostructured surfaces

  • Investigate nanostructured surfaces and thin-film samples using grazing-incidence (GI) small-angle X-ray scattering - at elevated temperatures and under controlled atmosphere.
  • Sample positioning with highest precision ensure high-quality results.

Spécifications techniques

Précision de l'inclinaison  ≤ 0.001°
Températurejusqu'à +500 °C
Taille des échantillons
jusqu'à 100 x 100 mm²
Précision de température +/- 0,1 °C